產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 10萬(wàn)-30萬(wàn) |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子 | 紅外 | 全波段 |
Vcsel芯片隱裂(cracks)、InGaAs瑕疵紅外無(wú)損檢測(cè)
Vcsel芯片氧化孔徑測(cè)量
法拉第激光隔離器,Faraday Isolator近紅外無(wú)損檢測(cè)
die chip 失效分析
紅外透射Wafer正反面定位標(biāo)記重合誤差無(wú)損測(cè)量
硅基半導(dǎo)體Wafer、碲化鎘CdTe、碲鎘汞HgCdTe襯底無(wú)損紅外檢測(cè)
太陽(yáng)能電池組件綜合缺陷紅外檢測(cè)