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原裝美國(guó)Olson IES掃描式?jīng)_擊回波測(cè)試儀

參   考   價(jià):面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號(hào):

品       牌:其他品牌

廠商性質(zhì):經(jīng)銷商

所  在  地:北京市

更新時(shí)間:2024-09-25 08:59:15瀏覽次數(shù):1699

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原裝美國(guó)Olson IES掃描式?jīng)_擊回波測(cè)試儀美國(guó)Olson IES掃描式?jīng)_擊回波測(cè)試系統(tǒng)





廠家:美國(guó)OLSON

原理:沖擊回波法

用途:主要用于連續(xù)、快速的測(cè)試混凝土板、混凝土路面、飛機(jī)跑道、隧道的襯砌、其它混凝土結(jié)構(gòu)的厚度和缺陷(包括孔洞、裂縫、蜂窩),也可對(duì)混凝土結(jié)構(gòu)中預(yù)應(yīng)力管內(nèi)未灌漿區(qū)域和灌漿不密實(shí)區(qū)域進(jìn)行測(cè)試,并能對(duì)厚度、缺陷進(jìn)行三維成像。

詳細(xì)介紹:

IES掃描式

原裝美國(guó)Olson IES掃描式?jīng)_擊回波測(cè)試儀

美國(guó)Olson IES掃描式?jīng)_擊回波測(cè)試系統(tǒng)

 

 

廠家:美國(guó)OLSON

原理:沖擊回波法

用途:主要用于連續(xù)、快速的測(cè)試混凝土板、混凝土路面、飛機(jī)跑道、隧道的襯砌、其它混凝土結(jié)構(gòu)的厚度和缺陷(包括孔洞、裂縫、蜂窩),也可對(duì)混凝土結(jié)構(gòu)中預(yù)應(yīng)力管內(nèi)未灌漿區(qū)域和灌漿不密實(shí)區(qū)域進(jìn)行測(cè)試,并能對(duì)厚度、缺陷進(jìn)行三維成像。

詳細(xì)介紹:

IES掃描式?jīng)_擊回波測(cè)試系統(tǒng)是目前的沖擊回波測(cè)試儀,由美國(guó)Olson公司首先研制成功,它除了具有一般沖擊回波儀器的所有功能外,不僅加快了測(cè)試的速度、減輕了勞動(dòng)量,而且增加了很多新的功能,如對(duì)混凝土厚度變化進(jìn)行三維成像、混凝土結(jié)構(gòu)中的缺陷三維成像、對(duì)混凝土中預(yù)應(yīng)力管中的未灌漿區(qū)域進(jìn)行三維成像等*進(jìn)的功能。

 

基本組成:

 

1.Freedom Data PC數(shù)據(jù)采集單元

技術(shù)特點(diǎn):

●高亮度彩色LCD,在強(qiáng)光下和夜晚均可使用

●內(nèi)置鋰電池可連續(xù)使用10~14小時(shí),也可使用 110/220V交流電源或12V直流電源

●插件式多通道數(shù)據(jù)采集模塊,可跟不同傳感器組合形成多種測(cè)試系統(tǒng)。

●防震、防水設(shè)計(jì),適合現(xiàn)場(chǎng)惡劣條件

●10/100MB LAN、USB、CRT,串/并口

●模擬/數(shù)字16通道PCI數(shù)據(jù)采集卡

●40GB硬盤及外置CD-RW

●National Instruments short-form PCI 12位A/D卡

●采樣率:每個(gè)通道1M/秒、16通道可同時(shí)按此速率采樣

●增益范圍:×1至×8000標(biāo)準(zhǔn) ●頻率范圍:DC-500,000Hz

 

2.IE Scanner 掃描式?jīng)_擊接收單元

技術(shù)特點(diǎn):

●內(nèi)置螺線管沖擊器

●帶有6個(gè)位移傳感器的滾動(dòng)傳感器測(cè)試輪

●一體化的沖擊器單元及接收器單元,使得測(cè)試非常快捷

●帶有微型麥克風(fēng),方便通過(guò)聲音辨析淺的缺陷

●帶有1.5米長(zhǎng)可調(diào)節(jié)延長(zhǎng)桿,非常便于地面和頂面測(cè)試

 

技術(shù)參數(shù):

測(cè)試厚度范圍:9~100cm;

測(cè)試精度:2%(在已知厚度處標(biāo)定后);

英制或公制顯示;

測(cè)試時(shí)不需要耦合劑;

測(cè)試時(shí)只需一個(gè)測(cè)試面;

測(cè)試速度是慢速步行的速率;

滾動(dòng)傳感器,每隔1英寸(2.54cm)進(jìn)行一次測(cè)量;

對(duì)表面有油漆或粘結(jié)良好的瓷片,同樣可以測(cè)試;

對(duì)板厚度或內(nèi)部缺陷可進(jìn)行三維成像,更直觀顯示缺陷。

原裝美國(guó)Olson IES掃描式?jīng)_擊回波測(cè)試儀

原裝 TRIPLETT 200

原裝 TRIPLETT 2000測(cè)試儀Triple

原裝Megger PAT450

原裝 Megger DET2/3 接地測(cè)試儀Meg

原裝Megger 830220

原裝 Megger DET2/3 接地測(cè)試儀Meg

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