SEIKA飛針測試儀Hioki 

通過電阻測試評估焊盤和引線之間的焊點(diǎn)

40 步/秒測量速率

AOI 功能可檢查組件的存在、極性和位移

軟著陸探頭可防止電路板和組件損壞

最小探測間距：0.15mm

快速無夾具設(shè)置

可選的基于 Gerber 數(shù)據(jù)的編程

用戶友好的 Windows® 10 操作

飛針測試儀的優(yōu)點(diǎn)

請放心，使用 Hioki 的 FA1240 飛針測試儀，表面貼裝技術(shù)板組件的在線測試可以快速高效。FA1240 測試儀具有傳

統(tǒng)測試設(shè)備所不具備的多種優(yōu)勢。其中一些好處包括用于快速設(shè)置的無夾具檢查，以及熟練測試錯(cuò)位的組件、故障組

件和接觸不良。通過Hioki電阻測試方法，焊點(diǎn)完整性測試能夠快速評估焊點(diǎn)，同時(shí)通過使用Hioki的軟

著陸功能防止電路板和組件損壞。Hioki 的四端子測量功能是我們的競爭對手所不具備的，可以檢測不合格和高質(zhì)量

焊接之間的微小差異。標(biāo)準(zhǔn)的自動(dòng)光學(xué)檢測功能比簡單的目視檢查更可靠，可以分析組件的位移、存在和極性。

Hioki 的飛針機(jī)測試可以以每秒 40 步的速度快速執(zhí)行，探測間距為 0.15 毫米。

主要特點(diǎn)

超高速測量

高達(dá)每秒 40 步的測量速率有助于縮短節(jié)拍時(shí)間，實(shí)際上可用于全自動(dòng)生產(chǎn)線，避免瓶頸。這確實(shí)是Hioki飛針測

試儀的優(yōu)勢。

細(xì)間距檢測

準(zhǔn)確、一致地測試，引線間距低至 0.15 mm。這樣可以檢測基于夾具的測試儀無法可靠執(zhí)行的細(xì)間距組件。

輔助視力檢查

使用 Hioki 的標(biāo)準(zhǔn)視覺功能補(bǔ)充整體檢測策略，允許檢查組件存在/不存在，以及極性和位移確認(rèn)。

SEIKA飛針測試儀Hioki