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當前位置：鄭州偉創檢測設備有限公司>>實驗室常用設備>>實驗天平>> METTLER梅特勒密度天平XS3DU
| 極限值 | XS3DU雙量程 | 典型值 | XS3DU雙量程 |
| 稱量值 | 3.1 g | 典型重復性（sd） | 0.0005 mg +1.2 x (10?C7)?R_gr |
| 可讀性 | 0.01 mg | 典型微分非線性（sd） | √2x(10-12)g?R_nt |
| 稱量值 | 0.8 g | 典型微分四角誤差（sd） | 1.2 x (10?C6)?R_nt |
| 可讀性 | 0.001 mg | 典型靈敏度偏移（sd） | 3 x (10?C6)?R_nt |
| 重復性(sd) - 加載處 | 0.006 mg | 典型最小稱量值* | @ U=1 %, 2 sd) 0.1 mg+2.4 x (10?C6)?R_gr |
| - 低加載（加載處） | 0.005 mg (0.2 g) | 典型穩定時間 | < 6 sec |
| 重復性(sd) - 加載處 | 0.001 mg | 穩定時間 | < 10 sec |
| - 低加載（加載處） | 0.0008 mg (0.2 g) | 1) 根據OIML R76 2) 在10到30°C的溫度范圍內 3) 次安裝，使用proFACT校準，靈敏度穩定性 4) 能用于估計不確定度 sd=標準偏差 Rgr=毛重 Rnt=凈重（樣品質量） a=年 * 重復性和最小稱量值可以通過以下措施得以改進：- 選擇適當的稱量參數設置， - 選擇合適的天平放置位置，- 使用較小的去皮容器。 | |
| 線性誤差 | 0.004 mg | ||
| 四角誤差（加載處） | 0.005 mg (2 g) | ||
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