物鏡378-833-7三豐Mitutoyo顯微鏡378-834-7

無限遠校正

?用于明鏡觀察及暗場觀察

適用于被檢物表面的傷痕和凹凸等的觀察。

?長工作距離

?計劃?阿波羅規格

●上述規格欄的分辨率及物鏡單體的焦點深度是根據基準波長（λ＝0.55μm）計算出的值。

※1觀察反射率低的被檢物時，推薦使用1/4波長B和偏光裝置。注）動作距離縮短4mm。

無限遠校正

?用于明鏡觀察及暗場觀察

適用于被檢物表面的傷痕和凹凸等的觀察。

?超長工作距離（超長規格）

?計劃?阿波羅規格

上述規格欄的分辨率及物鏡單體的焦點深度是根據基準波長（λ＝0.55μm）計算出的值。

※1觀察反射率低的被檢物時，推薦使用1/4波長B和偏光裝置。注）動作距離縮短4mm。

物鏡378-833-7三豐Mitutoyo顯微鏡378-834-7

物鏡日本三豐Mitutoyo顯微鏡378-848-3鏡頭

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