產地類別 | 國產 | 價格區間 | 面議 |
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儀器精度 | 萬分之一克 | 儀器量程 | 20-100g |
儀器種類 | 分析天平 | 應用領域 | 環保,生物產業,能源,電子,電氣 |
產品簡介
詳細介紹
FA1004ND (100g/0.0001g)硅晶體分析天平符合國家JJF1847-2020《電子天平校準規范》/JJG1036-2008《電子天平檢定規程》
適用于硅片尺寸:
158X±0.5mm*158X±0.5mm至230±0.5mm*230士0.5mm
單/多晶硅片
方片/準方片
P/N型硅片
硅片厚度≥110um生產工藝的測量
易碎片狀物品稱重的高精度天平
304不銹鋼接地屏蔽防風罩
特殊稱重桿結構
可選配低風阻風葉秤盤時控全自動內校系統指向性數據發送
傳感器保護設計(防破損碎片掉落)
硅晶片放置在支撐盤上,形成彈性接觸,連接板之間的空間有利于托起片狀物品,被測片狀物品頂部與底部空氣可以流通,減少氣流對片狀物品稱重的影響.