X線空間分辨率測(cè)試卡
廊坊玉雙儀器設(shè)備有限公司生產(chǎn)經(jīng)營(yíng)各種亞克力實(shí)驗(yàn)裝置及實(shí)驗(yàn)配件，我司也可接受非標(biāo)定制產(chǎn)品，我司接受來(lái)圖、來(lái)樣等多種定制方案，在定制亞克力實(shí)驗(yàn)箱體上我們有著一套比較系統(tǒng)的流程和比較成熟的加工工藝，我司在加工亞克力實(shí)驗(yàn)裝置的形狀、尺寸上都可接受定制，在質(zhì)量上我們有著嚴(yán)格的質(zhì)量把控，對(duì)每件出廠的亞克力產(chǎn)品都要進(jìn)行嚴(yán)格的質(zhì)量檢測(cè)。
亞克力產(chǎn)品定制銷(xiāo)售編號(hào)：20230918-07。
分辨

X線空間分辨率測(cè)試卡

廊坊玉雙儀器設(shè)備有限公司生產(chǎn)經(jīng)營(yíng)各種亞克力實(shí)驗(yàn)裝置及實(shí)驗(yàn)配件，我司也可接受非標(biāo)定制產(chǎn)品，我司接受來(lái)圖、來(lái)樣等多種定制方案，在定制亞克力實(shí)驗(yàn)箱體上我們有著一套比較系統(tǒng)的流程和比較成熟的加工工藝，我司在加工亞克力實(shí)驗(yàn)裝置的形狀、尺寸上都可接受定制，在質(zhì)量上我們有著嚴(yán)格的質(zhì)量把控，對(duì)每件出廠的亞克力產(chǎn)品都要進(jìn)行嚴(yán)格的質(zhì)量檢測(cè)。

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分辨率測(cè)試卡是一種用于設(shè)置和測(cè)試微焦 X 射線系統(tǒng)的光刻生產(chǎn)的測(cè)試模式。它支持 0.1 µm 和 10 µm 之間的分辨率，對(duì)應(yīng)于 0.2 µm 和 20 µm 之間的焦斑尺寸。高分辨率測(cè)試卡時(shí)候，要求顯示器中高分辨率測(cè)試卡的影像與掃描線的方向成45度角，減小掃描線對(duì)觀察時(shí)候的影響。

線對(duì)卡的使用以及應(yīng)用范圍：
一，常規(guī)的無(wú)損檢測(cè)，也可以用于其他的安檢設(shè)備的圖像成像檢測(cè)
第二，用于工業(yè)ct的圖像成像功能檢測(cè)
第三，還可以用于一用ct、一用的x射線的相關(guān)設(shè)備的圖像質(zhì)量檢測(cè)。
第四，用分辨率測(cè)試卡測(cè)定x射線成像系統(tǒng)的可視分辨率，成像系統(tǒng)的分辨率，測(cè)試成像系統(tǒng)的調(diào)制傳遞函數(shù)。
產(chǎn)品簡(jiǎn)介僅供參考以實(shí)際購(gòu)買(mǎi)為準(zhǔn)如需了解有關(guān)產(chǎn)品的信息請(qǐng)聯(lián)系我司：廊坊玉雙儀器設(shè)備有限公司的銷(xiāo)售人員。X線空間分辨率測(cè)試卡