13333855670
當前位置：鄭州偉創檢測設備有限公司>>實驗室常用設備>>實驗天平>> METTLER梅特勒分析天平XS205DU
| 參數名稱 | 參數值 | ||
| 量程 | 雙量程 | 1/2稱量1） | 四角.3mg |
| 可讀性 | 0.01/0.1mg | 靈敏度漂移 | 0.0004% |
| 稱量值 | 81/220g | 靈敏度溫度漂移2） | 0.00015%/℃ |
| 稱量值重復性(s) | 0.1 mg | 靈敏度穩定性3） | 0.0002%/a |
| 10g重復性(s) | 0.02mg | 典型稱量時間4） | 6s |
| 線性 | ±0.2mg | 接口更新速率 | 23/s |
| 秤盤尺寸(mm) | 78×73 | 1）按照OIML76標準 2）溫度范圍10 …30℃ 3）靈敏度漂洗/年（天平使用后），激活FACT全自動校準技術 4）包括樣品處理時間設置 | |
| 防風罩有效高度(mm) | 235 | ||
| 天平外形尺寸(W×D×H)(mm) | 263×453×322 | ||
請輸入賬號
請輸入密碼
請輸驗證碼
以上信息由企業自行提供，信息內容的真實性、準確性和合法性由相關企業負責，化工儀器網對此不承擔任何保證責任。
溫馨提示：為規避購買風險，建議您在購買產品前務必確認供應商資質及產品質量。
化工儀器網