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SP503U-1550 系列熒光涂層 CCD 相機為測量和查看 NIR 電信設備和 NIR 激光器的輸出提供了一種新的低成本替代方案。薄熒光膜涂層是一種反斯托克...

BeamSquared 系統是一款緊湊且全自動的工具，用于測量從 UV 到 NIR 再到電信波長的 CW 和脈沖激光系統的傳播特性。BeamSquared SP...

高功率光束輪廓分析儀增材制造專用BeamCheck 是一種集成激光測量系統，旨在測量基于激光的增材制造系統的關鍵激光束參數。BeamCheck 包括用于空間測量...

增材制造專用焦點光斑光束分析儀BeamWatch AM是一種集成激光測量系統，設計用于測量激光增材制造系統的關鍵激光束參數。BeamWatch AM能夠沿相機視...

高功率光束分析儀和功率測量系統BeamPeek™ 系統可進行實時光束輪廓分析，包括焦點尺寸和位置監控，以及綠光和近紅外范圍內增材制造 (AM) 激光...

全自動非接觸式光束分析儀BeamWatch Integrated 500 是一種全自動激光測量系統，設計用于對工業生產線上的關鍵激光束參數測量進行整合。Beam...

高功率全自動光束分析儀BeamWatch Integrated 150 是一種全自動激光測量系統，設計用于對工業生產線上的關鍵激光束參數測量進行整合。BeamW...

非接觸式光束分析儀千瓦級980-1080nm波段BeamWatch非接觸式輪廓分析儀通過測量瑞利散射，精確捕獲和分析波長范圍為980nm - 1080nm的多千...

經濟型光束分析儀包含BeamMic軟件BM-USB3-SP203P相機配備磷涂層傳感器，專門用于 1440 至 1605 nm 的 SWIR 波長，尤其是流行的...

經濟型光束分析儀BeamMic軟件BM-USB3-SP920s光束分析儀USB 3.0 全局快門 CMOS，高分辨率相機，精度更高，尤其是在流行的 NIR 和 ...

光束分析儀第四代熱釋電陣列相機PY-IV-C-A-PRO精確捕獲和分析13nm - 355nm和 1.06-3000µm的波長。該相機包括具有寬動態范...

PY-III-HR-C-A-PRO Spiricon光束分析儀熱釋電陣列相機精確捕獲和分析13nm - 355nm和 1.06-3000µm的波長。該...

光束輪廓分析儀InGaAs相機NIR近紅外Xeva XC-130精確捕獲和分析900nm - 1700nm的波長。該相機包括可在室溫工作、寬動態范圍、快速數據捕...

光束輪廓分析儀InGaAs砷化鎵相機SP1201可精確捕捉并分析 900nm 至 1700nm 的波長。它配備有一個高分辨率QVGA傳感器，設計緊湊，以太網供電...

光束輪廓分析儀InGaAs相機SP1203可精確捕捉并分析 900nm 至 1700nm 的波長。它配備有一個高分辨率VGA傳感器，設計緊湊，以太網供電，穩定傳...

光束分析儀CCD相機LT665-1550相機精確捕獲和分析1440nm - 1605nm的波長。該相機包括緊湊型設計、寬動態范圍、良好的信噪比及1英寸畫幅等特征...

光束質量分析儀CMOS相機SP203P相機配備磷涂層傳感器，專門用于 1440 至 1605 nm 的 SWIR 波長，尤其是流行的 1550nm。與 Beam...

SP504S光束質量分析儀CMOS相機Spiricon相機可精確捕獲和分析 340 nm 至 1100nm 范圍內的波長。它是我們 32.5 mm 格式的最大有...

光束質量分析儀CCD相機以色列Spiricon BGS-USB3-LT665相機精確捕獲和分析190nm - 1100nm的波長。該相機包括緊湊型設計、寬動態范...

BGS-USB3-SP932U光束分析儀CMOS相機USB 3.0 全局快門 CMOS，高分辨率相機，精度更高，尤其是在流行的 NIR 和 Nd:YAG 波長下...