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當前位置:北京亞科晨旭科技有限公司>>微納加工平臺-圖形發生>>Hybrid Bonding 混合鍵合>> EVG 301 Wafer CleaningEVG 301 單晶圓清洗系統
EVG 301 Single Wafer Cleaning System
EVG 301 單晶圓清洗系統
研發型單晶圓清洗系統
EVG301半自動化單晶片清洗系統采用一個清洗站,該清洗站使用標準的去離子水沖洗以及超音速,毛刷和稀釋化學藥品作為附加清洗選項來清洗晶片。
EVG301具有手動加載和預對準功能,是一種多功能的R&D型系統,適用于靈活的清潔程序和300 mm的能力。
EVG301系統可與EVG的晶圓對準和鍵合系統結合使用,以消除晶圓鍵合之前的任何顆粒。旋轉夾頭可用于不同的晶圓和基板尺寸,從而可以輕松設置不同的工藝。
特征
使用1 MHz的超音速噴嘴或區域傳感器(可選)進行高效清潔
單面清潔刷(選件)
用于晶圓清洗的稀釋化學品
防止從背面到正面的交叉污染
*由軟件控制的清潔過程
選件
帶有紅外檢查的預粘接臺
非SEMI標準基材的工具
技術數據
晶圓直徑(基板尺寸)200、100-300毫米
清潔系統:開室,旋轉器和清潔臂
腔室:由PP或PFA制成(可選)
清潔介質:去離子水(標準),其他清潔介質(可選)
旋轉卡盤:真空卡盤(標準)和邊緣處理卡盤(選件),由不含金屬離子的清潔材料制成
旋轉:zui高3000 rpm(5秒內)
超音速噴嘴:頻率:1 MHz(3 MHz選件)
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