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可表征具有高帶寬，調制頻率高達3 GHz（可選6 GHz）的元器件
通過經校準的發射機和接收機測量隔離激光和光電二極管的響應
精確測量光電二極管、激光、連接器和其它光波元器件的電氣回波損耗
測量調制第二和第三諧波的掃描頻率響應
通過距離/時域測量為反射定位并觀察步進響應
產品簡介
詳細介紹
HP 8702D 光波元器件分析儀主要特性：
• 頻率范圍：30KHz-3/6GHz
• 130MHz-20GHz
• 850nm、1300nm和1550nm工作
• 高速光、點-光和點元件的校準頻率響應測量
• RIN測量
• 激光器線寬和啁啾聲測量
• 調制響應、失真和深度測量
HP 8702D 光波元器件分析儀產品概述：
Agilent 8702D網絡分析儀
30KHz-3GHz（850nm），30KHz-6GHz（1300，1550nm）
8702D在多用性、性能和生產率等方面作了重大改進，其中的幾個改進如下：
? 改進光的校準精確度
? 內置3.5寸軟盤驅動器，具有LIF/GOS格式
? 整套的S參數測試裝置
? 串行和并行打印機接口
? 自動測量用的測試序列
? 多光源和接收機選擇