X光電鍍層檢測儀采用下照式結構,儀器操作簡單,以實在的價格定位滿足鍍層厚度測量的要求。
X光電鍍層檢測儀采用下照式結構,儀器操作簡單,以實在的價格定位滿足鍍層厚度測量的要求。
X光電鍍層檢測儀應用領域
鐵基----□Fe/Zn,□Fe/Cu,□Fe/Ni,□Fe/Cu/Sn,□Fe/Cu/Au,□Fe/Cu/Ni,□Fe/Cu/Ni,
銅基----□Cu/Ni,□Cu/Ag,□Cu/Au,□Cu/Sn,□Cu/Ni/Sn,□Cu/Ni/Ag,□Cu/Ni/Au,□Cu/Ni/Cr
鋅基----□Zn/Cu,□Zn/Cu/Ag,□Zn/Cu/Au
鎂鋁合金----□Al/Cu,□Al/Ni,□Al/Cu/Ag,□Al/Cu/Au
塑膠基體----plastic/Cu/Ni
技術參數
1 分析元素范圍:S-U
2 可分析多達3層以上鍍層
3 分析厚度檢出限高達0.02μm
4 多次測量重復性高可達0.05μm
5 定位精度:0.5mm
5 測量時間:30s-300s
6 計數率:1000-8000cps
7 儀器適合測試平面。以單層Fe鍍Ni的標樣為例,分析的范圍是0.02—30um,在這個范圍內,才能檢測。0.5-10um的,偏差是5%,就是說真值是1um,用儀器測試的值是0.95-1.05um。
儀器性能特點
1. 穩定X銅光管
2.半導體硅片電制冷系統,摒棄液氮制冷
3.采用天瑞儀器產品—信噪比增強器(SNE)
4.內置高清晰攝像頭,方便用戶隨時觀測樣品
5.脈沖處理器,數據處理快速
6.手動開關樣品腔,操作安方便
7.三重安保護模式
8.整體鋼架結構、外型高貴時尚
9.FP軟件,無標準樣品時亦可測量