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低阻雙電四探針測試儀可以測試到1uΩ方阻值，是目前同行業中能測量到的Z小值，采用高精度AD芯片控制，恒流輸出，結構合理、質量輕便，運輸安全、使用方便；適用于生產...

高阻四探針測試儀 本機還可以配合各類環境溫度試驗箱體使用，通過不同的測量治具滿足不同環境溫度下測量方阻和電阻率的需求.采用高精度AD芯片控制，恒流輸出，結構合理...

高溫雙電測四探針方阻測試儀使用說明，采用四探針雙電組合測量方法測試方阻和電阻率系統與高溫箱結合配置高溫四探針測試探針治具與PC軟件對數據的處理和測量控制，解決半...

雙電四探針方阻測試儀分析方法，適用于生產企業、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料四...

硅片四探針電導率測試儀操作方法，參照標準：硅片電阻率測量的標準（ASTMF84）.GB/T1551-2009《硅單晶電阻率測定方法》.

高溫四探針電阻率測試儀樣品檢測， 采用高精度AD芯片控制，恒流輸出，結構合理、質量輕便，運輸安全、使用方便；配備軟件可以由電腦操控。用于：企業、高等院校、科研部...

涂布層四探針測試儀計算公式，本儀器采用四探針單電測量法適用于生產企業、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。本儀器配置各類測...

雙電四探針電阻率詳情介紹，本儀器本儀器采用四探針雙電測量方法，適用于生產企業、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。本儀器配...

雙電測電四探針方阻電阻率測試儀參數，本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數、電流、電壓、探針形狀、探針...

薄膜方塊電阻率測試使用說明，本儀器本儀器采用四探針單電測量法適用于生產企業、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。本儀器配置...

普通四探針方阻電阻率測試儀軟件操作，儀器自動測量并根據測試結果自動轉換量程，無需人工多次和重復設置。采用高精度AD芯片控制，恒流輸出，結構合理、質量輕便，運輸安...

普通四探針方阻電阻率測試儀現貨，本機配置232電腦接口及USB兩種接口。本儀器本儀器采用四探針單電測量法適用于生產企業、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導體材料...

導電涂層四探針方阻電阻率測試儀，按照硅片電阻率測量的標準（ASTM F84）及標準設計制造該儀器設計符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、...

PCB銅箔膜四探針方阻電阻率測試儀，按照硅片電阻率測量的標準（ASTM F84）及標準設計制造該儀器設計符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法...

高溫四探針電阻測試儀，該儀器設計符合單晶硅物理測試方法標準并參考美國 A.S.T.M 標準。利用電流探針、電壓探針的變換，進行兩次電測量，對數據進行雙電測分析，...

涂布層四探針電阻率測試儀操作手冊，采用四探針組合雙電測量方法，液晶顯示，自動測量，自動量程，自動系數補償.高集成電路系統、恒流輸出；選配：PC軟件進行數據管理和...

導體粉末電阻率測試儀計量方法，本儀器本儀器采用四探針測量法適用于生產企業、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導體粉末材料和半導體粉末材料質量的一種重要的工具液晶顯...

金屬薄膜四探針電阻率測試儀可以測量片狀、塊狀半導體材料的電阻率，擴散層的薄層電阻（亦稱方塊電阻）。也可測柔性導電薄膜和玻璃等硬基底上導電膜的方塊電阻（簡稱方阻）...

四探針方阻電阻率測試儀檢測范圍，四探針組合雙電測量方法，2.液晶顯示，自動測量，自動量程，自動系數補償.

金屬涂層四探針方阻電阻率測試儀使用方法，參照標準：硅片電阻率測量的標準（ASTMF84）.GB/T1551-2009《硅單晶電阻率測定方法》.GB/T1551-...