泰克Keithley2606B高密度儀器源測量單元高密度系統SourceMeter (SMU)儀器在1U高的機箱中提供四條20瓦SMU通道。由于制造商需要優化占地空間并減少測試時間和成本，2606B 將密度提高 3 倍、提高吞吐量并盡量減少增加測試設備機架的需求。此SMU為測試激光二極管、LED、2和3端子半導體等生產的理想解決方案。

泰克Keithley2606B高密度儀器源測量單元

1.將密度提高 3 倍

當生產測試機架空間增加且您需要盡量減少增加新測試機架的需求時，與傳統 2U 外形的 SMU 相比，2606B 可以在同一機架區域中增加更多通道容量。

• 方便堆疊和安放

• 無需增加 1U 隔熱間距

• 相同機架空間內的通道數提高 3 倍

• 通道數相同但占用空間減少 3 倍

2.兼具兩臺 2602B 的功能

在 1 U 外形中體驗相當于業內*的 Keithley 2602B 系統 SourceMeter 的優的測量完整性、同步、速度和精度。2606B 也與 2602B 使用同樣的模擬、數字 I/O 和 TSP Link 連接器，實現無縫遷移。

• 0.015% 基本測量精度

• 6 1/2 位分辨率

• 100nA 低電流范圍與 2pA 靈敏度

• 8 針 Phoenix 模擬和 25 針數字 I/O 連接器

3.系統性能提供大的生產吞吐量

測試腳本處理器 (TSP®) 技術可在 SMU 儀器內嵌入和執行完整測試程序，提供業界優的性能。TSP-Link® 技術支持擴展多達 64 條通道，支持高速、SMU-per-pin 并行測試（而不使用主機）。<500 ns 時所有通道同時獨立受控。

• 消除與 PC 之間耗時的總線通信

• 兼容儀器 2602B SourceMeter 的 TSP 腳本代碼

• 連接多達 32 個 TSP-Link 節點或 64 條獨立 SMU 通道

• 隨著測試要求變化輕松重新配置

產品型號：