聯(lián)系電話
武漢東隆科技有限公司
中級會員·2年
- 聯(lián)系人：
- 馬女士
- 電話：
- 027-87807123-8019
- 手機：
- 售后：
- 027-87807177-8019
- 傳真：
- 027-87807133
- 地址：
- 湖北省武漢市東湖新技術開發(fā)區(qū)北斗路6號未來智匯城A8棟
- 個性化：
- www.etsc-tech.cn
- 網(wǎng)址：
- www.etsc-tech.com
掃一掃訪問手機商鋪
-
光纖微裂紋檢測儀OLI如何實現(xiàn)光纖鏈路診斷和分析
原理介紹光在光纖中傳輸時，絕大部分光為前向傳輸，即通常所說的透射光。但由于光纖存在結構不均勻，材料密度變化，雜質(zhì)或者離子摻雜等固有因素，光粒子與光纖介質(zhì)（主要成分是二氧化硅）相互作用后，因為這些缺陷，必然存在部分與入射光方向相反的光粒子，形成了后向傳輸光，即通常所說的反射光，并且此部分光不可消除。標準良好的單模光纖中，瑞利散射是這些后向傳輸光最主要的形成原因，（原理上，瑞利散射后的光粒子方向是隨機的，這里因為我們主要檢測后向反射光，所以只討論反射光強度）。在光通信領域，通常引入回損概念RL（re -
德國PRIMES——掃描場焦點分析儀SFM監(jiān)測nLIGHT AFX-1000 3D打印環(huán)形激光
SFM激光振鏡掃描場焦點分析儀采用刻有10~15微米厚測量線玻璃板的技術表征激光光束特性，光電二極管探測刻線的散射光來測量激光光斑在增材制造工業(yè)領域恩耐AFX－1000環(huán)形光斑激光器越來越受到關注。德國PRIMES公司的激光掃描場焦點分析儀ScanFieldMonitor（SFM）設計用于監(jiān)測激光振鏡掃描系統(tǒng)狀態(tài)以及維持增材制造3D打印加工質(zhì)量，榮獲AKL2022激光技術創(chuàng)新獎一等獎。本文展示了SFM對AFX－1000激光器不同模式光斑的一系列測量，揭示了SFM觀察到的模式振蕩的來源，光斑分布結 -
光纖微裂紋診斷儀（OLI）如何快速對硅光芯片耦合質(zhì)量檢測？
硅光是以光子和電子為信息載體的硅基電子大規(guī)模集成技術，能夠突破傳統(tǒng)電子芯片的極限性能，是5G通信、大數(shù)據(jù)、人工智能、物聯(lián)網(wǎng)等新型產(chǎn)業(yè)的基礎支撐。光纖到硅基耦合是芯片設計十分重要的一環(huán)，耦合質(zhì)量決定著集成硅光芯片上光信號和外部信號互聯(lián)質(zhì)量。耦合過程中最困難的地方在于兩者光模式尺寸不匹配，硅光芯片中光模式約為幾百納米，而光纖中則為幾個微米，幾何尺寸上巨大差異造成模場的嚴重失配。準確測量耦合位置質(zhì)量及硅光芯片內(nèi)部鏈路情況，對硅光芯片設計和生產(chǎn)都變得十分有意義。光纖微裂紋診斷儀（OLI）對硅光芯片耦合質(zhì) -
目前在光伏業(yè)界，正在進行一項重大努力，以提高光伏和發(fā)光應用中所用半導體的效率并降低相關成本。這就需要探索和開發(fā)新的制造和合成方法，以獲得更均勻、缺陷更少的材料。無論是電致還是光致發(fā)光，都是實現(xiàn)這一目標的重要工具。通過發(fā)光可以深入了解薄膜內(nèi)部發(fā)生的重組過程，而無需通過對完整器件的多層電荷提取來解決復雜問題。HERA高光譜照相機是繪制半導體光譜成像的理想設備，因為它能夠快速、定量地繪制半導體發(fā)射光譜圖，且具有高空間分辨率和高光譜分辨率的特性。硅太陽能電池的電致發(fā)光光譜成像光伏設備中的缺陷會導致光伏產(chǎn)
-
Q：光纖可以彎曲嗎？A：答案是可以的，因為在布線的過程中，網(wǎng)絡不彎曲幾乎難以實現(xiàn)，所以光纖可以彎曲，但必須保證在一定彎曲范圍內(nèi)，才能將損耗降至低點。光纖彎曲的問題在實際項目中經(jīng)常會發(fā)生，在項目中光纖彎曲，有些操作人員，對光纖的可彎曲參數(shù)并不了解，因此擔心會不會影響光纖的傳輸。當光從光纖的一端射入，從另一端射出時，光的強度會減弱，這意味著光信號通過光纖傳播后，光能量衰減了一部分。這說明光纖中有某些物質(zhì)或因某種原因，阻擋光信號通過。這就是光纖的傳輸損耗。只有降低光纖損耗，才能使光信號暢通無阻。光纖對
-
單光子計數(shù)共聚焦顯微鏡系統(tǒng)Luminosa
——新型基于單分子級別熒光共振能量轉(zhuǎn)移(smFRET)的動態(tài)結構生物學共聚焦顯微鏡系統(tǒng)量化單分子和時間分辨熒光技術，為很多生命科學與材料科學領域提供了新的視野。迄今為止，因為其數(shù)據(jù)采集和分析需要具備較為專業(yè)的背景知識，使得該技術的普及非常緩慢。現(xiàn)在，PicoQuant可以提供一款全新的共聚焦顯微系統(tǒng)——單光子計數(shù)共聚焦顯微鏡系統(tǒng)Luminosa，它具備先進的軟硬件組合，在簡化日常操作流程的前提下，能有效的為操作者呈現(xiàn)高質(zhì)量的實驗數(shù)據(jù)。其配備的軟件為每種應用技術都設定了標準化的引導操作流程。本文將 -
武漢東隆科技有限公司自研的高分辨率光學鏈路診斷儀（OCI）是基于光頻域反射技術（OFDR），單次測量可實現(xiàn)從器件到鏈路的全范圍診斷，并且能輕松測試出光纖鏈路損耗情況。據(jù)了解，光頻域反射技術（OFDR）測試插損方式是依據(jù)事件點兩側瑞利散射信號幅值差異，其高分辨率特性可以定位到厘米級損耗點。通常高分辨率光學鏈路診斷儀（OCI）插損測量動態(tài)范圍為18dB，反射式測量方式動態(tài)范圍為9dB。當待測鏈路中累積損耗超出9dB時，超出部分瑞利散射信號會被設備底噪淹沒，給測試帶來誤差。針對上訴情況，本文借助光纖環(huán)
-
Wasatch Photonics拉曼光譜儀多樣化的樣品耦合選擇
拉曼光譜儀是什么？拉曼光譜儀不僅需要將高強度的激光輸送到非常小的焦點，同時還需要靈敏地檢測不到百萬分之一的散射光子。那么，拉曼光譜儀如何將光傳遞到樣品并從樣品中收集光，對收集的數(shù)據(jù)質(zhì)量和整套系統(tǒng)的最終靈敏度具有重大影響。拉曼光譜儀類型多種可選，比如光纖耦合探頭&光譜儀、帶定制光學元件的自由空間耦合光譜儀，或帶集成激光器的光譜儀系統(tǒng)——使用者會根據(jù)樣品類型、環(huán)境和使用需求對拉曼光譜儀進行選擇。在這篇技術講解文中，我們將根據(jù)多個示例，討論每種耦合方法的優(yōu)缺點，并針對如何獲得最佳結果進行探討。無論您的
