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產品簡介
詳細介紹
上光六廠精密測量顯微鏡
上光六廠精密測量顯微鏡功能特點:
107JPC測量顯微鏡小型、多用途的精密測量顯微鏡,結構緊湊、成像清晰、精度高,可作二維坐標的精密測量。儀器帶有可調光的落射、透射及多種濾色鏡,給各種復雜形狀的測量工作帶來很大方便。可連接CCD攝像頭,亦可連接計算機進行數據處理。
■產品特點
107JPC配有計算機圖像處理系統。利用攝像頭在計算機屏幕上直接瞄準,操作方便,可靠性強。通過計算機接口和二維測量程序可使被測工件的輪廓直接顯示在計算機屏幕上并可進行編輯。二維測量程序包括點、線、園、弧、直線度、圓度、螺紋、凸輪等測量功能。本儀器放大倍數高,工作臺除作X,Y坐標的移動外,還可以作360°的旋轉。照明系統可作透、反射照明。
■測量軟件:
q輔助對焦
q十字線采點
q元素測量與預制:點、線、圓、弧、槽、橢圓、矩形、圓環、云線、角度、焦面
q元素構造:中心點、交點、中點、線、園、角度、距離、云線等的構造
q圖形處理:坐標平移、工件擺正、任意軸擺正,坐標系重置圓形縮放、圖形平移、圖形 選中及刪除等多種處理,測量更方便更快捷,提高測量效率
q測量方法多樣(自動尋邊、對比測量、局部放大采點),可以滿足用戶不同需求,大大提高使用的方便性和測量精度。
qSPC專業統計分析工具,分析圖形有平均數全距管制圖、直放圖、CPK偏移圖,利用數據統計原理, 有效控制生產,不斷改進品質
q測量數據直接發送到AutoCAD中,測量的圖形可以用dxf文檔保存,也可發送到Excel中進行統計分析
q計錄用戶程序、編輯命令、教導執行
q支持雙顯示器和多種語言界面的切換
q用戶可根據測量精度需求選擇多點測量、規定點數測量、放大采點構造、對比方波進 行工件測量。
q軟件帶有系統誤差修正功能。目前可對坐標定位系統誤差和垂直度系統誤差進行補償。對坐標定位系統誤差的補償,有線性補償和區段補償兩種方法可供選用。
參數:
1.測量范圍: X:150mm;Y:100mm
2.工作臺尺寸: 355×240mm (玻璃臺面尺寸:210×175mm)
3.數顯分辨率: 0.0005mm
4.儀器的回程誤差: 0.002mm
5.儀器測量準確度: ≤(3+L/25)um(L為被測長度)
6.儀器的質量: 32.5kg
7.儀器外形尺寸: 420×550×600mm
8.輸入電壓: AC220/50Hz ±10%(工作照明電壓5V/LED)
9.光學基本參數
物鏡 | 目鏡 | 總放大倍數 | 工作距離 (mm) | 視場直徑 (mm) | ||
放大倍數 數值孔徑 | 焦距(mm) | 放大倍數 | 焦距 (mm) | |||
4×/0.1 | 28.8 | 10× | 25 | 40× | 17.50 | 3.40 |
10×/0.25 | 15.4 | 100× | 11.60 | 1.40 | ||
40×0.65 | 4.4 | 400× | 0.66 | 0.35 |