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上海堅(jiān)融實(shí)業(yè)有限公司

中級(jí)會(huì)員·13年

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KTHB中國(guó)臺(tái)灣慶聲KSON恒溫恒濕箱
參考價(jià): 面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • KTHB 產(chǎn)品型號(hào)
  • 其他品牌 品牌
  • 生產(chǎn)商 廠商性質(zhì)
  • 上海市 所在地

訪問(wèn)次數(shù):7227更新時(shí)間:2024-08-19 10:24:42

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中級(jí)會(huì)員·13年
聯(lián)人:
凌工
話:
4001616556
機(jī):
15000330092
址:
上海市閔行區(qū)聯(lián)明路555號(hào)
個(gè)化:
www.jetyoo.com
網(wǎng)址:
www.jetyoo.com

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
產(chǎn)地類別 國(guó)產(chǎn) 價(jià)格區(qū)間 10萬(wàn)-20萬(wàn)
儀器種類 臺(tái)式 應(yīng)用領(lǐng)域 電子
中國(guó)臺(tái)灣慶聲KSON恒溫恒濕箱KTHB/高低溫試驗(yàn)箱(Programmable Temperature&Humidity Chamber)專業(yè)為中國(guó)區(qū)用戶提供儀器設(shè)備、測(cè)試方案、技術(shù)培訓(xùn)、維修服務(wù)
產(chǎn)品介紹

    專業(yè)儀器設(shè)備與測(cè)試方案供應(yīng)商——上海堅(jiān)融實(shí)業(yè)有限公司JETYOO INDUSTRIAL & 堅(jiān)友(上海)測(cè)量?jī)x器有限公司JETYOO INSTRUMENTS,由原安捷倫Agilent技術(shù)工程師——堅(jiān)JET和泰克Tektronix用戶工程師——融YOO于2011年共同創(chuàng)立,志在破舊立新!*測(cè)試測(cè)量行業(yè)代理經(jīng)銷商只專業(yè)做商務(wù)銷售,不專業(yè)做售前測(cè)試方案,不專業(yè)做售后使用培訓(xùn)的空白。我們的技術(shù)銷售工程師均為本科以上學(xué)歷,且均有10年以上儀器行業(yè)工作經(jīng)驗(yàn),專業(yè)為中國(guó)區(qū)用戶提供儀器設(shè)備、測(cè)試方案、技術(shù)培訓(xùn)、維修服務(wù),為上海華東地區(qū)一家以技術(shù)為導(dǎo)向的儀器設(shè)備綜合服務(wù)商。

中國(guó)臺(tái)灣慶聲KSON恒溫恒濕箱KTHB/高低溫試驗(yàn)箱(Programmable Temperature&Humidity Chamber)

高低溫試驗(yàn)箱/恒溫恒濕箱仿真產(chǎn)品在氣候環(huán)境溫濕組合條件下(高低溫操作&儲(chǔ)存、溫度循環(huán)、高溫高濕、低溫低濕、結(jié)露試驗(yàn)等),檢測(cè)產(chǎn)品本身的適應(yīng)能力與特性是否改變。

需符合性規(guī)范之要求(IEC、JIS、GB、MIL…)以達(dá)到間量測(cè)程序*性(含測(cè)試步驟、條件、方法)避免認(rèn)知不同,并縮小量測(cè)不確定的因素范圍發(fā)生。

 

 

中國(guó)臺(tái)灣慶聲KSON恒溫恒濕箱KTHB/高低溫試驗(yàn)箱特點(diǎn)介紹:

同容積超越同業(yè)可承受較大發(fā)熱負(fù)載(可放置較多待測(cè)品)

全自動(dòng)配合待測(cè)品負(fù)載量控制壓縮機(jī)冷媒流量達(dá)到省電目的

有效的低濕度控制范圍40℃/10%RH效能

同業(yè)數(shù)量多機(jī)臺(tái)安全保護(hù)偵測(cè)點(diǎn)

 

規(guī)范要求:

a.可執(zhí)行規(guī)范所要求之結(jié)露與不結(jié)露試驗(yàn)條件

b.執(zhí)行待測(cè)品不結(jié)露試驗(yàn)溫濕度同步斜率控制技術(shù)

c.可執(zhí)行結(jié)露試驗(yàn)前的干燥階段試驗(yàn)條件

 

專li&認(rèn)證:

a.恒溫恒濕機(jī)防止結(jié)露

b.伺服超音波加濕器

c.伺服超音波控制技術(shù)

d.通過(guò)EMC防電磁波干擾

e.榮獲蘇州名pai產(chǎn)品證書

 

世界shou創(chuàng):

a.斜率段&恒溫段同步溫濕度設(shè)定

b.完整實(shí)時(shí)試驗(yàn)曲線分析顯示,無(wú)時(shí)間限制

c.試驗(yàn)結(jié)束待測(cè)品回常溫保護(hù)機(jī)制

d.機(jī)臺(tái)蓄水桶預(yù)知缺水警告

e.內(nèi)建USB2.0接口數(shù)字記錄器(紀(jì)錄中不需插入隨身碟,并可拷貝試驗(yàn)曲線及加載程序)

f.機(jī)臺(tái)或計(jì)算機(jī)重新來(lái)電遠(yuǎn)程聯(lián)機(jī)試驗(yàn)曲線自動(dòng)接續(xù)

 

控制器創(chuàng)新:

a.動(dòng)態(tài)實(shí)時(shí)變化程序編輯曲線

b.溫濕度設(shè)定條件防呆保護(hù)

c.機(jī)臺(tái)重新來(lái)電試驗(yàn)曲線不中斷

d.符合聯(lián)想計(jì)算機(jī)的Labview控制命令

e.AI(人工智能)+Fuzzy(模糊控制)技術(shù)

f.繁簡(jiǎn)體中文、英文三種畫面語(yǔ)系切換

 

中國(guó)臺(tái)灣慶聲KSON恒溫恒濕箱規(guī)格參數(shù)

Models KTHA KTHB KTHC KTHD KTHG

Inside Dimensions 

W x D x H cm 50x55x60 50x60x75 60x80x85 100x80x100 100x100x100

Outside Dimensions 

W x D x H cm 114x88x147 114x93x162 127x113x172 167x113x187 170x133x187

Precool / Preheat Range -70'C~ 150'C

Humidity Range 10%R.H ~ 98%R.H

Time Range 0 hour 1 min ~ 9999 hour 59 min / segment

Resolution 0.01'C / min, 0.1%RH/ min

Stability ± 0.2'C, ± 2.0%R.H

※以上規(guī)格僅供參考,如有變更不另行通知。

 

  The curve of oblique line is   addition chemistry     dehumidifier system.

 

  the curve horizontal line is   60 Hz.the others are 50Hz.

 

  斜線部分為加裝化學(xué)除濕系統(tǒng)曲線。

 

  橫線部分為60Hz,其余為50Hz之曲線。

50Hz可控制能力范圍

60Hz比50Hz多出來(lái)的能力范圍

加裝除濕輪的能力范圍

 

  恒溫恒濕觸控式控制系統(tǒng)

 控制系統(tǒng)通過(guò)EMC(電磁兼容性)驗(yàn)證

  直立式全彩液晶TFT,簡(jiǎn)/繁/英文顯示器

  9999 HOURS / STEP 每段可控制時(shí)間

  150 program x 100 step 程序記憶容量

  USB2.0儲(chǔ)存接口與曲線記錄 

  12 bit D/A 溫度濕度轉(zhuǎn)換接口

  全自動(dòng)控制與安全保護(hù)協(xié)調(diào)系統(tǒng)

  High power LED運(yùn)轉(zhuǎn)狀態(tài)指示燈 

  Index 運(yùn)轉(zhuǎn)狀態(tài)指示燈 

 

高低溫試驗(yàn)箱相關(guān)規(guī)范資料介紹:

  項(xiàng)目 溫度 時(shí)間 其它

Inverter-可靠度試驗(yàn)

常溫初期試驗(yàn)

 

25 ℃ TIME≧2小時(shí)

低溫初期試驗(yàn) 0 ℃ or -5 ℃ TIME≧2小時(shí) -

液晶顯示器LCD

 

高溫存儲(chǔ) 60℃,30%RH 120 小時(shí) 批注1

低溫存儲(chǔ) -20℃ 120 小時(shí) 批注1

偏光板 高溫 80℃×500HR -

濕熱 60℃×90%RH×500HR以下的工作條件

液晶顯示器于Aging階段常用的試驗(yàn)條件 條件1 50℃ 6.5小時(shí) (15#~21# TFT )

條件2 65℃ 4小時(shí) (15#~21# TFT)

觸控式面板

 

高溫試驗(yàn)-1 70℃/40~50%R.H. 120小時(shí)

試驗(yàn)結(jié)束后室溫下靜置2小時(shí)再行測(cè)試,24小時(shí)之后在測(cè)一次。

 

高溫試驗(yàn)-2 70℃ 240小時(shí)

試驗(yàn)結(jié)束后室溫下靜置2小時(shí)再行測(cè)試,24小時(shí)之后在測(cè)一次。



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