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Lumina薄膜缺陷檢測儀 詳細摘要: Lumina AT2薄膜缺陷檢測儀實現亞納米薄膜涂層、納米顆粒、劃痕、凹坑、凸起、應力點和其他缺陷的全表面掃描和成像。實用于透明、硅、化合物半導體和金屬基底。在...
產品型號:AT2 所在地:上海市 更新時間:2024-06-28 參考價:¥ 59 在線留言 -
Lumina薄膜缺陷檢測儀 詳細摘要: Lumina AT1薄膜缺陷檢測儀實現亞納米薄膜涂層、納米顆粒、劃痕、凹坑、凸起、應力點和其他缺陷的全表面掃描和成像。實用于透明、硅、化合物半導體和金屬基底。在...
產品型號:AT1 所在地:上海市 更新時間:2024-06-28 參考價:¥ 59 在線留言