上海秉銘位移傳感器巴魯夫BTL系列現貨BTL7-E570-M0200-K-K02微位移測量技術是目前精密加工技術、精密裝配工藝以及微觀尺度觀測的先決條件,其發展水平反映了一個國家的工業實力及技術水平。當前,微/納米位移測量技術的快速發展推動了數控制造、航空航天以及軍工裝備等高科技領域的飛速發展。光學位移檢測作為目前主流的納米位移檢測技術之一,以高精度、高分辨率以及抗電磁干擾等優點受到了各國研究人員的廣泛關注,并且各研究機構和高校在提升精度和提高分辨率方面做出了巨大的努力。利用光柵作為分光元器件,通過改進現有單層衍射光柵位移傳感器的光路結構,使輸出光強由單路正弦信號擴展為四路正交正弦輸出,同時對細分插值電路提升傳感器分辨率展開研究。首先,通過梳理分析對比目前主流光柵位移測量技術的優缺點,分析目前主流光柵位移傳感器設計思路,結合單層衍射光柵位移傳感器量程較小的問題,提出解決量單層衍射光柵位移傳感器程較小的改進方案。通過利用偏振相移的方法實現四路正交正弦信號輸出,提高傳感器量程范圍的同時可以利用目前較為普遍的細分插值方法實現位移分辨率的提升。然后,利用Simulink對反正切細分插值算法進行建模仿真,分析了如何利用反正切算法來提升傳感器的線性度和量程。同時,由于輸出信號中不可避免的存在幅值誤差、偏置誤差以及相位誤差,針對輸出信號中存在各種誤差導致的反正切細分插值誤差進行了定量分析。后,通過設計偏置調理電路、相位調理電路、幅值調理電路實現輸出信號的誤差調節。利用細分插值芯片進行了反正切算法實驗驗證,利用信號發生器輸出標準正余弦信號,可實現10000倍插值細分。終,通過光路搭建以及對光路輸出信號的細分插值,實現量程擴展的同時可實現2.54nm的位移分辨率。

上海秉銘位移傳感器巴魯夫BTL系列現貨BTL7-E570-M0200-K-K02測量系統,要求實現對不同彈型的定心部、彈帶部等徑向尺寸的自動精密測量。針對目前測量方法無法解決量程、效率與精度之間的矛盾,采用基恩士光電檢測系統、光柵位移傳感器、光電開關與反饋比例控制技術相結合,實現直徑為10～250 mm不同彈型、不同部位的彈丸徑向尺寸自動測量。對設備進行現場測試,通過標準量具進行測試結果比對,測量精度小于0.02 mm,設備的測量精度和測量速度滿足靶場測控指標要求。 速率傳感器校準裝置,該裝置采用上位機控制器系統、伺服系統和金屬光柵編碼器系統等,通過PID控制策略實現位移的雙閉環控制,同時實現恒速位移、位移保持等控制功能,代替了手動操作的工作,對于傳感器在1m以內移動端的位移和速率的校準,提高了測量精度和工作效率。經過實驗驗證,該校準裝置可以滿足基本誤差為2%以內的各類線位移傳感器的自動校準工作,達到測量的可重復性、復現性和可溯源的目的。 

BNP 29-06-L12-100
BTL5-E50-M0178-J-DEXC-TA12
BTL5-E50-M0457-J-DEXC-TA12
BNP 23-04-R12-100-04
BDN C-R04-FN-AAN-01-020M
BTL5-E50-M0152-J-M01-TA
BTL5-E57-M1067-J-DEXC-TA12
BTL5-S132-M0077-W-KA10
BTL5-E50-M1168-J-DEXC-TA12
BIS L-103-05/L-SA1
BTL5-P5-M0560-J-DEXC-TA12
BNP 29-05-R12-100
BTL5-E50-M2261-J-DEXC-TA12
BTL5-Q5031-M0203-P-S140
BTL5-M5-M1168-J-DEXC-TA12
BTL5-A51-M0533-J-DEXC-TA12
BNP 29-04-D16-100
BTL5-E50-M0600-J-DEXC-TA12
BTL5-E50-M1651-J-DEXC-TA12
BKS-S135M-15
BES 04.0-KB-8
BTL5-E50-M0445-J-M01-TA
BTL5-E50-M0445-J-DEXC-TA12
BTL5-E57-M0597-J-DEXC-TA12
BNP 23-06-L12-61-A-06
BTL5-E50-M0090-J-DEXC-TA12
BTL5-E50-M0902-J-DEXC-TA12
BTL5-E57-M0900-J-DEXC-TA12