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馬爾文帕納科

TECHNOLOGY

當前位置:馬爾文帕納科>>技術文章

  • 2020

    01-17

    接下來要說是關于X射線衍射儀的,別錯過哦!

    X射線衍射儀是利用X射線在晶體中的衍射現(xiàn)象來獲得衍射后X射線信號特征,經(jīng)過處理得到衍射圖譜。分析其衍射圖譜,獲得材料的成分、材料內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息的研究手段。X射線衍射儀的原理:x射線的...
  • 2019

    08-20

    分析X射線熒光光譜儀的產(chǎn)品特點

    X射線熒光光譜儀的不斷完善和發(fā)展所帶動的X射線熒光分析技術已被廣泛用于冶金、地質(zhì)、礦物、石油、化工、生物、醫(yī)療、刑偵、考古等諸多部門和領域。X射線熒光光譜分析不僅成為對其物質(zhì)的化學元素、物相、化學立體...
  • 2019

    07-28

    淺談X射線熒光光譜儀的物理原理

    X射線熒光光譜儀是一種快速的、非破壞式的物質(zhì)測量方法。X射線熒光(X-rayfluorescence,XRF)是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時激發(fā)出的次級X射線。這種現(xiàn)象被廣泛用于元素分析和化學分...
  • 2019

    07-21

    來談談關于X熒光光譜儀的優(yōu)點

    X熒光光譜儀(XRF)由激發(fā)源(X射線管)和探測系統(tǒng)構(gòu)成。X射線管產(chǎn)生入射X射線(一次X射線),激發(fā)被測樣品,產(chǎn)生X熒光(二次X射線),探測器對X熒光進行檢測。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會放射出二次X...
  • 2019

    05-28

    zeta電位儀的測量方法的解析

    zeta電位儀的測量方法:電泳法對許多熟悉利用此法進行高分子分離的人來說,顆粒電泳也是一個類似現(xiàn)象。懸浮于介質(zhì)中的顆粒被置于一電場中;如果帶電他們會在電場產(chǎn)生流動,陽性顆粒朝負極流動,陰性顆粒朝正極流...
  • 2019

    05-05

    高分辨率 X 射線衍射儀可對幾乎的材料進行無損分析

    高分辨率X射線衍射(HRXRD)是一系列應用技術,用于對大多數(shù)幾乎的分層結(jié)晶結(jié)構(gòu)材料進行無損分析。能夠揭示和量化結(jié)構(gòu)參數(shù),對于成功應用這些材料是至關重要的。目前,大多數(shù)現(xiàn)代半導體器件結(jié)構(gòu)是在由硅、硅鍺...
  • 2019

    04-26

    使用微量熱法進行生物材料分析時采用哪兩種量熱技術

    量熱法是測量化學反應或物理事件所引起熱量變化的一種技術。量熱法所依賴的事實是,所有化學反應都涉及能量變化,通常伴有熱量釋放(放熱)或熱量吸收(吸熱)。與量熱法相比,微量熱法的靈敏度超高,可測定少量樣品...
  • 2019

    04-23

    X射線衍射儀的原理解析

    X射線衍射儀的原理:x射線的波長和晶體內(nèi)部原子面之間的間距相近,晶體可以作為X射線的空間衍射光柵,即一束X射線照射到物體上時,受到物體中原子的散射,每個原子都產(chǎn)生散射波,這些波互相干涉,結(jié)果就產(chǎn)生衍射...
  • 2019

    04-12

    EmpyreanX射線衍射可實現(xiàn)哪些X 射線成像測量技術

    Empyrean銳影X射線衍射系統(tǒng)是荷蘭帕納科公司繼X’Pert專家系統(tǒng)后,十年一劍,推出的全新X射線衍射儀,可滿足當前4大類X-射線分析要求的平臺,即衍射、散射、反射和CT影像X射線分析平臺,樣品可...
  • 2019

    04-08

    Empyrean 支持各種 X 射線散射技術

    EmpyreanNano版多功能X射線散射平臺是一種混合實驗室X射線散射儀。這款*的設備支持多種技術,以多種長度比例進行(納米)材料的結(jié)構(gòu)鑒定。與市場上的其它實驗室儀器不同,EmpyreanNano版...
  • 2019

    04-02

    兩種類別的X 射線熒光光譜的區(qū)別在哪

    X射線熒光(XRF)光譜測定是一種無損式分析技術,可用于獲取不同類型材料的元素信息。它已在許多行業(yè)和應用領域中得到廣泛運用,包括:水泥生產(chǎn)、玻璃生產(chǎn)、采礦、選礦、鋼鐵及有色金屬、石油和石化、聚合物及相...
  • 2019

    03-26

    Zeta電位儀的特點解析

    Zeta電位儀可用于測定分散體系顆粒物的固-液界面電性(ζ電位),也可用于測量乳狀液液滴的界面電性,也可用于測定等電點、研究界面反應過程的機理。通過測定粉體的Zeta電位,從pH-Zeta電位關系圖上...
  • 2019

    03-25

    Aeris,重新定義臺式X射線衍射儀

    2016年11月,X射線分析儀器和軟件供應商帕納科宣布推出全新的Aeris臺式X射線粉末衍射儀(XRD)。這款新系統(tǒng)的主要優(yōu)點是易于使用并可為客戶帶來諸多好處,能夠快速、地提供被測材料的物相信息。Ae...
  • 2019

    03-21

    X 射線熒光技術可用于測定多種類型樣品的化學成分

    X射線熒光(XRF)是可用于測定多種類型樣品(包括固體、液體、漿料和疏松粉末)化學成分的分析技術。X射線熒光還用于確定分層和涂層的厚度和成分。它可以分析從鈹(Be)到鈾(U)的各種元素,涵蓋從100w...
  • 2019

    03-18

    多功能X射線衍射儀可實現(xiàn)多種功能應用

    多功能X射線衍射儀是全新概念的預校準光路全模塊化的X射線衍射儀可實現(xiàn)多種功能應用。不同光路系統(tǒng)及各種樣品臺等附件均可以在幾分鐘內(nèi)實現(xiàn)高精度的更換。測角儀由于采用DOPS直接光學編碼器,直流馬達驅(qū)動,*...
  • 2019

    03-12

    能量色散式 X 射線熒光光譜儀新成員助您輕松完成實驗

    帕納科隆重推出MiniPal系列能量色散式X射線熒光光譜儀的新成員–MiniPalQC,它的設計宗旨是隨時隨地根據(jù)您的需要提供快速、準確和精密的分析結(jié)果。作為像MagiX、CubiX和Axios這樣的...
  • 2019

    03-05

    納米顆粒跟蹤分析技術的原理和實際應用

    NanoSight開發(fā)出一種*的高分辨率,實時動態(tài)納米顆粒檢測技術,可以對于10nm–2000nm范圍內(nèi)顆粒進行直接觀察粒徑檢測。如果對于復雜體系中的特定顆粒進行熒光標記,此技術可以對于被標記的顆粒進...
  • 2018

    07-27

    zeta電位儀樣品制備的濃度問題分析

    zeta電位儀樣品制備的濃度問題分析zeta電位儀樣品制備有2個關鍵問題:1.合適的濃度;2.保證檢測體系和實際體系的一致性,包括:pH、系統(tǒng)的總離子濃度、存在的任何表面活性劑或聚合物的濃度。我們今天...
  • 2018

    06-26

    Insitec在線粒度分析儀的性能特點介紹

    Insitec在線粒度分析儀的性能特點介紹Insitec在線粒度分析儀是實現(xiàn)選礦生產(chǎn)過程控制和管理自動化的基礎,該在線粒度分析儀主要用于對礦山球磨和分級工藝過程中通過輸送管道或槽輸送的礦漿粒度顆粒粒度...
  • 2018

    05-29

    淺談zeta電位儀的安裝方式

    淺談zeta電位儀的安裝方式1.打開電腦主機箱,安裝視頻采集卡,將視頻采集卡安裝在電腦主板上的PCI插槽中。2.安裝連接所有接線。注意:串口線必須連接到計算機的COM1的串口上,其他串口不行的。視頻線...

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