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詳細摘要： 美國博曼K系列XRF高精度涂層測量系統，具備12英寸×12英寸的測量區域，適用于多種樣品檢測。

詳細摘要： B系列是博曼的基礎機型和常規機型。該型號采用自上而下的測量方式。配備固定樣品臺可實現手動操作。測量時將樣品放入樣品倉，通過觀察視頻圖像來對準屏幕上十字線內的位置...

詳細摘要： Filmetrics F10-RT 薄膜測量儀同步測量薄膜的反射率/穿透率，F10-RT使Filmetrics的分析能力實現了同步測量反射率與穿透率。只要立即的...

詳細摘要： Filmetrics 光學膜厚測量儀測厚儀嵌入式在線診斷免費離線分析軟件精細的歷史數據功能，幫助用戶有效的存儲，重現與繪制測量結果

詳細摘要： Filmetrics F10-RT 薄膜分析儀薄厚測量 同步測量薄膜的反射率/穿透率，如需了解更多，查詢。。。。

詳細摘要： 桌面式薄膜測厚儀美國Filmetrics F50 光學膜厚測量儀自動化薄膜厚度繪圖系統 依靠 F50的光譜測量系統，可以很簡單快速地獲得Z大直徑 450 毫米的...

詳細摘要： Filmetrics 光學薄膜測厚儀 F40 結合顯微鏡的薄膜測量系統 ，精密光譜測量系統讓用戶簡單快速地測量薄膜的厚度和光學常數，通過對待測膜層的上下界面間反...

詳細摘要： Filmetrics 光學膜厚測量儀依靠 F60 的光譜測量系統，可以很簡單快速地獲得薄膜的厚度分布圖。 采用 r-θ 極坐標移動平臺，可以非常快速的定位所需測...

詳細摘要： Film Sense FS-1多波長橢偏儀采用壽命長 LED 光源和非移動 式部件橢偏探測器，可在操作簡單的緊湊型橢偏儀中實現快速和可 靠地薄膜測量。大多數厚度...

詳細摘要： -Filmetrics光學膜厚測量儀：不論您是想要知道薄膜厚度、光學常熟，還是想要知道材料的反射率和透過率，F20都能滿足您的需要。僅需花費幾分鐘完成安裝，通過...

詳細摘要： 借助F54-XY-200薄膜厚度測量儀光譜反射系統，可以輕松地測量尺寸達200 x 200mm樣品的薄膜厚度電動XY工作臺自動移動到選定的測量點并提供厚度測量，...

詳細摘要： -Filmetrics光學膜厚測量儀：F32的光譜分析系統采用半寬的3U rack-mount底盤，加上附加的分光計，可達到四個不同的位置（EXR和UVX版本多...

詳細摘要： 借助F54-XYT-300薄膜厚度測量儀的光譜反射系統，可以快速輕松地測量200 x 200mm樣品的薄膜厚度電動XY工作臺自動移動到選定的測量點并提供快速的厚...

詳細摘要： Filmetrics薄膜厚度測量儀：F3-sX系列膜厚測量儀利用光譜反射原理，可以測試眾多半導體及電解層的厚度，可測大厚度達3毫米。此類厚膜，相較于較薄膜層表面...

詳細摘要： Filmetircs 光學膜厚測量儀滿足薄膜厚度范圍15nm到3mm的厚度測試系統，如需了解更多 光學膜厚測量儀膜厚測試儀 F3-sX 信息，咨詢。

詳細摘要： HORIBA 一鍵式全自動快速橢偏儀是新型的全自動薄膜測量分析工具。采用工業化設計，操作簡單，可在幾秒鐘內完成全自動測量和分析，并輸出分析報告。是用于快速薄膜測...

詳細摘要： -Filmetrics膜厚測量儀-F54系列的產品能以一個電動R-Theta 平臺自動移動到選定的測量點以每秒測繪兩個點的速度快速的測繪薄膜厚度, 樣品直徑達4...

詳細摘要： Film Sense FS-1™多波長橢偏儀采用壽命長 LED 光源和非移動 式部件橢偏探測器，可在操作簡單的緊湊型橢偏儀中實現快速和可靠地薄膜測量...

詳細摘要： HORIBA 研究級經典型橢偏儀是一種無損無接觸的光學測量技術，基于測量線偏振光經過薄膜樣品反射后偏振狀態發生的改變，通過模型擬合后得到薄膜、界面和表面粗糙層的...

詳細摘要： HORIBA 智能型多功能橢偏儀，多功能性設計，配置靈活，具備多角度測量能力，可方便實現在線與離線配置切換。是一款針對單層和多層薄膜進行簡單，快速，表征和分析的...