德國DIAS紅外測溫儀塑料薄膜溫度測量儀 半導體制造硅片測溫型DT40P
產品詳細描述
半導體制造硅片測溫型DT40P
測溫范圍:300~1300°C ,400~1400°C
波長:3.43μm
主要應用:
1) 半導體制造硅片測溫
2) 塑料薄膜(聚丁烯、聚苯乙烯、聚亞胺酯、乙烯基、尼龍)
德國DIAS紅外測溫儀塑料薄膜溫度測量儀 半導體制造硅片測溫型DT40P
性能指標
型號 | DT40P |
測溫范圍 | 300~1300°C |
400~1400°C * | |
主要用途 | 半導體生產硅片測溫,聚丁烯、聚苯乙烯、聚亞胺酯、乙烯基、尼龍類塑料薄膜 |
光譜范圍 | 3.43µm |
光學系數 | 300,800,1200 |
距離系數 | 約50:1 |
測量誤差1 | 1.0%測量值或1 K |
重復精度1 | 0.5%測量值或0.5 K |
NETD2 | 0.1°C |
響應時間(t95) | 150ms, 可調達100 s |
發射率 | 0.200~1.000 |
瞄準 | 無*標注的為無瞄準(可選外置激光瞄準燈), 有*標注的可選內置LED瞄準燈 |
可調參數 | 發射率, 響應時間, 溫度單位°C或°F, 存儲方式, 子測溫范圍, 可通過USB通信接口和軟件調整 |
供貨范圍 | DT40P,操作手冊,安裝螺母,檢測單,Windows®下PYROSOFT Spot,連接電纜需單獨訂貨 |
1經過黑體爐標定, Tamb=23°C, ε=1, t95=1s, 取大值 2噪聲等溫差. 3 *可選內置LED瞄準. |