中國(guó)工程物理研究院在我單位購(gòu)買四探針測(cè)試臺(tái) ST-102A
GSZ-ST-102A型探針測(cè)試臺(tái) 、與測(cè)試儀器配接后可用于集成電路芯片及各種晶體管芯的電參數(shù)測(cè)試及功能調(diào)試，適用于科研、新品試制及小批量的中間測(cè)試。
技 術(shù) 指 標(biāo) ： 工作臺(tái)面 | 370mm*245mm | 載物臺(tái)直徑 | 4" | 光學(xué)參數(shù) | 總放大率：50-100倍；手輪調(diào)焦范圍：60mm；升降調(diào)焦范圍：200mm； | 旋轉(zhuǎn)臺(tái) | 粗調(diào)范圍：360°；微調(diào)范圍：±10°；zui小刻劃：1°；
銅盤直徑：Φ85mm；絕緣盤直徑：Φ102mm | 三維探針座 | 探針座X、Y、Z方向調(diào)節(jié)范圍：±3.25mm，分辨率±2μ；
三維探針座在工作臺(tái)面可任意位置固定，由磁性開關(guān)控制；
zui多可布三維探針座6個(gè)；
探針臂伸出長(zhǎng)度：60mm；
探針長(zhǎng)度：40mm； | 探針 | 探針材質(zhì)硬質(zhì)合金，針尖曲率半徑2μm； |
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標(biāo)準(zhǔn)配置：主工作臺(tái)、顯微鏡、承片臺(tái)、三維微調(diào)架2個(gè)、探針臂2支、探針2支。
可選配件：三維微調(diào)架、探針臂、探針、真空泵。
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 詳細(xì)資料及相關(guān)圖片
| 品名 | ST-102C型探針測(cè)試臺(tái) | | |
特性/規(guī)格 | *.主要的特性和規(guī)格和ST-102A 一樣；
*.監(jiān)視方式：顯微鏡和USB接口CCD攝像頭共存兩 種監(jiān)視方式；
*.五種型號(hào)ST-102系列探針測(cè)試臺(tái)區(qū)別表如下： 型號(hào) | 監(jiān)視方式 | 放大倍數(shù) | ST-102A | 顯微鏡 | 50倍、100倍固定倍數(shù) | ST-102B | CCD攝像頭
監(jiān)視器 | 10-100倍連續(xù)變倍 | ST-102C | 顯微鏡
USB接口攝像頭 | 50倍、100倍固定倍數(shù) | ST-102D | 顯微鏡 | 14-90連續(xù)變倍
17.5-112.5連續(xù)變倍 | ST-102E | 顯微鏡
USB接口攝像頭 | 14-90連續(xù)變倍
17.5-112.5連續(xù)變倍 |
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