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    專業(yè)儀器設(shè)備與測(cè)試方案供應(yīng)商——上海堅(jiān)融實(shí)業(yè)有限公司JETYOO INDUSTRIAL & 堅(jiān)友（上海）測(cè)量?jī)x器有限公司JETYOO INSTRUMENTS，由原安捷倫Agilent技術(shù)工程師——堅(jiān)JET和泰克Tektronix用戶工程師——融YOO于2011年共同創(chuàng)立，志在破舊立新！*測(cè)試測(cè)量行業(yè)代理經(jīng)銷商只專業(yè)做商務(wù)銷售，不專業(yè)做售前測(cè)試方案，不專業(yè)做售后使用培訓(xùn)的空白。我們的技術(shù)銷售工程師均為本科以上學(xué)歷，且均有10年以上儀器行業(yè)工作經(jīng)驗(yàn)，專業(yè)為中國(guó)區(qū)用戶提供儀器設(shè)備、測(cè)試方案、技術(shù)培訓(xùn)、維修服務(wù)，為上海華東地區(qū)一家以技術(shù)為導(dǎo)向的儀器設(shè)備綜合服務(wù)商。

慶聲KSON光伏太陽(yáng)能恒溫恒濕試驗(yàn)箱(KSON for the Solar Market)

        太陽(yáng)能電池模塊的設(shè)計(jì)使用年限大約是20～30年，而可靠度試驗(yàn)是仿真陸上太陽(yáng)光電模塊(晶硅、非晶硅、薄膜、聚光型)的設(shè)計(jì)驗(yàn)證，讓模塊能夠在一般氣候下長(zhǎng)期操作20年以上，規(guī)范要求太陽(yáng)能電池需進(jìn)行：Thermal cycle test(溫度循環(huán)測(cè)試)、Humidity-freeze test(濕冷凍測(cè)試)、Damp Heat(濕熱測(cè)試)，以確認(rèn)太陽(yáng)能電池能夠承受高溫高濕之后隨級(jí)的零下溫度影響，以及對(duì)于溫度重復(fù)變化時(shí)引起的疲勞和熱失效，另外確定太陽(yáng)能電池能夠抵抗?jié)駳忾L(zhǎng)期滲透之能力，其試驗(yàn)設(shè)備設(shè)計(jì)與能力需滿足相關(guān)規(guī)范：(IEC61215 , IEC61646 , UL1703 , IEC62108 , IEEE1513,IEC61730 ) 的要求才行。

慶聲KSON光伏太陽(yáng)能恒溫恒濕試驗(yàn)箱產(chǎn)品特色：

a.支持太陽(yáng)能電池進(jìn)行測(cè)試中量測(cè)要求(太陽(yáng)能電池開(kāi)路量測(cè)系統(tǒng))

b.具備太陽(yáng)能電池試驗(yàn)整合能力與通訊命令(Labview、VB、VC、C++、RS232)

c.節(jié)能減碳省電設(shè)計(jì)

規(guī)范要求：

a.于模塊測(cè)試期間減少凝結(jié)于表面上

b.柜內(nèi)頂端不得有凝結(jié)水滴在試件上

c.可時(shí)間設(shè)定電源時(shí)序開(kāi)關(guān)控制(滿足IEC61215 、IEC62108 要求)

專li&認(rèn)證：

a.恒溫恒濕機(jī)防止結(jié)露

d.通過(guò)EMC防電磁波干擾

 c.專li設(shè)計(jì)太陽(yáng)能放置治具

 安全保護(hù)：

a.試驗(yàn)結(jié)束待測(cè)品回常溫保護(hù)機(jī)制

b.試驗(yàn)機(jī)臺(tái)具備35點(diǎn)內(nèi)外安全保護(hù)偵測(cè)(內(nèi)部14點(diǎn)，外部31點(diǎn))

世界shou創(chuàng)：

a.斜率段＆恒溫段同步溫濕度設(shè)定

b.完整實(shí)時(shí)試驗(yàn)曲線分析顯示，無(wú)時(shí)間限制

c.試驗(yàn)結(jié)束待測(cè)品回常溫保護(hù)機(jī)制

 控制器創(chuàng)新：

a.動(dòng)態(tài)實(shí)時(shí)變化程序編輯曲線

b.溫濕度設(shè)定條件防呆保護(hù)

c.機(jī)臺(tái)重新來(lái)電試驗(yàn)曲線不中斷

 d.符合聯(lián)想計(jì)算機(jī)的Labview控制命令

e.AI(人工智能)+Fuzzy(模糊控制)技術(shù)

f.繁簡(jiǎn)體中文、英文三種畫(huà)面語(yǔ)系切換

高相關(guān)規(guī)范資料介紹：

硅晶太陽(yáng)能:IEC61215、UL1703 、GB9535

薄膜太陽(yáng)能:IEC61646、GB18911

聚光太陽(yáng)能:IEC62108 、IEEE1513

※相關(guān)試驗(yàn)后皆須進(jìn)行規(guī)范所要求的檢查項(xiàng)目(外觀、絕緣電阻、大輸出功率)

Thermal cycle test(溫度循環(huán)測(cè)試)

目的：確定組件于溫度重復(fù)變化時(shí),引起的疲勞和其它應(yīng)力的熱失效。

溫度循環(huán)比較

低溫

高溫

溫變率

駐留時(shí)間

循環(huán)數(shù)

IEC61215

-40±2℃

85±2℃

大100℃/h

少10min

50、200

GB9535

-40±2℃

85±2℃

大100℃/h

少10min

50、200

IEC61646

-40±2℃

85±2℃

大100℃/h

少10min

50、200

GB18911

-40±2℃

85±2℃

大100℃/h

少10min

50、200

UL1703

-40±2℃

90±2℃

大120℃/h

30～105min

200

IEC62108

-40±2℃

65℃、85℃、110℃

10cycle/day

10min

500、1000、2000

IEC62108

-40℃

65℃、85℃、110℃

18cycle/day

10min

500、1000、2000

IEEE1513

-40℃

90℃、110℃

0.9～7.5℃/min

少10min

250、500

IEEE1513

-40℃

90℃、110℃

大100℃/h

少10min

100、200

IEEE1513

-40℃

60℃、90℃

大100℃/h

少10min

50、200

Humidity-freeze test(濕冷凍測(cè)試)

目的：確定組件承受高溫、高濕之后以及隨后的零下溫度影響的能力。

溫度循環(huán)比較

高溫高濕

低溫

溫變率

循環(huán)數(shù)

IEC61215

85℃/85±5%(20h)

-40℃(0.5～4h)

高溫升降溫(100℃/h)

低溫升降溫(200℃/h)

10

GB9535

85℃/85±5%(20h)

-40℃(0.5～4h)

高溫升降溫(100℃/h)

低溫升降溫(200℃/h)

10

IEC61646

85℃/85±5%(20h)

-40℃(0.5～4h)

高溫升降溫(100℃/h)

低溫升降溫(200℃/h)

10

GB18911

85℃/85±5%(20h)

-40℃(0.5～4h)

高溫升降溫(100℃/h)

低溫升降溫(200℃/h)

10

UL1703

85℃/85±2.5%(20h)

-40℃(0.5～4h)

高溫升降溫(120℃/h)

低溫升降溫(200℃/h)

10

IEEE1513

85℃/85±2.5%(20h)

-40℃(0.5～4h)

高溫升降溫(100℃/h)

低溫升降溫(200℃/h)

20

IEC62108

85℃/85±2.5%(20h)

-40℃(0.5～4h)

高溫升降溫(100℃/h)

低溫升降溫(200℃/h)

20、40

Damp Heat(濕熱測(cè)試)

85 ±2 ℃/85 ±5%/1000h ，目的：確定模塊抵抗?jié)駳忾L(zhǎng)期滲透之能力。

 直立式觸控式控制系統(tǒng)

 控制系統(tǒng)通過(guò)EMC(電磁兼容性)驗(yàn)證

  直立式全彩液晶TFT,簡(jiǎn)/繁/英文顯示器

  9999 HOURS / STEP 每段可控制時(shí)間

  150 program x 100 step 程序記憶容量

  USB2.0儲(chǔ)存接口與曲線記錄 

  12 bit D/A 溫度濕度轉(zhuǎn)換接口

  全自動(dòng)控制與安全保護(hù)協(xié)調(diào)系統(tǒng)

  High power LED運(yùn)轉(zhuǎn)狀態(tài)指示燈 

  Index 運(yùn)轉(zhuǎn)狀態(tài)指示燈 

太陽(yáng)能電池開(kāi)路量測(cè)檢測(cè)系統(tǒng)

(Photovoltaic Module Electrical Performance Test)  

 太陽(yáng)能電池在可靠度測(cè)試中必須要進(jìn)規(guī)范所提到的濕冷凍、溫度循環(huán)、濕熱試驗(yàn)..等試驗(yàn)，確認(rèn)太陽(yáng)能電池在試驗(yàn)過(guò)程當(dāng)中是否發(fā)生故障或是失效，透過(guò)開(kāi)路測(cè)試系統(tǒng)可以進(jìn)行簡(jiǎn)易的太陽(yáng)能電池失效判定。

IEC61646、IEC61215、UL1703、IEEE1513規(guī)范對(duì)試驗(yàn)中量測(cè)系統(tǒng)要求：

太陽(yáng)能電池規(guī)范

IEC61646(薄膜太陽(yáng)能)

IEC61215(晶圓太陽(yáng)能)

UL1703(晶圓太陽(yáng)能)

IEE1513(聚光型太陽(yáng)能)

整個(gè)測(cè)試過(guò)程中，監(jiān)測(cè)每一個(gè)模塊內(nèi)部電連續(xù)性之儀器

熱循環(huán)、濕冷凍 熱循環(huán)、濕冷凍 熱循環(huán)、濕冷凍  

監(jiān)測(cè)每一個(gè)模塊之一個(gè)隱現(xiàn)端和邊框或支撐架之間絕緣完整性

熱循環(huán)、濕冷凍 熱循環(huán)、濕冷凍  

整個(gè)測(cè)試過(guò)程中紀(jì)錄模塊溫度

熱循環(huán)、濕冷凍 熱循環(huán) 熱循環(huán)、濕冷凍  

并監(jiān)測(cè)可能產(chǎn)生之任何開(kāi)路或接地失效(測(cè)試過(guò)程中無(wú)間歇開(kāi)路或接地失效)。

熱循環(huán)、濕冷凍 熱循環(huán) 熱循環(huán)、濕冷凍  

絕緣電阻需符合如初步量測(cè)之相同要求

熱循環(huán)、濕冷凍、

濕熱試驗(yàn) 熱循環(huán)、濕冷凍、

濕熱試驗(yàn) 熱循環(huán)、濕冷凍 熱循環(huán)、濕冷凍、

濕熱試驗(yàn)

施加電流等于測(cè)試模塊之STC大功率電流±2%之儀器(50個(gè)cycle內(nèi)不需通電，模塊溫度大于25℃時(shí)才通電)

  熱循環(huán)  

測(cè)量及紀(jì)錄模塊溫度之儀器準(zhǔn)確度±1℃

熱循環(huán)、濕冷凍 熱循環(huán)、濕冷凍  

適用規(guī)范：IEC61215 , IEC61646 , UL1703 , IEC62108 , IEEE1513,IEC61730 

試驗(yàn)試驗(yàn)條件：溫度循環(huán)(Thermal Cycling Test)、濕冷凍(Humidity Freeze Test)

濕熱 (Damp-heat test)

量測(cè)軌道：4組太陽(yáng)能電池(溫度*1+電壓*2+電阻*1)+爐內(nèi)溫濕度

失效判定：設(shè)定量測(cè)值上下限范圍

報(bào)表：EXCEL報(bào)告

曲線：18軌多軌曲線(電壓、電阻、表面溫度、試驗(yàn)爐溫濕度)

控制模式：量測(cè)、暫停、停止

溫度量測(cè)：熱電偶合

備注：此系統(tǒng)不包含太陽(yáng)能恒溫恒濕機(jī)、計(jì)算機(jī)、計(jì)算機(jī)桌、儀器架

建議搭配設(shè)備：太陽(yáng)能恒溫恒濕機(jī)

慶聲KSON薄膜太陽(yáng)能電池溫循濕冷凍試驗(yàn)機(jī)  

    薄膜太陽(yáng)電池可以使用在價(jià)格低廉的玻璃、塑料、陶瓷、石墨，金屬片等不同材料當(dāng)基板來(lái)制造，薄膜太陽(yáng)電池在溫度循環(huán)、濕冷凍、濕熱試驗(yàn)中的量測(cè)及電壓輸入的方式，與晶圓型是不一樣的所以量測(cè)方式也所有不同，是不可以混淆的，薄膜型太陽(yáng)能電池所依據(jù)的試驗(yàn)規(guī)范為IEC 61646、IEC 61215、UL1703、GB9535、GB18911..等。

形成可產(chǎn)生電壓的薄膜厚度僅需數(shù)μm，因此在同一受光面積之下可較硅晶圓太陽(yáng)能電池大幅減少原料的用量(厚度可低于硅晶圓太陽(yáng)能電池90%以上)，目前轉(zhuǎn)換效率高以可達(dá)13%，薄膜電池太陽(yáng)電池除了平面之外，也因?yàn)榫哂锌蓳闲钥梢灾谱鞒煞瞧矫鏄?gòu)造其應(yīng)用范圍大，可與建筑物結(jié)合或是變成建筑體的一部份，在薄膜太陽(yáng)電池制造上，則可使用各式各樣的沈積(deposition)技術(shù)，一層又一層地把p-型或n-型材料長(zhǎng)上去，常見(jiàn)的薄膜太陽(yáng)電池有非晶硅、CuInSe2 (CIS)、CuInGaSe2 (CIGS)、和CdTe..等。

慶聲KSON薄膜太陽(yáng)能電池溫循濕冷凍試驗(yàn)機(jī) 產(chǎn)品特色：

a.符合IEC61646-10.11、GB18911-10.11、CNS15115-10.11熱循環(huán)、濕冷凍、濕熱規(guī)范當(dāng)中的試驗(yàn)要求

b.試驗(yàn)過(guò)程進(jìn)行相關(guān)電性與物理量量測(cè)

c.柜內(nèi)頂端不得有凝結(jié)水滴在試件上

d.專li設(shè)計(jì)太陽(yáng)能放置治具

e.試驗(yàn)結(jié)束待測(cè)品回常溫保護(hù)機(jī)制

目的：確定組件于溫度重復(fù)變化時(shí),引起的疲勞和其它應(yīng)力的熱失效。

要求：

1.整個(gè)測(cè)試過(guò)程中紀(jì)錄模塊溫度，測(cè)量及紀(jì)錄模塊溫度之儀器準(zhǔn)確度±1℃

2.整個(gè)測(cè)試過(guò)程中，監(jiān)測(cè)每一個(gè)模塊內(nèi)部電連續(xù)性之儀器

3.監(jiān)測(cè)每一個(gè)模塊之一個(gè)隱現(xiàn)端和邊框或支撐架之間絕緣完整性之儀器

4.監(jiān)測(cè)可能產(chǎn)生之任何開(kāi)路或接地失效(測(cè)試過(guò)程中無(wú)間歇開(kāi)路或接地失效)。

慶聲KSON薄膜太陽(yáng)能電池溫循濕冷凍試驗(yàn)機(jī) 參數(shù)指標(biāo)

溫度循環(huán)比較

低溫

高溫

溫變率

駐留時(shí)間

循環(huán)數(shù)

IEC61646

-40±2℃

85±2℃

大100℃/h

少10min

50、200

GB18911

-40±2℃

85±2℃

大100℃/h

少10min

50、200

CNS15115

-40±2℃

85±2℃

大100℃/h

少10min

50、200

Humidity-freeze test(濕冷凍測(cè)試)

目的：確定組件承受高溫、高濕之后以及隨后的零下溫度影響的能力。

要求：

1.整個(gè)測(cè)試過(guò)程中紀(jì)錄模塊溫度，測(cè)量及紀(jì)錄模塊溫度之儀器準(zhǔn)確度±1℃

2.整個(gè)測(cè)試過(guò)程中，監(jiān)測(cè)每一個(gè)模塊內(nèi)部電連續(xù)性之儀器

3.監(jiān)測(cè)每一個(gè)模塊之一個(gè)隱現(xiàn)端和邊框或支撐架之間絕緣完整性之儀器

4. 監(jiān)測(cè)可能產(chǎn)生之任何開(kāi)路或接地失效(測(cè)試過(guò)程中無(wú)間歇開(kāi)路或接地失效)。

溫度循環(huán)比較

高溫高濕

低溫

溫變率

循環(huán)數(shù)

IEC61646

85℃/85±5%(20h)

-40℃(0.5～4h)

高溫升降溫(100℃/h)

低溫升降溫(200℃/h)

10

GB18911

85℃/85±5%(20h)

-40℃(0.5～4h)

高溫升降溫(100℃/h)

低溫升降溫(200℃/h)

10

CNS15115

85℃/85±5%(20h)

-40℃(0.5～4h)

高溫升降溫(100℃/h)

低溫升降溫(200℃/h)

10

Damp Heat(濕熱測(cè)試)

目的：確定模塊抵抗?jié)駳忾L(zhǎng)期滲透之能力。

試驗(yàn)條件：85 ±2 ℃/85 ±5%/1000h(IEC61646-10.13、GB18911-10.13、CNS15115-10.13)

  直立式觸控式控制系統(tǒng)

 控制系統(tǒng)通過(guò)EMC(電磁兼容性)驗(yàn)證

  直立式全彩液晶TFT,簡(jiǎn)/繁/英文顯示器

  9999 HOURS / STEP 每段可控制時(shí)間

  150 program x 100 step 程序記憶容量

  USB2.0儲(chǔ)存接口與曲線記錄 

  12 bit D/A 溫度濕度轉(zhuǎn)換接口

  全自動(dòng)控制與安全保護(hù)協(xié)調(diào)系統(tǒng)

  High power LED運(yùn)轉(zhuǎn)狀態(tài)指示燈 

  Index 運(yùn)轉(zhuǎn)狀態(tài)指示燈