美國泰克Tektronix誤碼率測試儀

BERTScope BSX 系列誤碼率測試儀引入了能夠支持第四代及以上新興標(biāo)準(zhǔn)的接收機測試平臺。通過增加強大的數(shù)據(jù)處理和內(nèi)置發(fā)射機均衡技術(shù)，BERTScope 支持基于協(xié)議的握手功能，并與被測器件 (DUT) 同步，包括交互式鏈路訓(xùn)練，支持32 Gb/s 的數(shù)據(jù)速率。BSX 系列縮短了調(diào)試物理層和鏈路訓(xùn)練問題所需的時間，為滿足各種標(biāo)準(zhǔn)提供了較快速的途徑。

歐盟客戶通知

本產(chǎn)品尚未更新以符合 RoHS 2 指令 2011/65 / EU 要求，且將不會發(fā)貨至歐盟。在 2017 年 7 月 22  日前，客戶可以通過歐盟市場的庫存購買產(chǎn)品直至庫存shou罄。泰克致力于為您提供所需的解決方案。請聯(lián)系您的當(dāng)?shù)劁N售代表以獲取進一步幫助，或確定是否有可用的替代產(chǎn)品。泰克將繼續(xù)為范圍內(nèi)仍享受質(zhì)保支持的產(chǎn)品提供服務(wù)。

主要性能指標(biāo)

• 高達 32 Gb/s 的碼型發(fā)生和誤碼分析功能
• 選配內(nèi)置 4 階發(fā)射機均衡功能，支持交互式鏈路訓(xùn)練
• 面向協(xié)議和面向位的多鏈碼型定序技術(shù)，增強型碼型/序列編輯器
• 激勵響應(yīng)反饋，用戶自定義檢測器碼型匹配
• 已獲zhuan利的誤碼定位分析技術(shù)（Error Location Analysis™ ），超越BER測量，分析關(guān)聯(lián)度和確定性錯誤碼型，深入了解誤碼根源
• 選配前向糾錯分析技術(shù)，根據(jù)測得誤碼位置碼型仿真FEC后誤碼率
• 集成眼圖和 BER 關(guān)聯(lián)功能，包括模板測試、抖動峰值、BER輪廓
• 選配抖動分離及定位 (Jitter Map) 系統(tǒng)，提供豐富的抖動解析 – 支持長碼型（如 PRBS-31）

主要特點

• 為接收機壓力測試、調(diào)試和*性測試提供單一解決方案
• 測試第三代和第四代標(biāo)準(zhǔn)，包括 PCIe、SAS 和 USB3.1 及各種自主開發(fā)的標(biāo)準(zhǔn)
• 超過 16 Gb/s 的 DUT 握手功能，滿足環(huán)回發(fā)起和自適應(yīng)鏈路訓(xùn)練的接收機測試要求，支持 PCIe 等主要標(biāo)準(zhǔn)
• 協(xié)議識別碼型發(fā)生和誤碼檢測，支持靈活的激勵響應(yīng)編程能力，調(diào)試握手問題。
• 前向糾錯(FEC)仿真選項，可以測量糾錯前和糾錯后BER，支持常用的Reed-Solomon FEC代碼。
• 為各種主要標(biāo)準(zhǔn)提供了校準(zhǔn)和測試自動化軟件

應(yīng)用

• 設(shè)計驗證，包括信號完整性、抖動和時序分析
• 測試高速串行系統(tǒng)、復(fù)雜設(shè)計的性能
• 設(shè)計/驗證高速 I/O 組件和系統(tǒng)，包括 DUT 握手
• 信號完整性分析 – 模板測試、峰值抖動、BER輪廓、抖動分離及定位（Jitter Map)和前向糾錯仿真

美國泰克Tektronix誤碼率測試儀

智能內(nèi)存排序

由于面向位的內(nèi)存排序模式和協(xié)議識別內(nèi)存排序模式，另外由于能夠根據(jù)用戶自定義檢測器碼型匹配情況推進排序器，BSX 系列允許用戶創(chuàng)建自己的基于協(xié)議的碼型和握手序列。

碼型內(nèi)存排序器

BSX系列內(nèi)存排序器可以靈活地間接接入碼型內(nèi)存。碼型內(nèi)存可以支持兩級循環(huán)嵌套，每個循環(huán)高達100萬次迭代。用戶可以通過多種手段控制與測試設(shè)備的握手。為進一步簡化編程，提高內(nèi)存效率，各個碼型段可以是大于128位的任意尺寸。內(nèi)存序列推進可以由軟件控制、外部信號或檢測器碼型匹配來控制、外部信號或檢測器碼型匹配來控制，用戶可以通過多種手段控制與測試設(shè)備的握手。

內(nèi)存排序器模式

為了能讓用戶更靈活、更簡便地創(chuàng)建和檢測碼型和序列，我們提供了兩種不同的排序器模式，兩種模式都支持上面介紹的環(huán)路和序列推進功能：

• 面向位的排序器模式。在面向位的模式下，從碼型內(nèi)存中把沒有刪減的位發(fā)送到發(fā)生器輸出，不使用協(xié)議處理。這相當(dāng)于傳統(tǒng) BERT 內(nèi)存碼型操作。
• 協(xié)議識別排序器模式。在協(xié)議識別模式下，碼型內(nèi)存字作為協(xié)議塊或符號組處理，而不是作為位處理。這些字從內(nèi)存中獲取，根據(jù)選擇的協(xié)議或編碼處理。視具體協(xié)議要求，面向協(xié)議的模式處理可以包括：
  • 把符號封裝到協(xié)議塊中
  • 符號編碼
  • 數(shù)據(jù)加擾
  • DC 均衡

  用戶可以以“自然”格式輸入內(nèi)存數(shù)據(jù)。注意，可以實現(xiàn)排序器狀態(tài)之間的跳轉(zhuǎn)，而不會出現(xiàn)數(shù)據(jù)“縫補”問題，因為排序器會保持加擾 /DC 均衡狀態(tài)。

檢測器碼型匹配

BSX 系列支持選配的用戶自定義檢測器碼型匹配功能，可以用來推進發(fā)生器排序器狀態(tài)。這種功能實現(xiàn)了靈活的激勵/響應(yīng)編程能力，支持調(diào)試協(xié)議和專有協(xié)議。與內(nèi)存排序器一樣，碼型匹配支持兩種模式：

• 面向位的匹配模式。面向位的模式包括 4 個通用檢測器碼型匹配裝置，能夠發(fā)現(xiàn)輸入的數(shù)據(jù)流中長度達 128 位的任意碼型，并提供位掩碼。如果匹配，排序器會進入下一種狀態(tài)。
• 協(xié)議識別匹配模式。協(xié)議識別模式包括 16 個檢測器碼型匹配要素，用于基于協(xié)議的碼型匹配。對于 PCIe Gen3/4 和 USB 3.1 Gen2，檢測器可以匹配整個解碼的碼組凈荷，并支持位/比特掩碼。對于 8b/10b 編碼，檢測器可以在碼組/符號解碼及掩碼后匹配多16 個 8 位符號。

協(xié)議塊/符號過濾

支持的協(xié)議植入了時鐘補償(跳躍)和碼組/符號過濾功能，獨立時鐘操作通常要求這些功能。檢測器中的協(xié)議過濾撥碼會在原始碼流與BER測量過濾后的碼流之間切換。

碼型排序器編輯器

BSX 系列引入了一種新的碼型編輯器，這種碼型編輯器能夠支持面向位的碼型和協(xié)議識別碼型，并支持碼型序列創(chuàng)建功能。

序列編輯器

在協(xié)議識別排序器模式中，編輯器將發(fā)生器碼型內(nèi)存中的符號協(xié)議消息轉(zhuǎn)換成協(xié)議特定數(shù)據(jù)塊（沒有任何變換）。隨后由協(xié)議特定內(nèi)存排序器處理這些數(shù)據(jù)塊。這簡化了復(fù)雜協(xié)議數(shù)據(jù)流的生成過程。

排序器

多域觀測

眼圖一直作為系統(tǒng)性能簡單、直觀的表現(xiàn)，但是很難和BER性能聯(lián)系起來，因為測試儀器從根本上有很大的差別。示波器測量的眼圖是由較少的測試樣本組成，不容易發(fā)現(xiàn)一些罕見偶發(fā)的事件。誤碼儀 (BERT) 能夠?qū)γ恳粋€比特計數(shù)，因此能夠提供基于很大量數(shù)據(jù)集樣本的測試，但是測試結(jié)果缺乏對信息的直觀的表征和故障排查。

BERTScope 結(jié)合兩者的優(yōu)勢，允許快速、簡單的觀測眼圖，并比傳統(tǒng)的眼圖測試樣本多至少多兩個數(shù)量級。可以按照上圖的例子中所示的那樣，通過簡單的移動 BERT 的采樣點，將光標(biāo)放在感興趣的地方，使用強大的誤碼分析能力，獲得更多更深入的信息。例如，檢查碼型對當(dāng)前上升沿影響的敏感程度。或者，使用一鍵式 BER Contour 測量，檢驗是否性能問題是有界的，或者可能會導(dǎo)致哪些故障。在每一個例子里，測試樣本碼型可以是 231-1 的偽隨機碼，可以幫助建立模型或者故障定位。

數(shù)據(jù)豐富的眼圖

正如前面所示，BERTScope在測量數(shù)據(jù)樣本深度方面與傳統(tǒng)的眼圖測試有著巨大的差異。這個差異意味著你能看到更加真實的情況，無論是什么樣的系統(tǒng)，更多低概率事件將會隨著每次長數(shù)據(jù)碼型運行而出現(xiàn)，不管是有隨機噪聲，還是從VCO引起的隨機抖動。通過一鍵式的BER輪廓、抖動峰值和Q-因子測試，能夠增加對系統(tǒng)更深層次的認(rèn)識，增加對設(shè)計的信心。

深度模板測試

由于能夠改變采樣深度，可以非常方便地在深測量與淺測量之間移動，前者可以更準(zhǔn)確地查看實際系統(tǒng)性能，后者則與采樣示波器配套使用。下面所示的測量來自光接收機的眼圖。通過把 BERTScope采樣深度設(shè)置成僅3000個波形，BERTScope在短短1秒鐘內(nèi)生成中間所示的圖形。測得的20%的模板余量與采樣示波器上進行的同一測量精確相關(guān)。下方圖形顯示了同一設(shè)備生成的眼圖，其使用*性廓線在1 x 10-6的BER下測得。這里的模板余量下降到17%。

眼圖測試樣本深度優(yōu)勢至少是模板測試的10倍。不像其他誤碼儀提供的“偽”模板測試那樣，BERTScope能對模板邊沿的每一個樣點進行采樣，包括在眼圖之上和之下的區(qū)域。不僅如此，每一個點都能看到之前從未看到過的深度。這意味著既是使用工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化模板或自定義模板持續(xù)測試幾秒，也能確保被測設(shè)備沒有隱藏的問題。

為行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)提供高精度的抖動測試

無論測試碼型的長短，靠推算得到抖動結(jié)果得方法是不能達到抖動測量精度的。BERTScope 能快速測量誤碼率水平為 1x10-9（高速信號可達 1x10-10），或者等待儀器直接測量到 1x10-12水平。對于這兩種測試方法，BERTScope 的一鍵式測量都嚴(yán)格符合 MJSQ 定義的抖動測試方法，并且 BERTScope 中內(nèi)部的 delay 控制是誤碼儀中的，可以確保抖動測試的精度。可使用內(nèi)置的抖動計算模型，包括 TJ（總抖動）、RJ（隨機抖動）、DJ（確定性 抖動），或者將測試數(shù)據(jù)輸出，進行自定義的抖動建模分析。

BSX 系列的低固有 RJ 可以同時滿足 802.3ba 的 VECP (垂直眼圖閉合代價)和 J2/J9 校準(zhǔn)，并提供所需的重要余量，全面檢定100G 以太網(wǎng)芯片。

靈活的時鐘模式

BERTScope非常有特色的時鐘產(chǎn)生路徑為現(xiàn)實世界中不斷涌現(xiàn)出的設(shè)備提供了靈活的測試方案。無論是電腦插卡還是硬盤，通常都需要提供子速率（sub-rate）系統(tǒng)時鐘，例如PCI Express中100MHz的時鐘。為了能使被測系統(tǒng)正常工作，需要提供差分的系統(tǒng)時鐘，而且時鐘的幅度、偏置各有不同；BERTScope內(nèi)部提供靈活的分頻系數(shù)，其靈活構(gòu)架可以完成各種時鐘的生成。

擴頻時鐘（SSC）通常用于串行系統(tǒng)中，以減小EMI的干擾。BERTScope可以調(diào)節(jié)的SSC的調(diào)制幅度、頻率和調(diào)制的輪廓，如三角波、正弦波等，因此允許測試任何一種使用SSC技術(shù)的*性標(biāo)準(zhǔn)。還可使用額外的調(diào)制器和信號源，在高達4 MHz的頻率上生成高幅度、低頻率的正弦抖動（SJ）的時鐘。

可編程的基準(zhǔn)時鐘倍頻器

為進一步增加時鐘輸入的靈活性，BSX 系列提供了一個通用基準(zhǔn)時鐘倍頻器，用戶可以為10 MHz ~ 200 MHz 的輸入基準(zhǔn)時鐘頻率范圍一個整數(shù)時鐘倍率。時鐘輸出頻率以 時鐘合成器的頻率范圍為界，在 BSX 系列中是 1 GHz ~ 16 GHz。其為許多常用標(biāo)準(zhǔn)提供了預(yù)先定義的倍率。其為許多常用標(biāo)準(zhǔn)提供了預(yù)先定義的倍率。

處理閉合的眼圖

隨著通道中電信號的數(shù)據(jù)率越來越快，通道的損耗經(jīng)常導(dǎo)致信號在Rx端的眼圖閉合。在實際的系統(tǒng)中，常使用 Equalization（均衡）補償通道的損傷，以得到“張開的眼圖”。泰克提供了強大的工具來幫助設(shè)計者檢定和測試這些系統(tǒng)中使用的接收機和發(fā)射機組件是否滿足標(biāo)準(zhǔn)。

圖形用戶界面以合理的容易跟蹤的方式表示控制功能，保持了BERTScope的一貫風(fēng)格。響應(yīng)的時域表示顯示了階權(quán)重設(shè)置的影響。頻域 Bode 圖顯示了濾波器怎樣補償通道損耗。

對于接收機測試，BSX 系列內(nèi)置 4 階預(yù)加重/去加重功能，能夠在儀器大數(shù)據(jù)速率下運行，在 BSX320 型號中達到 32 Gb/s。此外，快速控制輸出均衡功能可以滿足嚴(yán)格標(biāo)準(zhǔn)的鏈路訓(xùn)練響應(yīng)時間要求。

PatternVu

PatternVu選件是一套軟件實現(xiàn)的FIR濾波器，能夠在眼圖顯示之前使用。在使用均衡的Rx系統(tǒng)中，PatternVu能夠觀測、測量在Rx端均衡之后、判定之前信號的眼圖，即能將均衡的影響包含在測試結(jié)果中。均衡器多允許有32階(tap)，并且可以選擇每個UI的階(tap)分辨率。

PatternVu

PatternVu還包括CleanEye功能，即碼型固定的、經(jīng)過平均處理后的眼圖，可以去除眼圖的非確定性抖動分量。CleanEye能夠在存在大量隨機抖動的情況下，清晰地看到ISI對系統(tǒng)的影響。

單次波形數(shù)據(jù)值輸出是PatternVu的一個部分，能夠顯示所捕獲的固定碼型中的任意一個比特，非常類似實時示波器中的單次捕獲功能。一旦被捕獲，波形數(shù)據(jù)能夠以多種格式輸出，以便使用其他工具進行分析。

增加時鐘恢復(fù)

泰克CR125A、CR175A和CR286A產(chǎn)品提供了靈活的*性時鐘恢復(fù)方案。許多標(biāo)準(zhǔn)的抖動測試要求使用環(huán)路帶寬的時鐘恢復(fù)。使用不確定或未知的環(huán)路帶寬將帶來錯誤的抖動測量。泰克的時鐘恢復(fù)儀器能夠為各種標(biāo)準(zhǔn)測試提供簡單、精確的測量。

直觀用戶界面提供了對所有操作參數(shù)的簡單控制。*的環(huán)路回饋視圖描繪了環(huán)路帶寬的特性—該圖是真實測量的結(jié)果，而不是數(shù)據(jù)設(shè)置過程。

BERTScope CR的使用不受BERTScope測量的限制。既可以配合其他儀器使用，如采樣示波器或誤碼儀等，也可以和其他已有的儀器一起使用。通過把這些多功能儀器與現(xiàn)有的儀器結(jié)合起來，您可以實現(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)測量。

此外，本地內(nèi)置顯示器和BERTScope用戶界面中均提供了鎖定狀態(tài)和測得參數(shù)，如碼型邊沿密度和相位誤碼，可以實時查看輸入信號特點和CR性能。

顯示和測量 SSC 調(diào)制

擴頻時鐘（SSC）在的串行標(biāo)準(zhǔn)中經(jīng)常使用到，以減小 EMI 干擾，例如：SATA，PCI Express 和下一代 SAS。泰克 CR 家族支持?jǐn)U頻時鐘的恢復(fù)，能夠顯示和測量 SSC 調(diào)制波形。包括了大、小頻率偏差（ppm 或 ps 為單位）、調(diào)制變化率（dF/dT）和調(diào)制頻率等自動化測量項目。也包括了數(shù)據(jù)速率的顯示以及簡單易用的垂直、水平光標(biāo)。

SSC 波形測量

增加抖動分析

泰克CR125A、CR175A或CR286A分別與選項12GJ、17GJ和28GJ及采樣示波器或BERTScope相結(jié)合，實現(xiàn)了1.2 – 11.2 Gb/s可變時鐘恢復(fù)、占空比失真(DCD)測量和實時抖動頻譜分析。抖動頻譜顯示頻率范圍從200Hz到90MHz，可以使用光標(biāo)進行測量。可以使用用戶可設(shè)置的頻率限定進行抖動的帶限測量（上圖例子中是PCI Express 2.0預(yù)設(shè)的帶寬限制和抖動測量）。

抖動頻譜測量。

消除接收機測試中的壓力

隨著網(wǎng)絡(luò)變化，接收機測試挑戰(zhàn)也在變化。雖然誤碼測試和接收機靈敏度之類的測試非常重要，但在現(xiàn)實世界中，必須考慮10Gb/s之類的背板系統(tǒng)和其他高速總線的接收機抖動容限性能。壓力眼圖測試（Stressed Eye Testing）現(xiàn)在在許多的行業(yè)規(guī)范中變得越來越常見。另外，工程師可以利用壓力眼圖測試來發(fā)現(xiàn)接收機性能極限，用以檢查系統(tǒng)在設(shè)計和生產(chǎn)過程中的余量。

像進行PCI Express 2.0這類的串行總線*性接收機壓力測試，通常需要用到多tai獨立的儀器和設(shè)備，不得不花幾個小時去設(shè)置儀器、連接被測設(shè)備。通過BERTScope一臺儀器，以及測試向?qū)砜刂扑械慕?jīng)校準(zhǔn)的壓力源，非常方便地進行接收機壓力測試 - 這些都是在一臺儀器中完成的。該方案不需要外部電纜、混頻器、耦合器、調(diào)制器，減少了校準(zhǔn)過程，大大簡化了壓力測試的校準(zhǔn)和測試。

壓力眼圖視圖

靈活產(chǎn)生信號損傷

BERTScope內(nèi)置高質(zhì)量、經(jīng)校準(zhǔn)的各種信號損傷源，包括RJ、SJ、BUJ和SI。

ISI是許多標(biāo)準(zhǔn)中常見的信號損傷類型。BSA12500ISI差分ISI板提供了可變的鏈路長度，而不受開關(guān)頻帶空段和異常事件的影響。

靈活產(chǎn)生壓力損傷

許多標(biāo)準(zhǔn)要求測試在不同頻率、不同幅度、不同調(diào)制的SJ對Rx的影響。BERTScope內(nèi)置的抖動容限功能通過用戶自定義的容限模板，自動完成這項測試。同時，BERTScope還提供了許多標(biāo)準(zhǔn)的測試庫供用戶使用。

內(nèi)置抖動容限功能

BERTScope 碼型發(fā)生器產(chǎn)品

BERTScope碼型發(fā)生器提供了完整的PRBS碼型發(fā)生功能，支持標(biāo)準(zhǔn)和自定義碼型。

STR選項可以產(chǎn)生集成的、經(jīng)校準(zhǔn)的壓力信號，可以替代傳統(tǒng)多儀器、手動校準(zhǔn)的方案。該系列產(chǎn)品可以用于系統(tǒng)自帶BER測量的案例，如DisplayPort；或配合傳統(tǒng)誤碼儀以增加產(chǎn)生帶壓力碼型的能力。

壓力眼圖測試選項

碼型捕獲

對未知的輸入數(shù)據(jù)有幾種處理方法。除了上面所討論的實時數(shù)據(jù)分析之外，所有 BERTScope 分析儀都有一個非常有用的標(biāo)配功能 - 碼型捕獲。該功能允許用戶重復(fù)碼型的長度，然后允許分析儀使用檢波器的 512 Mb RAM 內(nèi)存抓取傳入數(shù)據(jù)。這些數(shù)據(jù)可以用作新的檢波器參考碼型，可以進行編輯和保存以便未來使用。

碼型捕獲

帶壓力眼圖的碼型發(fā)生器

碼型發(fā)生器帶壓力眼圖功能提供了下述特性：

• 對內(nèi)部或外部時鐘，靈活、集成地施加眼圖損傷
• 隱藏了測試的復(fù)雜性，但又不失靈活簡單的特性
• 使用BERTScope和外部ISI濾波器進行多種標(biāo)準(zhǔn)*性測試，包括
  • OIF CEI
  • 6Gb SATA
  • PCI Express®
  • XFI
  • USB 3.1 
  • SONET
  • SAS
  • XAUI
  • 10 和 100Gb 以太網(wǎng)
  • DisplayPort
• BSX系列BERTScope內(nèi)置兩種正弦曲線干擾源。這些干擾源在內(nèi)部相加，在前面板上作為單個差分輸出。在與選配的外部BSXCOMB套件結(jié)合使用時，其支持各種正弦曲線干擾測試配置，包括PCIe Gen3和Gen4的CM和DM干擾要求。

幅度和 ISI 損傷

對 ISI，外部增加 ISI：例如，長的同軸電纜，或者 4 階 Bessel-Thompson濾波器，-3dB 點等于 0.75 數(shù)據(jù)率

對需要模擬電路板耗散的應(yīng)用，BSA12500ISI 差分 ISI 生成板提供模擬電路板走線損耗

抖動測量

數(shù)據(jù)速率在 Gb/s 的信號其眼寬就幾百個皮秒，甚至更少。因此精確的抖動測量是控制抖動預(yù)算的重要部分。BERTScope 提供兩套工具來完成這些重要抖動測試。

物理層測試套件使用廣泛認(rèn)可的 Dual Dirac 方法測試總體抖動 (Total Jitter) 和對總體抖動的分離，隨機抖動 (RJ)、確定性抖動 (DJ)。BERTScope 采用的是誤碼儀的方法采集數(shù)據(jù)，樣本深度遠大于示波器測試抖動時所采集的樣本深度，并很少采用推算的方法測量抖動。從根本上講，這種方法的測試精度比高度依靠推算的方法的精度要高很多。

MJSQ 標(biāo)準(zhǔn) Dual Dirac 抖動測量。

選配的抖動分離及定位 (Jitter Map) 是 BERTScope 上的抖動測量套件。該套件提供了復(fù)雜的分析子集，除了 RJ 和 DJ 之外，還包括了許多更高速的標(biāo)準(zhǔn)*性測試中定義的抖動測量。抖動分離及定位 (Jitter Map) 能在長碼型上（例如 PRBS31）進行抖動測量和分離，也支持實時在線數(shù)據(jù)抖動分析，*次能夠在較短的同步數(shù)據(jù)碼型上運行（需要實時數(shù)據(jù)分析選件）。

圖：抖動分離及定位。

主要特性包括：

• DJ分解為有界不相關(guān)抖動（BUJ），數(shù)據(jù)相關(guān)抖動（DDJ），碼間干擾抖動（ISI），占空比失真抖動（DCD），包含F(xiàn)/2抖動在內(nèi)的子速率抖動（SRJ）
• 基于誤碼測試（非推算）的TJ測量，誤碼率水平可以到10–12 甚至更小
• 區(qū)分相關(guān)和非相關(guān)性抖動分量，減小對長碼型的DDJ和RJ測試的混淆
• 可以測量小眼張開度的抖動
• 增加了其他儀器所沒有的抖動測試項目：加重抖動（Emphasis Jitter），非相關(guān)抖動（Uncorrelated Jitter），數(shù)據(jù)相關(guān)性脈寬損耗（DDPWS）和非ISI抖動
• 直觀的抖動分離樹顯示

抖動峰值和BER輪廓測量的實時數(shù)據(jù)

靈活的外部抖動接口

靈活的外部抖動接口包括下述特性：

• 前面板外部高頻抖動輸入連接器 - 可以添加從 DC 到 1.0 GHz 高達 0.5 UI（大值）的抖動，可以是落在幅度和頻率邊界內(nèi)的任何類型的抖動
• 后面板外部 SJ 低頻抖動輸入連接器 - 可以添加從 DC 到 100 MHz 高達 1.1 ns（大值）的抖動
• 后面板 SJ 輸出
• 前面板正弦干擾輸出連接器

內(nèi)部的 RJ、BUJ 和外部高頻抖動輸入合成幅度大 0.5UI，合成抖動中的每一項幅度大 0.25UI。可以使用后面板低頻抖動輸入增加額外的抖動；外部低頻抖動、10 MHz 以下的內(nèi)部低頻 SJ、PCIe LFRJ 和 PCIe rSSC（使用選項 PCISTR）之和限于 1.1 ns。這些限制對 XSSC 選項的相位調(diào)制 (PM) 無效。

抖動損傷

有界非相關(guān)性抖動（BUJ）：

• 支持?jǐn)?shù)據(jù)速率范圍：1.5 - 12.5 Gb/s (BSX125), 24 Gb/s (BSX240), 32 Gb/s (BSX320)
• 內(nèi)部PRBS發(fā)生器
• 可調(diào)幅度0.5UI
• 100Mb/s到2Gb/s
• 可供選擇的帶限濾波器如下表

隨機抖動

• 支持?jǐn)?shù)據(jù)速率范圍：1.5 - 12.5 Gb/s (BSX125), 24 Gb/s (BSX240), 32 Gb/s (BSX320)
• 可調(diào)幅度0.5UI
• 帶寬限制10MHz~1GHz：在PCIe2模式下1.5 MHz – 100 MHz
• 波型因數(shù)(Crest factor)為16（其高斯分布至少到8倍標(biāo)準(zhǔn)偏差范圍，或誤碼率水平達到10–16）

正弦曲線抖動

SJ 可以從 0 調(diào)節(jié)到大于等于表中范圍的水平。范圍在高調(diào)制速率和/或位速率下會減小。請參閱擴頻時鐘和相位調(diào)制以了解更多 PM 功能詳細(xì)信息，以及正弦曲線抖動 (SJ)以了解更多 SJ 功能詳細(xì)信息。

1范圍可以在 1100 ps、270 ps 和 大 130 ps 之間選擇；范圍越低，本底抖動越低。

2完整的 SJ 范圍為 270 ps，有 RJ 或 BUJ 時，范圍下降到 220 ps。

3HFSJ、BUJ、EXT、HF 抖動與 RJ 總和 ≤ 0.5 UI

測試接口卡

后，我們提供了一個解決方案，來解決在高速線路卡、主板和實時業(yè)務(wù)上進行物理層測量的問題，那就是 BERTScope 在線數(shù)據(jù)分析選項。通過以全新方式使用雙判定點結(jié)構(gòu)，該儀器能夠進行參數(shù)測量，如抖動、BER 輪廓和 Q 因子，以及標(biāo)準(zhǔn)中要求時鐘信號的眼圖和模板測量。可以增加抖動定位及分離選項，在在線數(shù)據(jù)上查看更多層抖動分解。您不會再因為碼型未知、不可預(yù)測或涉及速率匹配字插入而感到無所適從。現(xiàn)在調(diào)試變得異常簡便，只需一鍵操作就能進行物理層測試，為您提供*的視角。

用戶軟件界面

用戶界面把可用性提升到全新高度：

• 簡單向?qū)?/span>
• 符合使用邏輯的布局和操作
• 界面之間切換方面靈活
• 豐富的測試相關(guān)信息
• 用戶輸入敏感，用顏色提醒用戶輸入數(shù)據(jù)的有效性

UI設(shè)置界面

獨立視圖中含有碼型編輯器、碼型段編輯器和碼型排序器，要求用戶提供分辨率低為1280 x 1024的VGA兼容監(jiān)視器。

碼型和序列編輯器

物理層測試選項

提供了下述物理層測試選項：

• BER 輪廓測試
  • 為了大相關(guān)性，執(zhí)行和眼圖測量一樣的采集
  • 為了精確的樣點提供延時校準(zhǔn)
  • 自動比例調(diào)整，一鍵式測量
  • ?從測量的數(shù)據(jù)中推算輪廓，增加實際數(shù)據(jù)的測試深度，重復(fù)更新輪廓曲線
  • 輸出 CSV 格式數(shù)據(jù)
  • 從 10–6 到 10–16 誤碼率水平范圍內(nèi)進行輪廓測試

• 基本抖動測量
  • 按照 T11.2 MJSQ BERTScan（也稱為“浴缸抖動”）方法進行測試和測量
  • 快速精確的完成用戶可誤碼率水平的總抖動推算，或直接測量
  • 按照 MJSQ定義的方法分離確定性抖動和隨機抖動
  • 為了精確的樣點提供延時校準(zhǔn)
  • 輸出 CSV 格式數(shù)據(jù)
  • 一鍵式測量
  • 用戶的幅度的門限或自動選擇門限電平
  • 根據(jù) MJSQ 定義，當(dāng)使用長碼型可選擇開始BER以提高精度

• Q 因子測量
  • 一鍵測量經(jīng)過眼圖中心的垂直橫截面
  • 簡便觀察系統(tǒng)噪聲影響
  • 輸出 CSV 格式數(shù)據(jù)
• *性輪廓測試
  • 驗評滿足標(biāo)準(zhǔn)情況，例如 XFP/XFI 和 OIF CEI，驗證 Tx 端性能
  • 將模板和 BER 輪廓測量結(jié)果比較，快速簡單確定被測設(shè)備是否通過 BER 特性要求

實時數(shù)據(jù)分析選項

實時數(shù)據(jù)選項主要用于測試系統(tǒng)在線時數(shù)據(jù)傳輸性能。該選項可用于測試系統(tǒng)傳輸?shù)拇a型未知或非重復(fù)的情況，還包括為匹配時鐘速率而在數(shù)據(jù)流中插入空閑位的情況。也可適用于探測線卡信號等等。

這個選項使用兩個前端判決電路中的一個，通過放置在眼圖中心，判斷數(shù)據(jù)是 0 還是 1。另外一個用于探測眼圖外部以決定參數(shù)性能。這種方法對物理層問題十分有效，但并不能識別由于協(xié)議引起的邏輯層問題，也就是預(yù)計是1、發(fā)送的卻是0的情況。

實時數(shù)據(jù)選項可以能夠使得在線數(shù)據(jù)進行 BER 輪廓、抖動峰值和抖動分離及定位和 Q 因子的測試。眼圖測試可以不需要該選項，只需要提供外部的時鐘即可。

實時數(shù)據(jù)分析選項需要物理層測試選項，必須使用全速率時鐘。

PatternVu 均衡處理選項

PatternVu1為BERTScope 增加了幾個強大的處理功能：

• CleanEye 是一種眼圖顯示模式，將平均處理后的數(shù)據(jù)進行眼圖分析，可消除非數(shù)據(jù)相關(guān)性抖動分量。用戶可以使用 CleanEye 測量數(shù)據(jù)相關(guān)性抖動，如 ISI 等，提供對復(fù)雜抖動的直觀的表現(xiàn)形式。該選項在任何重復(fù)碼型下有效，碼型長度上限 32,768 位。
• 單次波形數(shù)據(jù)輸出將 CleanEye 輸出以 CSV 格式輸出。該輸出文件多包含 105 比特位，可以通過 Microsoft Excel® 或其他仿真軟件處理，如 Stateye 或 MATLAB®。該功能允許對實時數(shù)據(jù)的離線分析，以實現(xiàn)在 802.3aq 和 LRM 10G 以太網(wǎng)標(biāo)準(zhǔn)要求的 TWDP 的測試。
• FIR 濾波均衡處理器可以模擬通信鏈路，在數(shù)據(jù)顯示之前應(yīng)用一個軟件線性濾波器，以觀測和測量在 Rx 端判決電路前的眼圖性能。例如，F(xiàn)IR 濾波可以模擬背板系統(tǒng)的信號損耗，或者模擬 Rx 端的均衡器，簡化 Rx 側(cè)的均衡器設(shè)計和測試。

  濾波器的參數(shù)可用通過對 FIR 濾波器中一系列階的權(quán)重調(diào)節(jié)而改變。至多 32 個階，間隔從 0.1 UI 到 1 UI，可精確調(diào)整濾波器的形狀。FIR 濾波在任何重復(fù)碼型下有效，碼型長度上限32,768位。

• 單沿抖動測量能夠?qū)λ俾蚀笥?3Gb/s 的單個邊沿進行深誤碼率抖動測量。單沿抖動峰值測量功能可以計算碼型的單獨邊沿的抖動，要求重發(fā)碼型，長度不超過 32,768。測量得到的抖動結(jié)果中，不包含數(shù)據(jù)相關(guān)性抖動，僅顯示出非相關(guān)性抖動分量，如隨機抖動（RJ），有界不相關(guān)抖動（BUJ）和正弦抖動（PJ）。
• 靈活的測量可以讓用戶 CleanEye 波形中確切的位置進行高精度的幅度、上升時間、下降時間和加重比例的測試。可重新定義標(biāo)準(zhǔn)（PCI Express 和 USB 3.1）的測量的算法。

1PatternVu 以900 Mb / s 或更高的數(shù)據(jù)速率運行。

誤碼分析

誤碼分析是一些列和誤碼發(fā)生情況緊密聯(lián)系在一起的的視圖，能夠簡單、快速的發(fā)現(xiàn)潛在的問題。可以非常方便的在眼圖的某個區(qū)域內(nèi)放置 BERTScope 采樣點，探測在位置上的碼型靈敏度。例如，直接觀測碼型是否會導(dǎo)致信號邊沿時刻的提前或滯后。

BERTScope 系列產(chǎn)品標(biāo)配了許多視圖：

• 誤碼統(tǒng)計視圖以比特位和突發(fā)的統(tǒng)計來分析鏈路性能。

條狀圖：比特位和突發(fā)誤碼率的條狀圖。

• 條狀圖：比特位和突發(fā)誤碼率的條狀圖。

條狀圖顯示了誤碼和誤包隨時間的變化。例如在做溫度循環(huán)實驗時，可以發(fā)現(xiàn)系統(tǒng)故障出現(xiàn)的規(guī)律。

• 突發(fā)長度：以直方圖的形式顯示不同碼長的誤碼發(fā)生次數(shù)
• 無誤碼間隔：以直方圖的形式顯示誤碼發(fā)生之間的時間間隔
• 相關(guān)性：以直方圖形式顯示誤碼和用戶自定義塊大小，或外部標(biāo)記信號之間的位置關(guān)系
• 碼型靈敏度：以直方圖的形式顯示不同碼型位置上出現(xiàn)錯誤的測試
• 碼組錯誤：以直方圖顯示數(shù)據(jù)間隔的次數(shù)（或用戶碼組大小）和在碼組中出現(xiàn)誤碼次數(shù)的關(guān)系

碼型靈敏度視圖時一個強大的工具，用以檢查錯誤事件和碼型之間的關(guān)系。能夠顯示出哪種碼型序列有多的問題，支持 PRBS 和用戶自定義碼型。

前向誤碼糾錯仿真選項

BERTScope因為采用了zhuan利的誤碼定位技術(shù)，在測試中可以確定每一個誤碼發(fā)生的位置。通過用假設(shè)誤碼糾錯器，仿真內(nèi)存塊典型的糾錯碼，例如Reed-Solomon結(jié)構(gòu)，以通過非相關(guān)數(shù)據(jù)通道的誤碼率測試，確定找到合適的FEC方法。用戶可以設(shè)置誤碼糾錯的力度，交織的深度以及確保符合流行的糾錯硬件結(jié)構(gòu)。

二維誤碼映射

通過發(fā)現(xiàn)到的誤碼，分析繪制出二維誤碼分布圖。誤碼分布基于幀的大小或者復(fù)用器的寬度，分析出誤碼是否容易在幀的某個位置上，或者連接到復(fù)用器的并行總線中的某一個特定的比特位上。 這個可視化的工具能夠發(fā)現(xiàn)其他分析方法所無法觀測到的誤碼。

抖動容限模板選項

許多標(biāo)準(zhǔn)要求測試在不同頻率、不同幅度、不同調(diào)制的SJ對Rx的影響。BERTScope內(nèi)置的抖動容限功能通過用戶自定義的容限模板，自動完成這項測試。同時，BERTScope還提供了許多標(biāo)準(zhǔn)的測試庫供用戶使用。

可調(diào)節(jié)的測試參數(shù)

• BER置信度
• 每點測試持續(xù)時間
• BER門限
• 測試設(shè)備釋放時間
• 模板余量控制
• A/B 碼型切換控制測試精度

另外還包括在每一個選擇點上進行測試的能力，以及數(shù)據(jù)可以導(dǎo)出為截圖或CSV文件。

誤碼位置分析調(diào)試

強大的誤碼分析功能 – 在這個例子中，眼圖測試結(jié)果和BER聯(lián)系在一起，發(fā)現(xiàn)并解決了內(nèi)存控制芯片的一個問題。左上角的眼圖顯示了在信號在十字交叉區(qū)域出現(xiàn)比正常眼圖所少見的特征。接著將BER判定點移動到該區(qū)域上仔細(xì)勘察。Error Analysis 結(jié)果顯示出問題特征和碼型中第24個標(biāo)記位有一定的聯(lián)系。進一步調(diào)查發(fā)現(xiàn)和IC內(nèi)部的時鐘分頻有關(guān)；系統(tǒng)時鐘是輸出數(shù)據(jù)速率的24分頻。重新設(shè)計芯片中增大了對時鐘鏈路的隔離后，就能得到右下角所示的干凈眼圖。

誤碼分析能力實例

抖動分離及定位 (Jitter Map) 選項

抖動分離及定位(Jitter Map)1用長碼型抖動三角形測量法自動抖動分離。抖動分離及定位(Jitter Map)擴展了以BER為基礎(chǔ)的抖動分離，除了按照Dual-Dirac方法測量總體抖動（Tj）、隨機抖動（Rj）和確定性抖動（Dj），還可以將確定性抖動分析為更加詳細(xì)的抖動類型。該選項也能測量和分離極長碼型上的抖動，例如PRBS31，假設(shè)系統(tǒng)受限運行在較短的同步數(shù)據(jù)碼型上。

該選項的特點包括：

• DJ分離為有界非相關(guān)抖動（BUJ），數(shù)據(jù)相關(guān)性抖動（DDJ），碼間干擾抖動（ISI），占空比失真抖動（DCD），子速率抖動（SRJ）2和F/2（或F2）抖動
• 基于BER的直接測試TJ，誤碼率水平可達10–12甚至更深
• 分離相關(guān)和非相關(guān)性抖動，減小DDJ和RJ的混淆
• 可以在數(shù)據(jù)碼型各自邊沿上可視化RJ RMS測量結(jié)果
• 支持100GbE應(yīng)用的J2和J9測試
• 支持更多的抖動分離類型：加重抖動 (EJ)，非相關(guān)性抖動 (UJ)，數(shù)據(jù)相關(guān)性脈沖損傷 (DDPWS) 和非 ISI 抖動
• 直觀的抖動分離樹顯示

1抖動分離及定位要求數(shù)據(jù)速率高于900 Mb/s。

2SRJ和F/2抖動運行速率11.2 Gb/s (所有配置)

帶壓力實時數(shù)據(jù)選項

BERTScope帶壓力實時數(shù)據(jù)選項幫助工程師zui實時的數(shù)據(jù)上增加各種各樣的壓力，以模擬在現(xiàn)實的環(huán)境中，觀察被測系統(tǒng)的響應(yīng)。使用帶壓力的實時測試數(shù)據(jù)能夠測量系統(tǒng)性能的邊界極限，增加系統(tǒng)設(shè)計的信心。

• 支持全系列 BERTScope 產(chǎn)品，包括正弦 (SJ), 隨機抖動 (RJ), 有界非相關(guān)抖動 (BUJ), 正弦干擾 (SI), F/2 抖動和擴頻時鐘 (SSC)
• 支持的BERTScope數(shù)據(jù)速率
• 數(shù)據(jù)率小于等于11.2Gb/s時支持全速率時鐘；高于11.2Gb/s時，支持半時鐘速率

符號過濾選項

對插入到碼流中的時鐘補償符號數(shù)量不確定的輸入數(shù)據(jù)流，符號過濾功能支持在輸入數(shù)據(jù)流上進行異步BER測試，包括抖動容限測試。

• 支持異步接收機測試，如USB 3.1，SATA和PCI Express
• 從輸入的數(shù)據(jù)中自動過濾用戶符號，保持同步
• 對于高精度誤碼測量，誤碼檢測支持一定數(shù)量的過濾比特

 更多產(chǎn)品詳見：德國Testo紅外分析儀