目錄:北京中顯恒業儀器儀表有限公司>>澤攸科技電子顯微鏡>>SEM原位解決方案>> 原位解決方案-掃描電鏡原位高溫拉伸臺
產地類別 | 國產 | 應用領域 | 綜合 |
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產品描述
PicoFemto掃描電鏡原位高溫拉伸臺,掃描電鏡原位高溫拉伸臺集成了力學拉伸模塊以及高溫環境模塊,可以實現在掃描電鏡中對樣品原位加熱的同時進行拉伸實驗。本產品采用新一代的高溫拉伸方案,加熱臺直接貼緊樣品,保證了溫度的準確度和穩定性。
△ 兼容型號掃描電鏡,兼容EBSD功能;
△ 保證電鏡原有真空度;
△ 最大載荷:5000 N;
△ 最高加熱溫度:1200攝氏度;
△ 載荷分辨率:優于滿量程的千分之一;
△ 拉伸速率:最高1.5 mm/min。
產品主要應用領域
1、金屬及鍍層:用于研究晶粒變化、鍍層結合情況、高溫形變及松弛機理、晶粒旋轉及織構變化。
2、復合材料:用于研究材料韌性及強度。
3、纖維:研究材料強度。
4、聚合物:用于研究塑性流動及失效機制。
5、脆性材料:研究微小裂縫的起源及鈍化現象。
6、地質學:研究巖石的熱壓縮實驗及冰巖芯的冷變形機制。