材料中的很多成份，以不同角度入射，得到的透射率和反射率會因入射角度變化而變化。通過測量不同角度入射，研究材料的zui敏感角度，為進(jìn)一步研究或設(shè)計測量儀器提供依據(jù)。

RTM-VA全角度光譜測量臺可以搭配光譜儀、光源及其他測量附件，可以對材料進(jìn)行不同角度入射和接收的光譜測量，適用于各種表面平整的樣品光譜測量。采用電控獨(dú)立雙軸設(shè)計，高精度步進(jìn)電機(jī)控制發(fā)射端和接收端的角度，角分辨率達(dá)0.05°。光譜范圍220-2500nm(可選擇不同配置），電腦軟件選擇發(fā)射端和接收端的角度，實現(xiàn)快速的光譜測量，能夠滿足透射/反射/散射/熒光/輻射等多種模式的全角度光譜測量應(yīng)用的需求。

入射端帶有一個旋轉(zhuǎn)偏振片架和一個濾波片架，可以放置一個偏振片和濾波片。接收端帶有一個濾波片架，可以放置一個濾波片、偏振片或者波片。各種波長的范圍的偏振片、濾波片和波片可供選擇。

應(yīng)用領(lǐng)域

• LED光源等
• 材料鍍膜
• 光子晶體器件
• 液晶顯示
• 傳感器器件制備
• 角度材料相關(guān)分析
• 納米光學(xué)材料

主要特點

• 全角度測量：發(fā)射端角度范圍0°至180°，接收端角度范圍0°至360°，可以實現(xiàn)反射、透射、散射、熒光和輻射的全角度光譜測量。
• 精確角度控制：高精度電機(jī)，角度精度及重復(fù)性能優(yōu)異。
• 多光譜測量模式：可以實現(xiàn)上反射、下反射、透射、散射/熒光、輻射等多種光譜測量。
• 可編程測量模式：可以通過編程，來實現(xiàn)自動多角度光譜測量。
• 自由測量模式：可以任意控制樣品臺的入射角、接收角，實現(xiàn)光譜測量。
• 可選配件多樣：根據(jù)客戶的不同測量應(yīng)用，可以選擇不同的光源、濾光片、偏振片等配件完成不同的測量應(yīng)用。
• 多維調(diào)節(jié)樣品臺：樣品臺由高精度三維位移臺和二維傾斜臺組成，可實現(xiàn)樣品的五維正交調(diào)節(jié)。

光譜角度測量模式

反射測量（上反射/下反射）模式	透射測量模式
散射/熒光測量械	輻射測量模式

參數(shù)指標(biāo)

可選配件