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如何利用單光子計(jì)數(shù)相機(jī)輕松搞定FLIM/FRET
對(duì)于高精度多光子FLIM，時(shí)間相關(guān)單光子計(jì)數(shù)（TCSPC）在測(cè)量精度方面非常優(yōu)秀。就成像速度而言，由于發(fā)射過(guò)程的隨機(jī)性，要求檢測(cè)率遠(yuǎn)小于每個(gè)激發(fā)事件一個(gè)光子，以防止壽命擬合中的不確定性，導(dǎo)致TCSPC在光子計(jì)數(shù)率方面受到了極大的限制，于是，激光掃描FLIM的采集時(shí)間大約需要幾分鐘才能完成，然而在這個(gè)時(shí)間尺度上，許多動(dòng)態(tài)生物事件已經(jīng)發(fā)生并結(jié)束。為了克服該限制，可以采用激光束陣列激發(fā)，并配合光電倍增管陣列或時(shí)間門控相機(jī)檢測(cè)系統(tǒng)來(lái)進(jìn)行并行信號(hào)采集實(shí)現(xiàn)。迄今為止，由于多陽(yáng)極PMT中的串?dāng)_，亦或是由于相機(jī) -
如何利用單光子計(jì)數(shù)相機(jī)實(shí)現(xiàn)散射介質(zhì)成像
美國(guó)麻省理工學(xué)院（MIT）媒體實(shí)驗(yàn)室的研究人員已經(jīng)開發(fā)了一種新的成像系統(tǒng)：使用PF32SPAD陣列+TDC單光子計(jì)數(shù)相機(jī)和新的算法，測(cè)量被霧遮擋物體的距離。在實(shí)驗(yàn)中，該系統(tǒng)的表現(xiàn)比人類的視覺（因人的視線很難看穿霧氣）更好，這對(duì)于自動(dòng)駕駛來(lái)說(shuō)是一個(gè)巨大的突破。透過(guò)霧成像，在自動(dòng)駕駛汽車、增強(qiáng)駕駛、飛機(jī)、直升機(jī)、無(wú)人駕駛飛機(jī)和火車等行業(yè)中具有重要應(yīng)用價(jià)值和意義。透過(guò)霧成像和被霧遮擋對(duì)象反射光信號(hào)的分布（高斯）相比，透過(guò)霧成像討論的是從霧反射光信號(hào)的時(shí)間分布（Gamma）。這有助于區(qū)分從霧反射的背景光 -
如何利用單光子計(jì)數(shù)相機(jī)追蹤動(dòng)態(tài)隱藏目標(biāo)
我們都知道，在國(guó)內(nèi)外已經(jīng)有很多種技術(shù)可以重建隱藏對(duì)象的形貌，但這些方法因?yàn)闊o(wú)法快速采集隱藏對(duì)象的有效信息，因此對(duì)于隱藏對(duì)象的實(shí)時(shí)運(yùn)動(dòng)無(wú)能為力，更加無(wú)法進(jìn)行實(shí)時(shí)跟蹤。而來(lái)自英國(guó)PhotonForce公司的PF32SPAD陣列+TDC單光子計(jì)數(shù)相機(jī)因其55ps的時(shí)間分辨率、10bit時(shí)間數(shù)字轉(zhuǎn)換器以及USB3.0（300k幀/秒）輸出接口，毫無(wú)疑可以勝任動(dòng)態(tài)隱藏目標(biāo)的實(shí)時(shí)追蹤。比如，在障礙物無(wú)法物理穿越或者很危險(xiǎn)的情況下，能夠?qū)﹄[藏在角落或墻后移動(dòng)物體的運(yùn)動(dòng)進(jìn)行探測(cè)并跟蹤的能力是非常關(guān)鍵且有優(yōu)勢(shì)的。 -
全新激光焦點(diǎn)分析儀SFM應(yīng)用于3D打印技術(shù)
激光光束測(cè)量專家德國(guó)PRIMES公司，推出了一款全新的激光掃描參數(shù)測(cè)量設(shè)備，該設(shè)備匹配選擇性激光熔化（SLM）3D打印技術(shù)。ScanFieldMonitor（SFM）激光焦點(diǎn)分析儀是一款多功能一體化的激光光束診斷設(shè)備。該激光焦點(diǎn)分析儀（SFM）適用于任何激光光束和激光掃描設(shè)備的診斷分析，使用戶能夠輕松確定其激光光源的各種參數(shù)。ScanFieldMonitor（SFM）激光焦點(diǎn)分析儀具有的設(shè)計(jì)，旨在實(shí)現(xiàn)改進(jìn)的工藝優(yōu)化和系統(tǒng)認(rèn)證，從而使用戶能夠更好地校準(zhǔn)激光3D打印機(jī)，以進(jìn)行工業(yè)3D打印。來(lái)自PRI -
時(shí)間分辨熒光共聚焦顯微成像及光譜系統(tǒng)TRPL Mapping
TRPLMapping系統(tǒng)簡(jiǎn)介：時(shí)間分辨熒光共聚焦顯微成像及光譜系統(tǒng)MicroTime100&FluoTime300將正置共聚焦熒光壽命顯微鏡和熒光壽命光譜儀結(jié)合在一起，能實(shí)現(xiàn)幾百nm的空間分辨率和ps~s的熒光壽命測(cè)試和光譜測(cè)試。能用于檢測(cè)：熒光共聚焦成像、熒光壽命成像、時(shí)間分辨光譜、穩(wěn)態(tài)激發(fā)/發(fā)射譜、時(shí)間分辨熒光共聚焦顯微光譜、自由選取ROI的微區(qū)（時(shí)間分辨）熒光成像和（時(shí)間分辨）光譜，并且支持升級(jí)單分子光譜功能（閃爍，反聚束）、拓展了FLIM和紅外部分，適用于諸多薄膜、納米材料的研究，是研 -
[自研]光纖微裂紋檢測(cè)儀測(cè)量長(zhǎng)度升級(jí)至1m是什么概念？
光纖微裂紋檢測(cè)儀以白光干涉為原理，最初受限于延時(shí)纖的測(cè)量長(zhǎng)度只能測(cè)試6cm，使得測(cè)試場(chǎng)景非常局限。經(jīng)過(guò)3年多的技術(shù)鉆研，在剛剛過(guò)去的2022年里，東隆科技研發(fā)工程師們攻克了這個(gè)難關(guān)，在光纖測(cè)量長(zhǎng)度上實(shí)現(xiàn)了二連跳，1月測(cè)量長(zhǎng)度從最初的6cm升級(jí)至12cm，10月測(cè)量長(zhǎng)度從12cm升級(jí)至40cm。到了2023年年初，光纖微裂紋檢測(cè)儀測(cè)量長(zhǎng)度直接升級(jí)至1m，快速實(shí)現(xiàn)三級(jí)跳。然而我們每一次的系統(tǒng)技術(shù)優(yōu)化升級(jí)，都是為用戶提供更好的產(chǎn)品和服務(wù)體驗(yàn)。本次，光纖微裂紋檢測(cè)儀測(cè)量長(zhǎng)度升級(jí)到1m,不僅為用戶解決匹配 -
TCSPC時(shí)間相關(guān)單光子計(jì)數(shù)原理及系列推薦
TCSPC時(shí)間相關(guān)單光子計(jì)數(shù)技術(shù)是一種成熟且通用的單光子計(jì)數(shù)技術(shù)，是一種功能強(qiáng)大的分析方法，目前廣泛應(yīng)用于熒光壽命測(cè)量、時(shí)間分辨光譜、熒光壽命成像、飛行時(shí)間測(cè)量等眾多領(lǐng)域，尤其是在生命科學(xué)和基礎(chǔ)物理學(xué)中使用。此技術(shù)用于執(zhí)行超精確的熒光和磷光壽命測(cè)量。TCSPC時(shí)間相關(guān)單光子計(jì)數(shù)系統(tǒng)基于的原理是：在記錄低強(qiáng)度、高重復(fù)頻率的脈沖信號(hào)時(shí)，由于信號(hào)光強(qiáng)度很低，以至于在一個(gè)信號(hào)測(cè)量周期內(nèi)探測(cè)到一個(gè)光子的概率遠(yuǎn)遠(yuǎn)小于1.因此，不需要考慮在一個(gè)周期內(nèi)探測(cè)到幾個(gè)光子的情形。只要記錄這些光子，測(cè)量他們?cè)谛盘?hào)測(cè)量周 -
高分辨光學(xué)鏈路診斷儀OCI能精準(zhǔn)測(cè)量多分支光鏈路損耗
當(dāng)我們?cè)谑褂霉忸l域反射（OFDR）技術(shù)檢測(cè)光鏈路，不僅能獲得很高的空間分辨率的回波強(qiáng)度曲線，而且利用背向散射法測(cè)損耗可得到鏈路的沿線損耗情況及各個(gè)器件點(diǎn)的損耗。當(dāng)光鏈路中有兩路以上的分支時(shí)，各個(gè)分支的瑞利散射信號(hào)會(huì)混疊到一起，此時(shí)使用背向散射法就不能測(cè)試出各個(gè)分支光鏈路損耗情況。但針對(duì)多分支光鏈路信號(hào)混疊在一起的情況下，本文給出了高分辨光學(xué)鏈路診斷儀OCI測(cè)試多分支光鏈路中各個(gè)分支鏈路損耗情況的方法。背向散射法測(cè)損耗背向散射法是一種被測(cè)件DUT前一點(diǎn)的光功率作為測(cè)量回?fù)p（RL）的入射光功率，進(jìn)而
