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ES640充電器件模型（CDM）測試系統，充電器件模型（CDM）靜電放電是微電子電路故障的常見原因。較低電壓下的C??DM放電會嚴重損壞或損毀靈敏設備。當帶靜電...

ES612A ESD測試儀(HBM、HMM、MM)是一款2管腳ESD測試儀，為晶圓、封裝、PCB和系統級ESD測試而設計。該測試儀的波形可以符合HBM、HMM和...

ES622系列TLP脈沖IV曲線系統是一種IV曲線表征系統，TLP符合ANSI/ESD STM 5.5.1標準，旨在高功率時域中模擬ESD事件（TLP/VF-T...

TLP傳輸線脈沖測試系統是一款便攜式脈沖IV-曲線特性表征系統，用于模擬靜電放電脈沖事件，例如TLP，vf-TLP，HMM，HBM，EFT和低壓浪涌。系統會檢測...

ES660系列ESD和LU測試系統是一種先進的多引腳自動化測試設備，旨在滿足現代半導體測試的嚴格要求。這款多功能設備旨在無縫支持人體模型（HBM）、機器模型（M...

ES622 Series TLP Pulsed IV-Curve System is an advanced IV-curve characterization...

ES640 Charged Device Model (CDM) Test SystemCharged Device Model (CDM) electrost...

ES612A ESD TESTER (HBM, HMM, MM) is a 2-Pin tester designed for the evaluation o...

EOS-500過電應力模擬發生器是一款50歐姆輸出阻抗脈沖發生器，用于一般EOS測試，脈沖寬度可在ns至ms范圍內調節。

ES62X-LVS Low Voltage Surge System is designed for testing the surge immunity of...

ES62X-LVS低壓浪涌系統，能夠輸出符合IEC 61000-4-5，GR-1089-CORE和C62.45-2002標準的雷電浪涌特性波形，用于晶圓級和封裝...

TLP-1000A Series Transmission Line Pulse Generator is our latest design for stan...

TLP-1000A系列傳輸線脈沖發生器是我們最新的（2022）獨立TLP脈沖設計，可以產生直接TLP脈沖、E場和H場并將其注入被測器件（DUT）。該發生器設計用...

TLP-1000 系列高壓脈沖發生器是我們推出的一款傳輸線脈沖（TLP）發生器，輸出電壓可達5 kV。該發生器能夠產生一個過沖小，平整度高的傳輸線脈沖，可直接注...

ES62X-LVS 型低壓浪涌測試系統能夠輸出符合IEC 61000-4-5，GR-1089-CORE和C62.45-2002標準的雷電浪涌特性波形，用于晶圓級...

ES612 HBM（HMM,MM）測試儀是一款2管腳測試儀，為晶圓、封裝、PCB和系統級ESD測試而設計。該測試儀的波形可以符合HBM，HMM和MM 的相關ES...

CDM 器件充放電測試系統為ESD事件中的器件充放電測試模型， 模擬帶電荷的器件在接觸地低電荷時瞬間放電形成電流，對器件造成損傷和擊壞的過程

EM602-10 Mini TEM Cell是一款工作頻段為DC-6GHz范圍的帶狀線TEM小室，能夠外接信號源產生電磁場，用于測試IC，無線通信模塊等。外部信...

A4003 ESD 電流靶校準套件（電流靶、適配器 （或 50 Ω 錐形適配器） 校準套裝）是一套完整的多合一校準測量裝置，用于檢測ESD電流靶的頻率響應（ –...

ES631-線纜ESD放電測試系統是一種綜合型測試系統，用于模擬帶電的以太網線向任意基于以太網的網絡系統或設備放電時的影響。