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TT230時代渦流涂層測厚儀

 TT230時代渦流涂層測厚儀|氧化膜測厚儀是一種超小型測量儀，它能快速、無損傷、精密地進行非磁性金屬基體上非導電覆蓋層厚度測量，比如鋁上的氧化膜，所以也叫膜厚儀，膜厚測量儀；TT230時代渦流涂層測厚儀|氧化膜測厚儀是時代集團早先推出的成熟型測厚儀型號之一，無錫君達儀器優惠價格2450.00供應TT230時代渦流涂層測厚儀|氧化膜測厚儀。

 TT230時代渦流涂層測厚儀|氧化膜測厚儀可廣泛用于制造業、金屬加工業、化工業、商檢等檢測領域；該儀器體積小、測頭與儀器一體化，特別適用于工程現場測量。

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TT230時代渦流涂層測厚儀|氧化膜測厚儀符合以下標準：

GB/T 4957-1985 渦流方法

JJG 818-93 《電渦流式測厚儀》

JB/T8393-1996磁性和渦流覆層測厚儀

TT230時代渦流涂層測厚儀|氧化膜測厚儀功能特點

采用了渦流測厚法，可無損傷地測量非磁性金屬基體上非導電覆蓋層的厚度
（如銅、鋁、鋅、錫等基底上的琺瑯、橡膠、油漆鍍層）

可進行零點校準及二點校準，并可用基本校準法對測頭的系統誤差進行修正

具有兩種測量方式：連續測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）

具有兩種工作方式：直接方式(DIRECT)和成組方式(Appl)

具有刪除功能：對測量中出現的單個可疑數據進行刪除，也可刪除存貯區內的所有數據

設有五個統計量：平均值、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、測試次數（NO．）、標準偏差

具有米、英制轉換功能

具有打印功能，可打印測量值、統計值

具有欠壓指示功能

操作過程有蜂鳴聲提示

具有錯誤提示功能

具有自動關機功能

TT230時代渦流涂層測厚儀|氧化膜測厚儀技術參數

測頭類型：N

測量原理：電渦流

測量范圍： 0-1250um | 0-40um(銅上鍍鉻)

低限分辨力：1µm(10um以下為0.1um)

探頭連接方式：一體化

示值誤差：

一點校準(um)：±[3%H+1.5]

兩點校準(um)：±[（1%~3%）H+1.5]

測量條件：

zui小曲率半徑(mm)：凸3 | 凹10

基體zui小面積的直徑(mm)：ф5

zui小臨界厚度(mm)：0.3

溫濕度：0~40℃ | 20%RH～90%RH

統計功能：平均值、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、測試次數（NO．）、標準偏差

工作方式：直接方式(DIRECT)和成組方式(Appl)

測量方式：連續測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）

上下限設置：無

存儲能力：15個測量值

打印/連接計算機：可選配打印機/能連接電腦

關機方式：自動

電源：二節3.6V鎳鎘電池

外形尺寸：150×55.5×23mm

重量：150g

TT230涂層測厚儀基本配置

TT230涂層測厚儀主機

鋁基體

標準片一套

充電器

使用說明書

有關TT230時代渦流涂層測厚儀|氧化膜測厚儀的詳細情況請直接咨詢。