物鏡378-825-5三豐Mitutoyo顯微鏡378-863-5

用于明場的近紅外校正物鏡

M Plan Apo NIR / M Plan Apo NIR HR

VMU FS70

■特長

?用于無限遠校正、明場觀察及激光加工

?長工作距離?計劃?阿波羅規格

?從可見區域（一般觀察波長范圍）到近紅外區域（波長～1800nm）進行了修正設計。

?NIR HR：高分辨率規格?分辨率提高約50%以上（標準型

上述規格欄的分辨率及物鏡單體的焦點深度是根據基準波長（λ＝0.55μm）計算出的值。

注）使用波長在1100nm以上時，玻璃分散的變化和折射率等測量會產生誤差，比可見光的焦點位置稍有偏差。

■特長

?用于無限遠校正、明場觀察及激光加工

?長工作距離?計劃?阿波羅規格

?符合YAG激光器的基本波、第二諧波的激光高透過率類型。從可見光區域的420nm到近紅外區域的1064nm進行了修正設計。

?在保持NIR系列20×、50×NA的狀態下，實現了25.5mm的超長動作距離，大大提高了操作性。

上述規格欄的分辨率及物鏡單體的焦點深度是根據基準波長（λ＝0.55μm）計算出的值。

注）使用波長在1100nm以上時，玻璃分散的變化和折射率等測量會產生誤差，比可見光的焦點位置稍有偏差。

物鏡378-825-5三豐Mitutoyo顯微鏡378-863-5

M Plan Apo NIR 100 ×              378-826-15                0.50                  12.0                     2                       0.6                                                                 1.1                                0.24                  0.05 × 0.06       335

M Plan Apo NIR HR

M Plan Apo NIR HR 50 ×            378-863-5                 0.65                  10.0                     4                       0.4                                                                  0.7                               0.48                  0.10 × 0.13       450

M Plan Apo NIR HR 100 ×          378-864-5                 0.70                  10.0                     2                       0.4                                                                  0.6                               0.24                  0.05 × 0.06       450