土壤硬度計TC-TYD-1
本土壤硬度計是利用壓力計之理論值Kg/Cm2,直接測量出土壤的硬度值。
對于土壤的透水性，通氣性及大型機器作業的土壤性質調查研究，利用此土壤硬度計非常方便準確。
土壤硬度計TC-TYD-1 特點或功能：
土壤硬度計測定方法:
1. 先將欲測量的土壤表面整平，然后將本器*部份 全部插入土壤中，直到 （口） 部份。
2. 垂直順向拔出土壤硬度計，并從表上讀取硬度指示值。
3. 讀取測值完畢，請旋轉從動針旋鈕，使指示表歸零。
4. 如果側頭內部附著土壤，將會使測量值變為不正確，請逆時針方向旋轉（口）部，取下此圓套筒，請清理干凈后轉至固定位置，即可再次測量。
土壤硬度計技術參數
硬度指示范圍:
• 0 ~ 40 mm
• 0 ~ 500 Kg/Cm2
高頻光電導少子壽命測試儀 少子壽命測試儀 型號： LT-1 1、 用途 用于硅、鍺單晶的少數載流子壽命測量，除需要有一個測量平面外，對樣塊體形無嚴格要求，可測塊狀和片狀單晶壽命。壽命測量可靈敏地反映單晶體內重金屬雜質污染及缺陷存在的情況，是單晶質量的重要檢測項目。 2、 設備組成 2.1、光脈沖發生裝置 重復頻率＞25次/s 脈寬＞60μｓ 光脈沖關斷時間＜0.2-1μｓ 紅外光源波長：1.06～1.09μm（測量硅單晶） 脈沖電流：5A～20A 如測量鍺單晶壽命需配置適當波長的光源 頻率：30MHz 低輸出阻抗 輸出功率＞1W 2.3、放大器和檢波器 頻率響應：2Hz～2MHz 2.4、配用示波器 配用示波器：頻帶寬度不低于40MHz，Y軸增益及掃描速度均應連續可調。 3、測量范圍 LT-1可測硅單晶的電阻率范圍：ρ≥3Ω·㎝（歐姆·厘米）,壽命值的測量范圍：5～6000μｓ |
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