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國產X熒光光譜分析儀_天瑞儀器

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  • 型號
  • 品牌 SKYRAY/天瑞儀器
  • 廠商性質 生產商
  • 所在地 蘇州市
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更新時間:2023-11-09 15:20:28瀏覽次數:2208

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產品簡介

國產X熒光光譜分析儀_天瑞儀器 是利用XRF檢測原理實現對各種元素成份進行快速、、無損分析。

該儀器的主要特征是利用智能真空系統,可對Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發效果,利用XRF技術可對高含量的Cr、Ni、Mo等重點關注的元素進行分析,在冶煉過程控制中起到了測試時間短,大大提高了檢測效率和工作效率的作用。

詳細介紹

 國產X熒光光譜分析儀_天瑞儀器

 參數規格                                            1.元素分析范圍從鈉(Na)到鈾(U);2.元素測試范圍為 PPM級到99.99%;3.測量時間:60-400秒; 4.測試精度:0.05%(含量大于96%的樣品);5.多次測量重復性可達0.1%(總熒光強度);6.工作穩定性為0.1%;(總熒光強度)     
產品配置1. SDD探測器;2. X 光管;3. 高、低壓電源;4.數字多道分析器;                              5. 高精密攝像頭;6. 移動平臺(自動);7.超大樣品腔;8.準直器自動切換;9.濾光片自動切換;10.準直器和濾光片的自由組合 儀器優勢:1.       使用大面積鈹窗電致冷SDD探測器,探測器分辯率達到139ev,各項指標優于國家標準。2.       立式柜機設計,大方,內部空間大,具有散熱更快的特點,有效的延長設備使用壽命。3.       化的樣品腔設計,帶可調速的自旋樣品腔,有效的減少了樣品均一性的影響,提高了樣品的測試精度。4.       采用自主研發的數字多道技術,其線性計數率可達100KCPS。5.       采用了超小超真空的樣品腔設計,測試時達到10pa以下,使設備的測試范圍可以從F元素起可測試,大大提高了測試范圍、輕元素檢出限和精度。6.       設備可以在大氣、真空、氦氣環境下對樣品進行檢測,便于應對各種測試環境。7.       四組準直器,6組濾光片可以自動切換。8.       帶有高清攝像頭功能,便于查看樣品的測試位置以及被測試面的變化。9.       儀器接縫采用密封條,防水防塵,可在高溫高濕環境下連續使用,有良好的防潮防震防壓三防功能。10.    軟件,的FP法和EC法等多種方法嵌入的人性化的應用軟件,具有高靈敏度、測試時間短、一鍵智能化操作,使操作簡易,對操作人員限制很小的特點。11.    具有多種測試模式設置和無限數目模式的自由添加,內置強度校正方法,可校正幾何狀態不同和結構密度不均勻的樣品造成的偏差。12.    自動化的程度高,具有自動開蓋、自動切換準直器與濾光片等功能。13.    的軟件界面和內核,采用FP和EC軟件相結合的方法,應用面更加廣大。14.    自主研發的光路系統,光程更短,光路損失更少,激發效果更佳。15.    三重安全防護功能,自動感應,沒有樣品時儀器不工作,無射線泄漏;加厚防護測試壁;配送測試防護安全罩。16.    警告指示系統,通電時綠色指示燈亮,測試時黃色輻射指示燈閃爍,防止誤操作。17.    帶有攝像頭功能,可以隨時查看被測樣品的狀態。
應用領域及應用領域:專為粉未冶煉行業研發的一款設備1.     土壤中金屬元素分析2.     水泥冶煉3.     鋼鐵冶煉4.     銅礦、鉛礦、等各種礦冶煉5.     鋁冶煉6.     玻璃制造7.     耐火材材分析8.     各種粉未冶金分析行業9.     石油勘探錄井分析 
 在合金分析、全元素分析、有害元素檢測應用上也十分廣泛。X熒光光譜分析儀是屬于大型光學精密一起。以前我國主要依靠進口光譜分析儀,進口的光譜分析儀價格昂貴,耗費國家外匯。所以一機都在75年組織了光電式光譜分析儀會戰,從此我國可以自己生產大型X熒光光譜分析儀。X熒光光譜分析儀結構雖然很復雜,主要由下面四部分組成:光源、分光器(又稱單色器)、接收器(又稱探測器)、輸出裝置。為了更好的利用儀器和得到滿意的測試結果,必須對儀器各主要部分的作用和原理有所了解。

 國產X熒光光譜分析儀_天瑞儀器產品優點

1.采樣方式靈活,對于稀有和貴重金屬的檢測和分析可以節約取樣帶來的損耗。
2.測試速率高,可設定多通道瞬間多點采集,并通過計算器實時輸出。
3.對于一些機械零件可以做到無損檢測,而不破壞樣品,便于進行無損檢測。
4.分析速度較快,比較適用做爐前分析或現場分析,從而達到快速檢測。
5.分析結果的性是建立在化學分析標樣的基礎上。
光譜分析儀的缺點
1.對于非金屬和界于金屬和非金屬之間的元素很難做到檢測。
2.不是原始方法,不能作為仲裁分析方法,檢測結果不能做為國家認證依據。
3.受各企業產品相對壟斷的因素,購買和維護成本都比較高,性價比較低。
4.需要代表性樣品進行化學分析建模,對于小批量樣品檢測顯然不切實際。
5.模型需要不斷更新,在儀器發生變化或者標準樣品發生變化時,模型也要變化。
6.建模成本很高,測試成本也就比較大了,當然對于樣品檢測時,測試成本會下降。
7.易受光學系統參數等外部或內部因素影響,經常出現曲線非線性問題,對檢測結果的度影響較大。

技術參數

產品型號:EDX 4500H
產品名稱:X熒光光譜分析儀
測量元素范圍:從鈉(Na)到鈾(U)
元素含量分析范圍: ppm—

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