詳細(xì)介紹
TH2638電容測(cè)量?jī)x
TH2638電容測(cè)量?jī)x
*替代AgilentE4981A
■ 4.3寸TFT液晶顯示,中英文可選操作界面
■ zui高1MHz的測(cè)試頻率(100Hz,120Hz,1kHz,10kHz,100kHz,1MHz),增加了100Hz,10kHz 和100kHz四點(diǎn)頻率,可對(duì)薄膜電容、電解電容、電力電容在該頻率下進(jìn)行高速測(cè)試更方便地進(jìn)行該頻率下串聯(lián)等效電阻ESR的測(cè)試,這點(diǎn)是同惠*的
■ zui高測(cè)試速度:2.3ms/次,并有五檔速度選擇
■ 測(cè)試電容基本精度±0.07%
■ 損耗因數(shù):±0.0005
■ V、I 測(cè)試信號(hào)電平監(jiān)視功能
■ 低阻抗測(cè)試,信號(hào)電平補(bǔ)償功能
■ 內(nèi)建比較器,11檔分選
■ 內(nèi)部文件存儲(chǔ)和外部U盤文件保存
■ 測(cè)量數(shù)據(jù)可直接保存到U盤
■ 截屏保存到U盤
■ 兼容SCPI命令集
■ RS232C、USB CDC、LAN、GPIB接口
■ HANDLER接口、SCANNER接口、機(jī)械手接口
■ 接觸檢查功能
■ 同步信號(hào)源
■ 1MHz時(shí)的測(cè)試頻率帶有偏移功能(±1%,±2%)
■ 10點(diǎn)列表掃描,可對(duì)頻率、電壓進(jìn)行掃描
■ TH2638系列高速精密電容測(cè)量?jī)x是具有更高測(cè)試頻率的新型數(shù)字電容測(cè)量?jī)x器,其體積小,緊湊便攜,便于上架使用。該儀器測(cè)量電容基本精度為±0.07%,損耗精度高達(dá)0.0005,測(cè)試頻率zui高可達(dá)1MHz,4.3寸的LCD屏幕可選中英文操作界面,操作方便快捷。TH2638系列可以為陶瓷電容器生產(chǎn)測(cè)試提供高速、可靠的測(cè)量。該儀器能夠精確測(cè)量從低值到高值的各類電容。在對(duì)同一個(gè)電容器進(jìn)行多次測(cè)量的結(jié)果*性好,即使是很低的電容值也可以很精確地測(cè)量出來。該儀器兼容SCPI命令集,帶有機(jī)械手接口和掃描器接口,掃描接口可逐個(gè)的對(duì)各個(gè)測(cè)試通道到開路/短路/負(fù)載誤差校正進(jìn)行掃描,zui多可以掃描256個(gè)通道。在低頻測(cè)量時(shí),當(dāng)被測(cè)件阻抗很小時(shí),信號(hào)源內(nèi)阻和測(cè)試線纜將會(huì)引起被測(cè)件兩端的電壓低于設(shè)定電壓范圍,使用儀器的信號(hào)電平補(bǔ)償功能就會(huì)調(diào)整被測(cè)件上的電平到設(shè)定值范圍內(nèi)。
TH2638系列特別針對(duì)生產(chǎn)線測(cè)試上增加了對(duì)不良接觸的檢查功能,測(cè)量時(shí)無需額外的時(shí)間來執(zhí)行此操作就能夠檢測(cè)到被測(cè)器件與測(cè)試儀器之間可能出現(xiàn)的不良接觸;儀器具有在實(shí)際測(cè)試保持同步的信號(hào)源功能,只在進(jìn)行真正測(cè)試的時(shí)候才把測(cè)試信號(hào)施加到被測(cè)器件上,在放置和取下被測(cè)器件的瞬間不會(huì)給被測(cè)器件施加測(cè)試信號(hào),這樣就顯著的降低了在接觸不良的情況下較大測(cè)試電流對(duì)測(cè)試夾具或觸點(diǎn)的蝕損;當(dāng)前測(cè)試頻率為1MHz時(shí),可對(duì)測(cè)試頻率進(jìn)行偏移設(shè)置(偏移值為±1%,±2%)這一功能在陣列式電容器測(cè)試系統(tǒng)中可消除相鄰測(cè)量終端受到干擾,還可以降低測(cè)量結(jié)果的波動(dòng)。儀器還帶有料箱分類功能,可以按照產(chǎn)品的質(zhì)量設(shè)置9個(gè)料箱根據(jù)C-D/Q/R/G的測(cè)試結(jié)果確定產(chǎn)品合格與不合格,并放入不同等級(jí)到料箱內(nèi)。