新款沈陽宇時彩屏涂層測厚儀

產品介紹

新款沈陽宇時彩屏涂層測厚儀采用磁性/渦流測量原理，測量金屬基體上涂鍍層厚度。儀器采用全金屬外殼，經過CNC精密機械加工及陽極氧化處理，并配以不銹鋼上下蓋。儀器從機身到接插件均做密封處理，*符合IP68防水防塵標準。本儀器可應用于制造業、金屬加工業、航天航空、鐵路運輸、化工業、商檢業等檢測領域，是無損檢測行業*的儀器。

CM30涂層測厚儀可選配探頭： F3：0~3000um N2：0~2000um FN1.5：0~1500um F10：0~10000um。

CM30涂層測厚儀測量方法及注意事項

握住探頭外殼靠近頭部一端。

探頭垂直落于被測物表面，直到儀器屏幕出現數值。

探頭每次抬離被測物表面高度5cm以上。

若探頭置于被測物表面長時間不出現讀數，可抬起探頭重新測量，或重啟儀器。

儀器測量界面下部有探頭測量狀態指示圖標，指示探頭處于測量被測物表面（高亮白色）或是探頭抬起（灰色）狀態

零點調整

利用無涂、覆層的被測工件或與被測工件形狀、結構相似的工件，對探頭調零。

一點校準

利用無涂、覆層的被測工件或與被測工件形狀、結構相似的工件測量標準試片厚度，并調整儀器數值與標準試片相同或接近。

兩點校準

在一點校準的基礎上，測量與第一點不同厚度的標準試片，并調整儀器數值與標準試片相同或接近。先校準厚度值較小的試片，再校準厚度值較大的試片。

技術參數

測量參數