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Thorlabs剪切干涉儀，光束特性分析 

• 提供5種型號，光束直徑范圍從1到50 mm

• 定性地確定光的準直性

• 磁鐵球將板固定在底座上

• 適用的光束直徑刻在板上

楔形光學平板通過三個磁塊夾持住。

根據所用剪切板的不同，剪切干涉儀可用于直徑小到1 mm、大到50 mm的入射光。剪切干涉儀產生的干涉條紋對光束發散很敏感，因此可以用來定性地確定光是否準直。如右圖所示，剪切板有三個鋼球，以磁性吸附的方式固定在板的底部。當采用不同直徑的光束時，這種磁性固位機制易于更換不同的平板。兼容的平板和底座型號請查看規格標簽

此外，底板的背面鉆有通孔，因此可以使得透射光通過楔形光學平板繼續毫無zu 礙地傳播。除了SI500，所有型號的通孔均為SM1螺紋(1.035"-40)。SI500的通孔為?2.95英寸(?75 mm)滑孔。底板、散射屏和剪切板包裝在一個手提箱內。

請注意由于SI100、SI254和SI500剪切板的厚度原因，剪切板的后表面會超出安裝板(如右圖所示)。因此，當插入或者移除這些板的時候要格外小心，尤其是安裝了SICP或者SICPSM1籠式轉接板的情況下。

Thorlabs剪切干涉儀，光束特性分析
+1	數量	文檔	產品型號 - 公英制通用
			SI035 剪切干涉儀，1-3 mm光束直徑剪切板
			SI050 剪切干涉儀，2.5-5 mm光束直徑剪切板
			SI100 剪切干涉儀，5-10 mm光束直徑剪切板
			SI254 剪切干涉儀，10-25.4 mm光束直徑剪切板
			SI500 剪切干涉儀，25.4-50 mm光束直徑剪切板