當前位置:廣州領拓儀器科技有限公司>>島津Shimazu 表面分析>>表面分析>> SPM-8100FM 高分辨原子力顯微鏡
使用調頻模式
空氣和液體中的噪音降低到傳統模式的二十分之一
在空氣和液體環境中也能達到超高真空原子力顯微鏡的分辨率
現有的掃描探針顯微鏡 (scanning probe microscopes)和原子力顯微鏡(atomic force microscopes) 通常使用調幅模式(amplitude modulation).從原理上, 調頻模式(frequency modulation) 可以達到更高的分辨率。
SPM | : | 掃描探針顯微鏡 |
AFM | : | 原子力顯微鏡 |
AM | : | 調幅模式 |
FM | : | 調頻模式 |
注: KPFM需要特定的基底。
KPFM: 掃描開爾文顯微鏡
引用文獻:
Ryohei Kokawa, Masahiro Ohta, Akira Sasahara, Hiroshi Onishi, Kelvin Probe Force Microscopy Study of a Pt/TiO2Catalyst Model Placed in an Atmospheric Pressure of N2Environment, Chemistry - An Asian Journal, 7, 1251-1255 (2012).
在動態模式下,測量懸臂的振動頻率,從而測得懸臂和樣品間的相互作用力。具體來說,為了使懸臂的頻率偏移(△f)保持一定,讓懸臂在非接觸狀態下運動。與以往相比,對力的檢測靈敏度提高了20倍以上,因此圖像的分辨率也大大提升。
*外觀及規格如有更改,恕不另行通知。
請輸入賬號
請輸入密碼
請輸驗證碼
以上信息由企業自行提供,信息內容的真實性、準確性和合法性由相關企業負責,化工儀器網對此不承擔任何保證責任。
溫馨提示:為規避購買風險,建議您在購買產品前務必確認供應商資質及產品質量。