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| 產地類別 | 國產 | 價格區間 | 1-1千 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 化工,生物產業,石油,地礦 |
產品簡介
詳細介紹
光學膜厚儀 光學膜層厚度測量控制儀
型號：LT/CDNY-03AM
北京光學膜層厚度測量控制儀
CDNY-03AM是專為光學鍍膜設計的新一代光學膜層厚度測量控制儀。本儀器由于采用窄帶頻率技術，因而對信號諧波和直流漂移具有的抑制能力。
北京光學膜層厚度測量控制儀主要性能指標及技術指標
主信號通道：
信號輸入方式：單端交流輸入
輸入量程：0.5mV-500mV
信號頻率范圍:1KHz±5%
本機頻相噪聲:≤4nV/Hz(折合到輸入端)
性誤差: ≤0.1%
零點時源： ≤0.2%/h
參考信號通道：
信號輸入方式：單端交流輸入
輸入幅度：20-700mV
頻率范圍:≥320。
調制光源 |
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| 本光源是光學鍍膜工藝的信號源。它具有穩定可靠、安裝調試方便。聚焦光斑直徑小為φ3mm 主要數據 頻率: 1000HZ±1% 500HZ±1% 250HZ±1% 焦距 200mm~4000mm 散熱：軸流風機 |
北京恒瑞鑫達科技有限公司是集專業設計、開發、生產與銷售于一體的*股份制企業，專注于新型材料試驗機的研制、材料檢測技術的提高及材料試驗方法的創新，是的材料試驗檢測儀器的生產企業。恒瑞鑫達以精美的產品、*的技術、精良的品質、精心的服務贏得了廣大用戶和*，產品全國，擁有一大批國內外有名科研院所及企業用戶，是國內試驗機行業發展速度快的企業之一。