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上海樹信儀器儀表有限公司

涂層測厚儀,超聲波測厚儀,光澤度儀,哈納、羅威邦、哈希水質(zhì)分析儀

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美國DAKOTA多功能超聲波測厚儀CMXDL+

  • 公司名稱:
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  • 上海樹信儀器儀表有限公司
  • 2024-08-30 15:17:02
  • 上海市
  • 1525

我要詢價

【簡單介紹】

品牌 DAKOTA/美國 價格區(qū)間 2萬-5萬
產(chǎn)地類別 進口 應用領(lǐng)域 化工,石油,地礦,交通,航天
多功能超聲波測厚儀CMXDL+美國DAKOTA公司CMXDL+多功能超聲波測厚儀,帶A/B掃描功能,可測量材料的厚度,穿透涂層測量材料厚度,也可以測量涂層的厚度。用戶可根據(jù)需求選擇不同的功能配置,以獲得高性價比。標準版為灰度顯示屏,可選彩屏版。

【詳細說明】

一、多功能超聲波測厚儀CMXDL+的儀器特點:

-100MHz FPGA時序電路設計
-可選彩色和灰度顯示屏
-A/B掃描
-手動調(diào)節(jié)增益和自動增益控制 (AGC),范圍:110dB
-自動時間相關(guān)增益(TDG)
-多種測量模式

二、配置功能:
脈沖-回波(P-E)模式:測量材料厚度
脈沖-回波涂層(PECT)模式:同時測量材料和涂層厚度
脈沖-回波溫度補償(PETP)模式:測量材料厚度
回波-回波(E-E)模式:穿過涂層測量材料厚度
回波-回波驗證(E-EV)模式: 穿過涂層測量材料厚度
測量涂層(CT)模式:只測量涂層厚度
-可接雙晶探頭和單晶探頭(包括延遲塊探頭、接觸式探頭、筆形探頭)
-USB Type-C數(shù)據(jù)接口
-內(nèi)置4GB SD存儲卡


三、多功能超聲波測厚儀CMXDL+的技術(shù)參數(shù):

測量測量范圍脈沖-回波(P-E)模式測量范圍:0.63mm~30.48m(鋼)
脈沖-回波涂層(PECT)模式測量范圍:0.63mm~30.48m(鋼),0.0254~2.54mm(涂層)
脈沖-回波溫度補償(PETP)模式 測量范圍:0.63mm~30.48m(鋼)
回波-回波(E-E)模式測量范圍:2.54~152.4mm(鋼,穿過涂層測量,隨涂層厚度的不同,測量范圍也會變化)
回波-回波驗證(E-EV)模式測量范圍:2.54~102mm(鋼,穿過涂層測量,隨涂層厚度的不同,測量范圍也會變化)
測量涂層(CT)模式測量范圍:0.0127~2.54mm(涂層)
單位英制和公制
分辨率0.01mm
校準一點和兩點校準方式
聲速范圍309.88~18542m/s
顯示顯示屏1/8英寸VGA灰色顯示,240x160象素。可視區(qū)62x45.7mm,EL背光;可選1/4英寸彩色顯示屏,320x240象素
大數(shù)字方式標準厚度顯示,數(shù)字高度17.78mm/14.35mm(彩色顯示屏)
A-掃描方式檢波+/-(缺陷視場),RF(全波視場)。刷新頻率25Hz/60Hz(彩色顯示屏)。縱向和橫向視圖(彩色顯示屏)
B-掃描方式基于時間的橫截面視圖。 顯示速度為每秒10到200個讀數(shù)
厚度條形掃描速度10Hz,在B-掃描和大數(shù)字顯示中可見
功能狀態(tài)指示顯示當前激活的功能
穩(wěn)定度指示表示測量值的穩(wěn)定性
超聲波參數(shù)測量模式P-E、PECT、PETP、E-E、E-EV、CT
脈沖可調(diào)方波脈沖發(fā)生器
接收根據(jù)選擇模式在110dB范圍內(nèi)采用手動或AGC增益控制,阻抗50~1500Ω可調(diào)
計時單次100MHz8位超低功耗數(shù)字化儀的精確TCXO計時

脈沖重復頻率:250Hz

探頭頻率范圍:1~20MHz
雙晶探頭和單晶探頭(延遲塊、接觸式、筆式)
LEMO接口,1.2米探頭線
可定制用于特殊應用的探頭
存儲容量內(nèi)置4GB SD卡
數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)網(wǎng)格(字母數(shù)字)和順序(自動識別)
截屏功能位圖圖形捕獲,用于快速記錄
數(shù)據(jù)輸出通過USB Type-C連接的計算機
功能設置64個用戶定義設置,用戶也可編輯出廠設置
探頭類型可選內(nèi)置雙路誤差校正,提高線性度
閘門兩個獨立閘門
報警模式上下限視聽報警
快速掃描模式每秒250個讀數(shù),當探頭離開時顯示最小值
鍵盤12個觸摸鍵
其他電源標配為三節(jié)5號堿性電池 ,可選鎳鎘電池或鋰電池。電量狀態(tài)指示。無操作五分鐘后自動關(guān)機。USB Type-C供電。
重量312g(含電池)
尺寸131.3x63.5x31.5mm
操作溫度-30~75℃
外殼擠壓鋁機殼,底蓋用鍍鎳鋁板加密封墊封裝
包裝ABS工程塑料箱

四、雙晶探頭介紹:

雙晶探頭型號頻率探頭晶片直徑探頭防磨面直徑測量范圍說明
PT-102-29005.0MHz6.35mm9.53mm1.0~152mm標準CT探頭(可測涂層厚度)
PT-101-29005.0MHz4.76mm6.35mm1.0~50mm小管徑CT探頭
PT-102-33007.5MHz6.35mm9.53mm0.63~152mm超薄探頭
PT-104-29005.0MHz12.7mm15.88mm1.27~508mm超厚CT探頭
PT-042-20005.0MHz6.35mm9.53mm1.0~152mm標準高溫探頭,最高340℃
PT-044-20005.0MHz12.7mm15.88mm1.27~508mm超厚高溫探頭,最高340℃
PT-212-20015.0MHz6.35mm9.53mm1.0~152mm超厚超高溫探頭,最高480℃
PT-214-20015.0MHz12.7mm15.88mm1.27~508mm超高溫探頭,最高480℃

注:測試高溫表面時需用高溫耦合劑

五、單晶探頭介紹:

探頭型號頻率描述說明
PT-402-550715MHz晶片?6.35mm標準延遲塊探頭
PT-402-650720MHz晶片?6.35mm延遲塊探頭
PT-4903-28755MHz晶片?3.18mm,防磨面?6.35mm接觸式探頭
PT-4903-487510MHz晶片?3.18mm,防磨面?6.35mm接觸式探頭
PT-4023-28555MHz晶片?6.35mm,防磨面?9.53mm接觸式探頭
PT-4023-485510MHz晶片?6.35mm,防磨面?9.53mm接觸式探頭
PT-481-450710MHz延遲塊前端?1.59mm筆式探頭



    
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