 | KEWLAB-杭州秋籟科技有限公司 |
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HS-VIS-NIR-CL 高靈敏度光譜儀（近紅外靈敏型）
| 參考價 | 面議 |
具體成交價以合同協議為準
- 型號
- 品牌 KEWLAB/澳洲
- 廠商性質 生產商
- 所在地 杭州市
更新時間：2024-12-20 14:47:03瀏覽次數：1413
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產品簡介
| 價格區間 | 面議 | 儀器原理 | 濾光片型 |
|---|---|---|---|
| 儀器種類 | 在線 | 應用領域 | 綜合 |
HS-VIS-NIR-CL 高靈敏度光譜儀（近紅外靈敏型）配置了濱松面陣背照式CCD傳感器，具有出色的信噪比（SNR）性能800: 1，非常適合于弱光譜測量的應用。該系列提供紫外靈敏型和紅外靈敏型兩個版本。
HS-VIS-NIR-CL 高靈敏度光譜儀（近紅外靈敏型），搭載了濱松S11510面陣背照式CCD，提升了700-1100nm范圍內的靈敏度，尤其在800nm-1100nm的波段，非常適合拉曼和其它近紅外弱光譜的測量。
HS-VIS-NIR-CL的探測器響應范圍為200-1100nm，用戶可以選擇不同的光柵配置，得到不同的光學分辨率和光譜響應范圍，以滿足不同的應用需求。支持二次開發、觸發控制, 另外針對其它波段350-1050nm/550-750nm/650-850nm等，可以提供OEM定制。
特點
結構緊湊，便于攜帶與系統集成
交叉非對稱C-T光路結構，有效抑制雜散光
提升了700-1100nm范圍內的靈敏度
高靈敏響應，實現弱光探測
多種狹縫、透鏡、光柵可選，搭配靈活
USB通信，即插即用，高速傳輸
支持二次開發，支持OEM集成
應用
拉曼光譜測量
熒光光譜測量
水質和氣體監測
UV-VIS弱光譜測量
規格：
| 探測器 | 濱松S11510系列 面陣背照式CCD |
|---|---|
| 波長范圍 | 750-1100nm |
| 工作溫度 | 5℃ -35℃（推薦溫度25℃） |
| 像素 | 2048×64個像元，像元尺寸14µm×14µm |
| 狹縫 | 10μm |
| 光學分辨率 | ~0.35nm |
| 信噪比 | 800:1 |
| 線性度 | >99% |
| 雜散光 | ≤0.1% (400nm) |
| A/D | 16 bit |
| 積分時間 | 1ms - 10s |
| 動態范圍 | 50000：1（典型值） |
| 功耗 | 500mA，5VDC |
| 通信接口 | USB2.0，RS232 |
| 外觸發模式 | 軟件觸發，硬件觸發，同步觸發 |
| 光纖接口 | SMA905 |
| 電源 | USB 或 5VDC |
| 尺寸 | 165mm x 110mm x 38mm |
| 儀器重量 | 0.7 Kg |
| 微軟操作系統 | Win XP, Win7,Win8, Win10 |
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