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目錄:廈門超新芯科技有限公司>>樣品臺>>Other Holders>> 透射電鏡全角度三維重構樣品桿

透射電鏡全角度三維重構樣品桿
  • 透射電鏡全角度三維重構樣品桿
參考價 面議
具體成交價以合同協議為準
參考價 面議
具體成交價以合同協議為準
  • 品牌 CHIPNOVA
  • 型號
  • 廠商性質 生產商
  • 所在地 廈門市
屬性

>

更新時間:2023-12-27 09:58:58瀏覽次數:4947評價

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透射電鏡全角度三維重構樣品桿在搭載直徑3 mm銅網的傳統三維重構樣品臺的基礎上延伸,采用彈頭的單軸旋轉方式進行繞樣品臺全角度360°觀察,可以接受棒狀或圓錐形樣品。


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我們的優勢

創新設計

1.高強度鈦合金特殊結構設計,高精度加工,經久耐用。

2.C型針尖創新結構設計,保證銅網穩定性,不會對EDS分析造成干擾。

3.可替換式針尖,方便同一樣品在TEM、FIB、AP等多平臺轉移,獲取更全面信息。


高質量成像

1.單軸針尖可360°高精度旋轉,獲取更多二維成像信息,避免鍥形信息丟失。

2.C型針尖為3mmHalf-Grid設計,α角最大旋轉角度為±90°,避免樣品陰影,提供高質量層析成像數據。



技術參數

類別項目參數
基本參數桿體材質高強度鈦合金
樣品直徑棒狀、圓錐形、3mm Half-Grid
漂移率<0.5 nm/min(穩定狀態)
分辨率電鏡極限分辨率
兼容電鏡Thermo Fisher/FEI,JEOL,Hitachi
(HR)TEM/STEM支持
(HR)EDS/EELS/SAED支持




   







應用案例

電子斷層掃描對納米尺度地質材料的三維分析

參考文獻來源:Three-dimensional Analyses of Geological Materials on Nanoscale by Electron Tomography[J]. Atomic Spectroscopy, 2022.

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最大傾斜角度為±54°、間隔為6°的一系列傾斜圖像重建結果。


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同一樣品的元素和氧化態重構模型的3D視圖。












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