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天津綜科科技有限公司
主營產品： 粉塵中游離二氧化硅檢測儀,精密光學平臺,TJ270-30A紅外分光光度計 |
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2024-7-25 閱讀(566)
FSA-1光纖光譜儀及應用光譜學實驗
簡介：
光譜學是一門主要涉及物理學及化學的重要交叉學科，通過光譜來研究光波與物質之間的相互作用。光譜是電磁輻射按照波長的有序排列。根據實驗條件的不同，各個輻射波長都具有各自的特征強度。通過光譜的研究，人們可以得到原子、分子等的能級結構、能級壽命、電子的組態、分子的幾何形狀、化學鍵的性質、反應動力學等多方面物質結構的知識。但是，光譜學技術并不僅是一種科學工具，在化學分析中它也提供了重要的定性與定量的分析方法。
光纖光譜儀作為一種成本低、小型化、穩定性高的分析儀器，國內不少院校開始開設相關課程以滿足光譜產業化發展的人才需求。該實驗系統旨在讓讓光電專業學生通過這套系統，提前了解相關理論，并應用理論處理一些實際測量的問題，并可以作教師和學生的一些自主研發實驗提供平臺。
原子發射光譜的測量
氣體放電燈的光譜測量以及氫原子里德伯常數計算
輝光球發射光譜測量及輝光氣體成分判斷
激光和LED發射光譜的測量
激光光譜的測量
LED發光二極管發射光譜的測定實驗
熱輻射光源光譜的測定
光纖溴鎢燈發射光譜測量。
熱輻射溫度與中心波長的關系
透射光譜的測量
物體透射光譜的實驗搭建和測量
中性濾光片的透射光譜測量
干涉濾光片的透射光譜測定
有色玻璃的透過率測定（選做）
反射光譜的測定
物體反射光譜的實驗搭建和測量
反射光譜測量的原理和標定
幾種樣品的反射光譜測量
薄膜厚度和光學常數測量
干涉薄膜反射光譜的測定
根據干涉極值（峰谷）測定薄膜的厚度
根據反射光譜用擬合算法來測定薄膜的厚度和光學常數。
色度學測定
三刺激値的概念和測定
透明物質的色度測量
紙張涂料的色度測量
發光體的色度測量
規格參數：
1.光纖光譜儀：波長范圍：350-1000nm；光學分辨率：2nm；波長精度±1nm狹縫：25um；雜散光＜0.05%@600nm光纖連接器：SMA905；探測器：2048線陣 CCD；信噪比：250：1 全光譜；積分時間：3ms-10分鐘；A/D :12位 USB 通訊與供電，無需外部電源；功耗：120mA @ 5VDC；尺寸：64mm×89mm×36mm；重量：200g。
2.光纖鹵鎢燈光源：波長范圍：350-2500nm；燈泡功率：150W；輸出光強可調；預熱時間：10 分鐘；光源壽命：2000 小時；光輸出穩定性：0.15%。
3.光纖跳線：光纖芯徑：200um，600um；數值孔徑：0.22NA；長度：500cm； 鎧甲護套；
4、反射式光纖跳線：探頭端部采用 6 繞 1 光纖束設計，中央1 根光纖收集反射光，6 根照明光纖；光纖芯徑：200um；數值孔徑 NA：0.22；鎧甲護套，SMA905接頭。
5.高亮度紅光/綠光/藍光/白光 LED 光源：波長 630nm、530nm、465nm；
6.測試樣品組件：
鍍膜硅片；選擇吸收濾光片、截止濾光片、中性密度濾光片、帶通濾光片；顏色濾光片，反射色板紙張；
7.化學實驗器具：石英比色皿、熒光比色皿等。
8.多種光譜測試平臺：包括三通樣品池，反射探頭支架，透射式樣品支架；各種光學調整架及機械夾持件，包括導軌、滑塊、調整架等。
9.薄膜測厚軟件：擬合算法，薄膜測量厚度范圍 20nm-100um，可同時測量1-4層薄膜。
10光譜測量綜合軟件：光譜模式下操作光譜儀采集光譜數據，支持多種格式的數據導出，軟件內置多種應用模塊，包括顏色測量、透過率、反射率測量等。
