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F60薄膜厚度測量儀就像我們的 F50產(chǎn)品一樣測繪薄膜厚度和折射率，但它增加了許多用于生產(chǎn)環(huán)境的功能。 這些功能包括凹槽自動檢測、自動基準(zhǔn)確定、全封閉測量平臺、...

主動式防震系統(tǒng)一些靈敏度很高的儀器可能是一個自然諧振頻率的被動系統(tǒng)，可以用主動隔振系統(tǒng)消除共振。

薄膜厚度測量儀：以F20平臺為基礎(chǔ)所發(fā)展的F10-HC薄膜測量系統(tǒng)，能夠快速的分析薄膜的反射光譜資料并提供測量厚度，加上F10-HC軟件的模擬演算法的設(shè)計，能夠...

主動式減震臺空間6自由度主動減振-擁有全頻段出色的抗振動效果，同時沒有共振，LCD-加速度時間波形顯示/加速度頻譜顯示。

薄膜厚度測量儀是為簡便而經(jīng)濟有效地測試眼科減反涂層設(shè)計的定制儀器。 價格低廉， F10-AR 使線上操作人員經(jīng)過幾分鐘的培訓(xùn)，就可以進行厚度測量。

薄膜厚度測量儀：使用F32可以簡單快速地在線測量膜厚。從對膜的頂部和底部反射光譜進行分析可得到實時厚度信息。

主動式防震臺水平自動調(diào)節(jié)功能即使負(fù)載重心偏離中心，自動的水平調(diào)節(jié)功能也可以讓心偏回來，繼續(xù)為儀器提供一個穩(wěn)定的使用環(huán)境。

電阻率測量儀R50提供接觸式四點探針（4PP）和非接觸式渦流（EC）測量。電動X-Y載物臺可額外使用定制樣品架，樣品測量可達300mm的，可測量面積可達200m...

薄膜厚度測量儀-膜厚儀：Filmetrics的精密光譜測量系統(tǒng)讓用戶簡單快速地測量薄膜的厚度和光學(xué)常數(shù)，通過對待測膜層的上下界面間反射光譜的分析，幾秒鐘內(nèi)就可測...

Herz主動式減震系統(tǒng)平臺為電子顯微鏡和類似的大型研究儀器提供的主動隔振性能(從0.5Hz開始)。UT-1000A平臺通過消除，干擾測量的破壞性低頻振動噪聲，幫...

F54薄膜厚度測量儀的產(chǎn)品能以一個電動R-Theta 平臺自動移動到選定的測量點以每秒測繪兩個點的速度快速的測繪薄膜厚度, 樣品直徑達450毫米，可選擇數(shù)十種內(nèi)...

薄膜厚度測量儀以真空鍍膜為設(shè)計目標(biāo)，F(xiàn)10-RT 只要單擊鼠標(biāo)即可獲得反射和透射光譜。 只需簡單操作。用戶就能進行 FWHM 并進行顏色分析。

AVI-600系列 主動式防震系統(tǒng)為緊湊型的主動隔振系統(tǒng)，是納米技術(shù)大型儀器隔振的解決方案。對升級和整合到現(xiàn)有的需要低頻隔振功能的設(shè)備來說是不錯的選擇。

F3-sX薄膜厚度測量儀利用光譜反射原理，可以測試眾多半導(dǎo)體及電解層的厚度，可測厚度達3毫米。此類厚膜，相較于較薄膜層表面較粗糙且不均勻，F(xiàn)3-sX系列配置10...

F54-XYT-300薄膜厚度測量儀具有集成的顯微鏡和實時攝像頭，可以精確監(jiān)控膜厚測量點。小尺寸的測量光斑允許測量有圖案的樣品，并且可以改良在較粗糙的材料上的測...

F54-XY-200薄膜厚度測量儀：借助F54-XY-200光譜反射系統(tǒng)，可以輕松地測量尺寸達200 x 200mm樣品的薄膜厚度電動XY工作臺自動移動到選定的...

HS華山系列被動式減震臺采用：半膜片式空氣彈簧、整體焊接支架、鐵磁不銹鋼臺面（同OTP臺面）的氣浮隔振光學(xué)平臺，整體高度800mm，分為氣浮式支架和臺面兩部分。

GS岡山系列被動式減震臺是整體焊接支架、鐵磁不銹鋼臺面 (同OTP 臺面)的標(biāo)準(zhǔn)雙頻阻尼被動式隔振平 臺，整體高度800mm，分為氣浮式支架和臺面 兩部分。

AVI-200系列 精密防震工作臺適合對升級和整合到現(xiàn)有的需要低頻隔振功能的設(shè)備.AVI-200 WOKSTATION這款設(shè)備允許在一定的大小范圍內(nèi)增設(shè)額外的模...

AVI400系列 主動式減震系統(tǒng)：Table Stable在減震行業(yè)內(nèi)有著相當(dāng)豐富的經(jīng)驗。于此同時Table Stable測量技術(shù)也取得了很大的進步，一些靈敏度...