產品簡介

WGG2-201型光學高溫計由上海自動化儀表三廠*生產制造，我廠生產的光學高溫計，又稱“非接觸式高溫儀表”，一般用來測量700～3200℃范圍澆鑄、軋鋼、鍛壓、熱處理和玻璃熔融時的溫度，具有結構簡單、使用方便、量...

產品詳細介紹

  WGG2-201型光學高溫計

【產品導讀】

· WGG2-201型光學高溫計由上海自動化儀表三廠*生產制造，我廠生產的光學高溫計，又稱“非接觸式高溫儀表”，一般用來測量700～3200℃范圍澆鑄、軋鋼、鍛壓、熱處理和玻璃熔融時的溫度，具有結構簡單、使用方便、量程較寬、有較高的精度等優點。本廠愿竭誠心為國內外客商提供優質的產品和優良的技術服務！ 

【產品簡介】

    WGG2-201型光學高溫計是非接觸式測量高溫的儀表，當被測量的溫度高于熱電偶所能使用的范圍，以及熱電偶不可能裝置或不適宜裝置的場所，用光學高溫計一般可以滿足這個要求。它廣泛地用來測量冶煉、澆鑄、軋鋼、玻璃熔窖、鍛打、熱處理等溫度，是冶金、化工和機械等工業生產過程中*的溫度測量儀表之一，并符合JB/T2167-1999標準。

【主要技術指標】

◆WGG2型光學高溫計能在環境溫度10-50℃，相對濕度不大于85%的情況下連續工作。
◆物鏡與目標之間的距離不小于700mm。
◆標尺長度不小于90mm。
◆凈重約1.8公斤。

【型號規格】

【結構與原理】

 （一）原理與結構

      產品的原理基于維恩公式，采用已知溫度的亮度（高溫計燈泡的燈絲的亮度）與被測物體的亮度進行比較來測量物體的溫度，通過光學系統在一定波段（0.66μm）范圍比較燈絲與被測物體的表明亮度，使燈絲的亮度和被測物體的亮度相均衡，采用數字檢測及顯示技術讀出物體的亮度溫度。
      數字顯示式光學高溫計由光學系統和電測系統構成，結構如圖一所示：

（二）測量與讀數

1. 進行亮度平衡時，應使燈絲的頂部亮度進行平衡，否則會產生很大的誤差。
   2. 瞄準被測物體，接通電源，使用S鍵（量程鍵）切換量程，根據吸收玻璃旋鈕2的指向進行選擇。
   3. 旋轉滑線電阻盤3，使燈絲的電流逐漸的增大，調節燈絲的亮度到燈絲頂部的象隱滅在被測物體的象中，讀取顯示的溫度值。光學高溫計燈泡燈絲的隱滅情況如圖四所示。
      為了獲得正確的讀數，應該逐漸的調節高溫計燈泡燈絲的電流，先從從暗到亮，從亮到暗反復兩次，每次調整到燈絲隱滅時讀出溫度值，然后將四次讀數的平均值作為被測物體的亮度溫度。
   4. 數據處理
      當需要存儲當前的數據時，要在松開電源開關7后，按下M/R鍵10（存儲再讀鍵），此次的測量溫度值被記錄，一共可以存儲十組數據。當需要查看以前的存儲數據時，在關機后按下M/R鍵10，進入數據回現模式，自動顯示zui近一次保存的數據，每按一次M/R鍵，顯示上一次保存的數據，顯示完十個數據后自動跳回*個數據，如圖所示：

5. 求出真實溫度

      光學高溫計是按黑體進行溫度刻度的，但在實際使用中，大部分被測物體的單位發射率?λ都小于1，故用光學高溫計測得的亮度溫度S℃總是低于該物體的真實溫度T℃需要按照附表2修正曲線加以修正。
      修正公式：
      真實溫度T℃=光學高溫計讀數S℃ 溫度修正值Δt℃
      物體的真實溫度T℃和其亮度溫度S℃及單色發射率ελ的關系式如下：

      修正方法：
      根據被測對象，從附表1中查出其單色發射率?λ。由高溫計的zui終讀數S℃，從曲線圖的橫坐標中查出其對應位置，再從縱坐標中查出對應S℃及該種物體的的單色發射率?λ時的溫度修正值?t℃。由修正公式求出其真實溫度T℃。
      6. 關機
      當光學高溫計在待機15s后，無任何操作，即可關機。

 附表1.有效波長λ=0.66μm時各種金屬材料的單色輻射率

附表2. 光學高溫計讀數修正曲線圖

【應用范圍】

    WGG2-201型光學高溫計適用于各種冶煉、澆鑄、軋鋼、玻璃熔窖、鍛打、熱處理等現場溫度測量。

【高溫計使用注意事項】

    (1)盡量避免黑度系數的影響。光學高溫計的標尺是按黑體標定的.而實際的被測物體都不是黑體，儀表的讀數應當技式(3-50)進行修正、求出真實據度。由于黑度系數與物體的材質、表面狀況、溫度及波長等有關，雖然一些書籍中列入了某些材彩的q值，也只告訴廠一個估值范圍，實際應用中較難估計準確。為了減少這一測量誤差，可以在測量中使被測對象盡可能地接近黑體。例如，從滬門上的小孔觀測爐膛內部空間的溫度，可以認為其黑度系數近似為1，根據式(3—50)，儀表示值就基本上是護膛內的真實溫度，無須加以修正了。

(2)盡量減少中間介質的吸收。被測物體至高溫計之間的水蒸氣、二氧化碳;灰塵等均會吸收被測物體的輻射能，減弱到達高溫計的亮度，使測量結果低于實際溫度，因此.應當盡可能在清潔環境中測量，以克服中間介質吸收的影響。

(3)測量距離的限制。由于中間介質的影響存在，測量距離忿大，造成的誤差也愈大。另一方面根據儀器光學系統設計的要求，測量距離要大于700mm，因此，光學高溫計的測量距離在 1-2m內為好。

(4)防止非自身輻射的影響。如果到達光學高溫計的輻射線不僅有被測物自身的輻射，還有其它物體發出經被測物體表面反射而進入物鏡的射線時，使測量結果高于實際物體溫度。