目錄:上海西努光學科技有限公司>>顆粒元素分析系統>> CIS-LIBS顆粒元素分析系統
| 應用領域 | 綜合 |
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CIS-LIBS顆粒元素分析系統：快速、精確、一鍵分析
需要多臺設備配套：
僅憑放大觀察并不能查明成分
需要使用多臺設備或委托外部分析
需要進行預處理：
對進入分析設備內的尺寸有限制,需要破壞或切斷目標物
需要進行目標物表面的導電性處理、分析設備內部的真空處理
對實驗員素養要求高：
由于分析設備具有高專業性,只有少數人會操作
只有具備專業知識,才能根據檢測到的元素判斷物質
只需一臺即可完成
只需一臺即可快速執行從放大觀察到元素判別 要進行元素判別的人員可當場進行作業
無需預處理
對目標物尺寸沒有限制，無需破壞也可直接分析
在空氣中進行分析，無需進行導電性處理及真空處理
輕松進行元素判別
使用顯微系統觀察的同時，一鍵點擊即可進行元素判別 根據內部數據庫，瞬時推測檢測物質
CIS-LIBS顆粒元素分析系統規格參數
型號 | CIS- LIBS | |||||||||||
LIBS光學模塊 | 檢測原理 | 激光誘導擊穿光譜法 | ||||||||||
檢測性質 | 定性及半定量 | |||||||||||
檢測能力 | %水平 (取決于元素) | |||||||||||
檢測環境要求 | 無, 分析在大氣條件下進行 (無, 常溫常壓條件下進行) | |||||||||||
對應元素 | CU、A | SUS、 Fe、 L | C、cr 、Mg、Mn | T | Y、zn 、Au等常見元素 | |||||||
激光 | 激光類型 | Nd :YAG (半導體泵浦) | ||||||||||
激光波長 | 355nm | |||||||||||
單脈沖能量 | <100UJ | |||||||||||
脈沖寬度 | ≤1 . 5ns | |||||||||||
點規格 | 15um (typ) | |||||||||||
燒蝕深度 | 1 - 10um (取決于材料 | |||||||||||
光譜儀 | 光譜范圍 | 200至780nm | ||||||||||
光譜分辨率 | 0 . 15nm | |||||||||||
信噪比 | 500 | |||||||||||
探測器 | CMOS探測器 | |||||||||||
激光鏡頭 | 鏡頭類型 | 專屬規格透射型鏡頭 | ||||||||||
鏡頭倍數 | 7X | |||||||||||
工作距離 | 18mm | |||||||||||
掃描光學模塊 | 入射光軸 | 相差觀察方法 | 奧林巴斯BX53M , BF明場照明 | |||||||||
物鏡 | 5X, 10X,20X,50X | 可選 | ||||||||||
照明 | 大功率數字LED, 軟件可控, 帶記憶模式 | |||||||||||
偏光系統 | 偏光00與偏光90o 自動數字切換, 帶記憶模式 | |||||||||||
數字成像 | 相機型號 | DFK33UX249 | ||||||||||
相機分辨率 | 1920x1200 (2 . 3mp) | |||||||||||
相機靶面 | 2英寸 | |||||||||||
幀速 | 48FPS | |||||||||||
掃描載物臺 | 載物臺方向 | XYZ三軸 | ||||||||||
行程范圍 | Xy軸125x75mm, z軸35mm | |||||||||||
分辨率 | 0 . 1um(軟件控制) | |||||||||||
精度 | <5μm | |||||||||||
控制方式 | 軟件自動控制+遙桿細分控制 | |||||||||||
生成報告 | 生成方式 | 自動生成 | ||||||||||
報告內容 | 單顆粒材質專業報告 | |||||||||||
全顆粒材質專業報告 | ||||||||||||
電腦 | 15處理器, 16G內存, 硬盤1TB,顯示器22寸 | |||||||||||
設備電源 | 供電方式 | AC 220V50Hz | ||||||||||
保修期 | 整機12個月 | |||||||||||
耐環境性 | 使用環境溫度 | +10至45 | ||||||||||
使用環境濕度 | 。至85%RH (無冷凝) | |||||||||||
重量 | 系統 | 約50KG | ||||||||||
外形尺寸 | 寬度490mm x高度600mm x縱深840mm | |||||||||||
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