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當前位置：鄭州偉創檢測設備有限公司>>實驗室常用設備>>實驗天平>> METTLER梅特勒分析天平XS204
| 參數名稱 | 參數值 | ||
| 可讀性 | 0.1mg | 1/2稱量1） | 四角.3mg |
| 稱量值 | 220g | 靈敏度漂移 | 0.0004% |
| 稱量值重復性（s） | 0.1mg | 靈敏度溫度漂移2） | 0.00015%/℃ |
| 10g重復性(s) | 0.07 mg | 靈敏度穩定性3） | 0.0002%/a |
| 線性 | ±0.2mg | 典型稱量時間4） | 4s |
| 校準方式 | 內校 | 接口更新速率 | 23/s |
| 秤盤尺寸(mm) | 78×73 | 1）按照OIML76標準 2）溫度范圍10 …30℃ 3）靈敏度漂洗/年（天平使用后），激活FACT全自動校準技術 4）包括樣品處理時間設置 | |
| 防風罩有效高度(mm) | 235 | ||
| 天平外形尺寸(W×D×H)(mm) | 263×453×322 | ||
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