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ATP5104-紫外增強(qiáng)高性能光纖光譜儀

產(chǎn)品概述

    ATP5104是奧譜天成針對(duì)紫外光譜，特別研制的高性能紫外增強(qiáng)型微型光纖光譜儀，它采用3072像素的紫外增敏線性CCD，可以適應(yīng)165-1100nm波長(zhǎng)范圍的測(cè)試，CCD檢測(cè)器曝光時(shí)間可以控制在1ms之內(nèi)，同時(shí)，奧譜天成為ATP5104特別定制了超低噪聲CCD信號(hào)處理電路，其量化噪聲小于3 counts，為業(yè)界*水平，可以幫助您可以獲得*的光譜信噪比。

  ATP5104是紫外、可見、近紅外光譜應(yīng)用的理想選擇，有不同的狹縫、光柵、反射鏡、濾光片可以選擇，可以根據(jù)您的需求，配置適合不同應(yīng)用場(chǎng)合的光譜儀，光譜范圍從165nm起至1050nm，光譜分辨率可在0.5到4.0nm之間選擇，奧譜天成也可為OEM客戶提供定制選擇。

 ATP5104可以接收SMA905接口光纖輸入或者自由空間輸入的待測(cè)光，根據(jù)設(shè)定的積分時(shí)間進(jìn)行測(cè)量，將測(cè)量結(jié)果通過USB2.0（高速）或者UART輸出；

ATP5104-紫外增強(qiáng)高性能光纖光譜儀

特點(diǎn)：

• 紫外增強(qiáng)高性能背照式CCD

• 專門針對(duì)紫外優(yōu)化的光路和結(jié)構(gòu)；

• 探測(cè)器：背照式CCD

• 探測(cè)器像素：3072

• 超低噪聲CCD信號(hào)處理電路

• 光譜范圍: 165-1100 nm

• 光譜分辨率: 0.1-4 nm(取決于光譜范圍、狹縫寬度)

• 光路結(jié)構(gòu)：交叉C-T

• 積分時(shí)間：2ms-130s

• 供電電源：DC 5V±10% @ <2.3A

• 18 bit, 570KHz A/DConverter

• 光輸入接口：SMA905或自由空間

• 數(shù)據(jù)輸出接口: USB2.0(High speed)或UART

• 20針雙排可編程外擴(kuò)接口

ATP5104-紫外增強(qiáng)

典型應(yīng)用：

• 拉曼光譜儀

• 微量、快速分光光度計(jì)；

• 光譜分析/輻射分光分析/分光光度分析

• 透過率、吸光度檢測(cè)；

• 反射率檢測(cè)；

• 紫外、可見和短波近紅外

• 波長(zhǎng)檢測(cè)