Moisture Image系列氧化鋁水分探頭內置壓力和穩定測量，MIS PROBE2露點儀探頭安裝和使用獨立的溫度和壓力傳感器的不便和限制已經不存在了，都能夠直接裝入Moisture Image系列探頭?？商峁y量溫度介于–22°F~158°F（–30°C ~70°C）之間的非線性NTC熱敏電阻，并選擇五臺固態壓阻式感測器，測量壓力達5000 psi表壓（345 bar）。

Moisture Image系列氧化鋁水分探頭內置壓力和穩定測量，MIS PROBE2露點儀探頭安裝和使用獨立的溫度和壓力傳感器的不便和限制已經不存在了，都能夠直接裝入Moisture Image系列探頭?？商峁y量溫度介于–22°F~158°F(–30°C ~70°C)之間的非線性NTC熱敏電阻，并選擇五臺固態壓阻式感測器，測量壓力達5000 psi表壓(345 bar)。

 

Moisture Image 系列1、2分析儀及PM880便攜式濕度儀用溫度和壓力輸入數據來確定參數，如ppm、lbs/mmSCF、相對濕度。

 

MIS系列露點探頭特點：

1.本質安全

2.環境溫度到ppb水分測量；16位分辨率

3.三個功能，具有水分傳感器和可選內置溫度和壓力傳感器

4.非易失性校準數據的存儲

5.校準數據可溯源至美國國家標準技術研究院（NIST)或英國國家物理實驗室(NPL)

6.只需布線雙絞線，使探頭定位在離分析儀3000ft(914m)處

7.螺紋和VCR的安裝配置

 

MIS PROBE2露點儀探頭應用：

Panametrics氧化鋁水分傳感器探頭用于測量氣體和非水溶性液體中的微量到周圍水平之間的水分濃度。其設計旨在與 Panametrics Moisture Image系列1分析儀、Moisture Image系列2分析儀、PM880便攜式濕度儀一起用于工業領域。

 

技術參數：

氧化鋁水分傳感器探頭

每個探頭均由計算機按照已知水分濃度進行單獨校準，可溯源至NIST或NPL。

露點/霜點校準范圍：

整體校準范圍能力：140°F~–166°F(60°C~–110°C)
標準：68°F~-112°F(20°C~–80°C)數據達-166°F(–110°C)
超低：-58°F~-166°F(–50°C~–110°C)
超高：140°F~-112°F(60°C~–80°C)數據達 -166°F (–110°C)

準確度：

±3.6°F(±2°C)，140°F~-85°F(60°C~–65°C)
±5.4°F(±3°C)，-86°F~-166°F(–66°C~–110°C)(-66°C~110°C)

重復性：

±0.9°F(±0.5°C)，140°F~-85°F(60°C~–65°C)
±1.8°F(±1.0°C)，-86°F~-166°F(–66°C~–110°C)

溫度：

傳感器工作溫度（過程溫度）：–166°F~158°F (–110°C~70°C)
Moisture Image系列探頭電子模塊的工作溫度：32°F~140°F (0°C~60°C)
存儲溫度：158°F(70°C)

工作壓力：5Hg至5000psi表壓 (345bar)

流量范圍

氣體：1個標準大氣壓下，從靜態到10,000cm/s的線速度
液體：從靜態到10cm/s的線速度，密度為1g/cc

響應時間

加濕或烘干周期內的含濕
量在63%的階躍變化時，不到五秒

MIS探頭/分析儀的分離

大推薦長度3000ft (0.9km)

 

產品應用：

石油化工

天然氣

工業氣體

半導體

爐氣/熱處理

發電

空氣干燥器

藥業

航空航天