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自動力譜成像原子力顯微鏡
自動力譜成像原子力顯微鏡：高起伏樣品或多個樣品自動納米機械性能分析針對不同模型來測量粘彈性、硬度、黏附力與壓入深度智能軟件自主處理測量需求樣品高度起伏可達5mm...
型號： Nanosurf ...
所在地：北京市
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面議更新時間：2024/11/20 12:08:30
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量子鉆石原子力顯微鏡自動力譜成像顯微鏡顯微鏡原子力顯微鏡報價供應原子力顯微鏡
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臺階儀
Alpha-Step D-500臺階儀支持臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力的2D測量。 新的光學杠桿傳感器技術提供高分辨率測量，大垂直范圍和低觸力測量功能。 探針...
型號： Alpha-Ste...
所在地：北京市
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面議更新時間：2024/11/20 12:06:50
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探針式輪廓儀臺式探針輪廓儀探針式臺階儀臺階儀報價探針臺階儀
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臺階儀
Alpha-Step D-600臺階儀探針式輪廓儀能夠測量從幾納米到1200微米的2D和3D臺階高度。 D-600還可以在研發和生產環境中支持粗糙度、翹曲度和應...
型號： Alpha-Ste...
所在地：北京市
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面議更新時間：2024/11/20 12:04:32
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探針式輪廓儀臺式探針輪廓儀探針式臺階儀臺階儀報價探針臺階儀
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臺階儀
P-17臺階儀是臺式探針輪廓儀，是多年的表面量測經驗的結晶。支持對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力進行2D和3D測量，其掃描可達200mm而無需圖像拼接。
型號： P-17
所在地：北京市
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面議更新時間：2024/11/20 12:02:45
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探針式輪廓儀臺式探針輪廓儀探針式臺階儀臺階儀報價探針臺階儀
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臺階儀
臺階儀是cassette-to-cassette探針式輪廓儀，可提供幾納米至一毫米的臺階高度測量功能，適用于生產環境。該系統可以對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力...
型號： P-170
所在地：北京市
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面議更新時間：2024/11/20 12:00:56
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探針式輪廓儀供應臺階儀探針式臺階儀臺階儀報價探針臺階儀
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主動式減震臺
主動式減震臺空間6自由度主動減振-擁有全頻段出色的抗振動效果，同時沒有共振，LCD-加速度時間波形顯示/加速度頻譜顯示。
型號： EST-58-45...
所在地：北京市
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面議更新時間：2024/11/20 11:58:49
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自動式減震臺主動式防震臺精密防震系統精密防震工作臺供應主動式減震臺
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薄膜厚度測量儀
薄膜厚度測量儀是為簡便而經濟有效地測試眼科減反涂層設計的定制儀器。 價格低廉， F10-AR 使線上操作人員經過幾分鐘的培訓，就可以進行厚度測量。
型號： F10-AR
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面議更新時間：2024/11/20 11:57:16
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薄膜厚度測量儀薄膜厚度膜厚系統電阻率測量儀薄膜厚度測量儀報價供應薄膜厚度測量儀
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薄膜厚度測量儀
薄膜厚度測量儀：使用F32可以簡單快速地在線測量膜厚。從對膜的頂部和底部反射光譜進行分析可得到實時厚度信息。
型號： F32
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面議更新時間：2024/11/20 11:54:52
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薄膜厚度測量儀薄膜厚度膜厚系統電阻率測量儀薄膜厚度測量儀報價供應薄膜厚度測量儀
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主動式防震臺
主動式防震臺水平自動調節功能即使負載重心偏離中心，自動的水平調節功能也可以讓心偏回來，繼續為儀器提供一個穩定的使用環境。
型號： HERZ TS系列
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面議更新時間：2024/11/20 11:52:54
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自動式減震臺主動式防震臺報價精密防震系統精密防震工作臺供應主動式防震臺
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電阻率測量儀
電阻率測量儀R50提供接觸式四點探針（4PP）和非接觸式渦流（EC）測量。電動X-Y載物臺可額外使用定制樣品架，樣品測量可達300mm的，可測量面積可達200m...
型號： R50
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面議更新時間：2024/11/20 11:50:55
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薄膜厚度測量儀薄膜厚度膜厚儀供應電阻率測量儀電阻率測量儀報價電阻率測量裝置
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薄膜厚度測量儀-膜厚儀
薄膜厚度測量儀-膜厚儀：Filmetrics的精密光譜測量系統讓用戶簡單快速地測量薄膜的厚度和光學常數，通過對待測膜層的上下界面間反射光譜的分析，幾秒鐘內就可測...
型號： Filmetric...
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面議更新時間：2024/11/20 11:48:58
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供應薄膜厚度測量儀薄膜厚度膜厚儀測量特性分析測量儀薄膜厚度測量儀報價電阻率測量裝置
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Herz主動式減震系統
Herz主動式減震系統平臺為電子顯微鏡和類似的大型研究儀器提供的主動隔振性能(從0.5Hz開始)。UT-1000A平臺通過消除，干擾測量的破壞性低頻振動噪聲，幫...
型號： UT-1000A
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面議更新時間：2024/11/20 11:46:47
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主動式減震臺主動式減震設備供應主動式減震系統主動式減震系統報價主動式防震系統
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薄膜厚度測量儀
F54薄膜厚度測量儀的產品能以一個電動R-Theta 平臺自動移動到選定的測量點以每秒測繪兩個點的速度快速的測繪薄膜厚度, 樣品直徑達450毫米，可選擇數十種內...
型號： F54
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面議更新時間：2024/11/20 11:45:05
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供應薄膜厚度測量儀薄膜厚度測量儀測量特性分析測量儀薄膜厚度測量儀報價電阻率測量裝置
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薄膜厚度測量儀
薄膜厚度測量儀以真空鍍膜為設計目標，F10-RT 只要單擊鼠標即可獲得反射和透射光譜。 只需簡單操作。用戶就能進行 FWHM 并進行顏色分析。
型號： F10-RT
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面議更新時間：2024/11/20 11:42:52
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供應薄膜厚度測量儀薄膜厚度測量儀測量特性分析測量儀薄膜厚度測量儀報價電阻率測量裝置
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AVI-600系列 主動式防震系統
AVI-600系列 主動式防震系統為緊湊型的主動隔振系統，是納米技術大型儀器隔振的解決方案。對升級和整合到現有的需要低頻隔振功能的設備來說是不錯的選擇。
型號：
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面議更新時間：2024/11/20 11:40:47
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主動式防震臺主動式防震設備被動式防震系統主動式防震系統報價供應主動式防震系統
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多波長橢偏儀
多波長橢偏儀采用壽命長 LED 光源和非移動 式部件橢偏探測器，可在操作簡單的緊湊型橢偏儀中實現可靠地薄膜測量。大多數厚度 0–1000 nm 的透明薄膜只需要...
型號： Film Sens...
所在地：北京市
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面議更新時間：2024/11/20 11:39:05
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測量儀器測量設備多波長橢偏儀報價多功能橢偏儀供應多功能橢偏儀
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智能型多功能橢偏儀
智能型多功能橢偏儀是一款針對單層和多層薄膜進行簡單，快速，準確表征和分析的工具。 多功能性設計，配置靈活，具備多角度測量能力，可方便實現在線與離線配置切換。
型號： Smart SE
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面議更新時間：2024/11/20 11:37:25
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測量儀器測量設備自動多功能橢偏儀多功能橢偏儀價格供應多功能橢偏儀
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Lumina AT2 薄膜缺陷檢測儀
Lumina AT2 薄膜缺陷檢測儀：實現亞納米薄膜涂層、納米顆粒、劃痕、凹坑、凸起、應力點和其他缺陷的全表面掃描和成像。實用于透明、硅、化合物半導體和金屬基底...
型號：
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面議更新時間：2024/11/20 11:35:16
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錨桿質量檢測系統薄膜缺陷檢測儀器薄膜缺陷檢測設備薄膜缺陷檢測儀價格供應薄膜缺陷檢測儀
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F3-sX薄膜厚度測量儀
F3-sX薄膜厚度測量儀利用光譜反射原理，可以測試眾多半導體及電解層的厚度，可測厚度達3毫米。此類厚膜，相較于較薄膜層表面較粗糙且不均勻，F3-sX系列配置10...
型號：
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面議更新時間：2024/11/20 11:33:23
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供應薄膜厚度測量儀薄膜厚度測量儀測量特性分析測量儀薄膜厚度測量儀報價電阻率測量裝置
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薄膜厚度測量儀
F54-XYT-300薄膜厚度測量儀具有集成的顯微鏡和實時攝像頭，可以精確監控膜厚測量點。小尺寸的測量光斑允許測量有圖案的樣品，并且可以改良在較粗糙的材料上的測...
型號： F54-XYT-3...
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面議更新時間：2024/11/20 11:31:39
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供應薄膜厚度測量儀薄膜厚度測量儀測量特性分析測量儀薄膜厚度測量儀報價電阻率測量裝置
