激光光束診斷:激光光束分析儀、激光光束輪廓分析儀、光束傳播參數分析儀

用以分析激光光束輪廓、強度分布、傳播特性、模式構成、乃至波長等全面描述激光性能的參數。

LaserCam-HR-InGaAs

新的LaserCam-HR-InGaAs相機與強大的BeamView-USB軟件相匹配，在900~1700nm的范圍內都表現出良好的性能。這種14比特，接受面積大，未冷卻的InGaAs相機提供用戶可編程系統集成和令人難以置信的快速抓圖，同時光學動態范圍大于1000：1。這種新相機的超緊湊設計和便捷的單USB電纜可以解決實驗室應用和生產環境等絕大部分現場維修的要求。

LaserCam-HR-UV

新的LaserCam-HR-UV相機體積緊湊，價格合理，適用于190~355nm范圍內的光束診斷應用。2/3 CMOS 相機表現出令人難以置信的性能，在惡劣的紫外波段環境下，一般的光束診斷儀的性能都有降低，但是這種相機仍能表現出*的性能。
新的LaserCam-HR-InGaAs相機可根據用戶需求進行系統集成，與強大的BeamView-USB軟件包相匹配，具有大于650：1的光學動態范圍。這種相機可接受的光束直徑0.4~6.0mm，超緊湊設計和便捷的單USB電纜連接解決生產線、現場維修、實驗室應用需要。

LaserCam-HR

LaserCam-HR是激光光束質量分析儀，處理速度快，通過USB2.0接口與BeamView分析PC光束診斷軟件配合使用。1.3百萬像素保證了高的性能和測量精度。信號和功率線集成在一根接口線中，相機布局方便。USB2.0與所有的計算機兼容。

BeamView數字分析儀

BeamViewTM 數字分析儀由于光學動態范圍的擴大，簡化了設置和光束的分析，相比起傳統的模擬相機系統，光學動態范圍更寬，測量更精確，測量結果*性更好。
BeamView 數字分析儀應用相干公司Windows軟件和10比特LaserCamTMIIID。LaserCam IIID是相干公司專為激光診斷設計制造的，具有10比特的數字輸出，大于1200：1的光學動態范圍。
LaserCam IIID有1/4英寸和1/2英寸兩種傳感器型號，通常傳感器可以互換或者獨立訂購。
BeamView數字分析儀作為一個完整的封裝組合到PC兼容的計算機平臺上。此系統包括LaserCam IIID，基于Windows 的BeamView數字分析儀，數字PCI接口卡，電纜和操作手冊。
BeamView頻譜分析儀也可以作為按筆記本電腦或桌上型電腦配置的診斷系統。也可作為激光診斷圖像和衰減光學。參考相機和光束診斷相機的衰減光學可以得到更多的信息。

BeamView模擬分析儀:波長范圍10-2200nm,光束尺寸幾十微米-30×40mm

BeamView 模擬分析儀中所使用的PCI圖象采集卡與RS-170 或 CCIR 制式的相機兼容，可以同時帶6個相機，而后通過軟件控制/選擇任意一個相機在任意時刻工作。高等光學，衰減和定制相機的工作波長為10-2200nm，光斑直徑為幾十微米到30mm×40mm。
診斷系統包括桌上型或膝上型電腦，BeamView分析儀，相機和衰減光學元件。如果您要根據自己的要求制定系統，請與相干公司的銷售代表。參考相機和光束診斷相機的衰減光學可以得到更多的信息。
BeamView分析系統包括BeamView分析軟件，采集卡及接口卡，全面的用戶指南及電纜。用戶還得選擇一個合適的相機（查看光束診斷相機部分）。

光束診斷相機數字型和模擬型:2款數字，5款標準模擬相機滿足絕大部分的需求

特別為激光光束診斷設計（或優化）測量連續激光或者zui高重復頻率為10kHz脈沖激光 zui小分辨率5 um 相機工作參數預先存儲在BeamView分析軟件內 高光學動態范圍BeamViewTM分析儀和激光診斷系統配合使用，不論是數字還是模擬檢測激光器光束（閱讀BeamView分析激光光束診斷系統的更多信息）。相干公司提供2款數字和5款模擬相機滿足絕大部分測量的需求。
相干公司所有的相機經過ISO9002標準檢驗，都是專門為激光光束質量分析而設計或者優化的，噪聲低、線性率高、響應平滑。
所有的模擬相機是RS-170 (60 Hz 場頻) 制式，如果需要CCIR (50 Hz幀頻)制式，請向技術人員詢問。
多數相機是基于CCD探測元陣列，也有一些相機的探測元件是像管（Vidicon）。CCD 相機由二維排列的離散像素點給出強度分布，而像管通過電子束在像平面掃描來給出強度分布，可能的話，應選擇CCD 相機，整體表現性能要*一些。
相干公司提供4種標準的CCD相機，專為為光束診斷設計或優化。覆蓋的波長范圍從190 nm 到1100 nm。這些相機有不同精度和特點，可根據不同的診斷需要進行選擇。
如果要響應波長大于1100nm，Vidicon 相機和一些特定的相機可供選擇。如果要響應到190 nm以下，可以選擇深紫外采集裝置。
所有標準的CCD 相機接受C-mount光學件和附件直接耦合和連接，敏感元外沒有任何玻璃或者塑料窗口，避免引入任何光學畸變；但都配有一個低畸變的平面濾波片(LDFP Filter)，用來對環境中的雜散光進行足夠的衰減，而不需要在暗室內進行操作。但被測光源波長短于400nm時，應去掉LDFP濾波片。
快速地選擇合適的相機應當考慮zui重要的幾個參數：激光波長、功率密度/峰值功率密度、光束尺寸、分辨率要求、價格等。
光束尺寸 
為了能夠正確地呈現被測激光光束的全貌，應注意光束的1/e2 直徑不應當超過相機敏感面短軸的80%，這樣, 光束位置漂移不會影響到測量結果。但是，對于一些特殊參數的測量，比如D4δ，一般要求光束的1/e2 直徑不應當超過相機敏感面短軸的50%。
zui小可測量的光束直徑則決定于所要求的空間測量的準確性，光束覆蓋的像元數越少，空間測量的準確性就越差，我們一般用“覆蓋40個像元" (或者類似的Vidicon 處理元)來作為zui小可測量光束直徑的標準。
圖象獲取模式和分辨率
要理解分辨率，首先要了解圖象的獲取模式，因為相機的zui大有效成像面積與分辨率，和總像元面積與像素點尺寸這兩對概念并不總是相同的。像素信息是用電子方法獲得的，而在某些模式下，未必獲取到陣列中所有像素的數據。在逐行掃描的相機中，比如LaserCam II，每個掃描周期(1/30 秒)都會獲取到所有像素點的信息。在隔行掃描相機中，C-48和C-64，每個掃描周期(1/60 秒)只有隔行像素數據被獲取到，其他行的像素信息在下個周期才能夠獲取到。
有些時候，用戶可能希望工作在全場(Full Field)或者半場(Half Field)模式下，從更少的像素點中讀取信息以加快數據處理速度。這種數據獲取方式zui初是為了適應運算速度慢的計算機，但即使是在今天，計算機速度已經非常快了，要達到zui快的數據獲取速度全場和半場工作方式還是經常被用到。在全場方式下就是只搜集每2個像素點的數據；在半場方式下就是搜集每4個像素點的數據。這樣的方式很顯然會提高速度，但是會犧牲分辨率。綜合以上對不同數據采集模式的分析，就有不同的分辨率數據與之相對應：幀掃模式分辨率、全場模式分辨率、和半場模式分辨率。
測量脈沖激光
在選擇相機測量脈沖激光的時候有更多需要注意的地方，因為激光脈沖的時序可能與獲取像素點信息的時序相互干擾。
LaserCam II 和 LaserCam IIID 工作在逐行掃描方式下，刷新全部像素點的頻率是30Hz，因此整幅獲取脈沖激光的zui高響應頻率是30Hz。而隔行掃描的相機，工作在全場或半場模式下，可以響應的zui大脈沖重復頻率是60Hz。
如果要獲取重復頻率>60Hz的脈沖串中的單個脈沖，則建議在相機前加上一個電子快門。快門的速度決定了能夠測量的頻率。通過縮短快門的時間間隔到小于脈沖間的間隔，每個脈沖都能被探測到。例如，快門為1ms，這樣就能探測重復頻率小于1kHz的脈沖 。
如果要響應波長范圍為900nm-1100nm，由于重像，1/4 LaserCam II 和LaserCam IIID相機僅能用于連續激光器。
光學動態范圍
光學動態范圍定義為傳感器可以線性響應的zui大和zui小光學信號水平的比值。相機飽和值的80%通常是線性響應的高限；而線性響應的低限是可以被相機從背景噪聲中分辨出來的zui低照度。所有的模擬相機的光學動態范圍都比較有限(典型地大約200:1 到 300:1)。數字相機的光學動態范圍相對比較大(超過 1200:1)，原因是數字相機內部的積分數字電路的噪聲更低。
光束衰減
通常情況下，入射到相機面上的光束需要衰減，以避免引起相機飽和，甚至損壞相機。所有衰減光路中的光學元件應當使用激光級材料以避免引入過多的光學畸變。相干公司提供數種符合上述要求的衰減裝置，衰減率從1:1到 400,000:1，如果需要更高衰減倍數，請向技術人員詢問。

BeamMaster刀口式光束質量分析儀:可采樣、測量和顯示激光的截面形狀、2D和3D能量分布，采樣和刷新率zui高5Hz

連續激光光束形狀，功率和位置測量 可接受的光束直徑從3 um 到 9 mm，分辨率0.1 um，動態范圍寬 實時顯示、分析和數據存儲系統 可響應的波長范圍從190 nm 到1800 nm BeamMaster是高精度的多刀口掃描光束質量分析系統，可采樣、測量和顯示激光的截面形狀、2D和3D能量分布、質心位置、橢圓度和主次軸角度、相對功率、以及通過設定參數和偏差范圍實現在線篩選等功能，采樣和刷新率zui高5Hz，亦可平均1-20個采樣數據得到噪聲平均值和zui大的測量精度。
數據可以通過RS-232接口獲取和存儲，屏幕上的圖象可以被捕獲和輸出至打印機。
BeamMaster系統可以測量小的光束，甚或是聚焦以后的光束，zui小可測量的光束直徑是3um，分辨率可達0.1 um；也可以測量大光斑，zui大可測量的光束直徑是9 mm，分辨率1 um。可響應的波長范圍是190-1100 nm (Si-增強探元)，或者800-1800 nm (InGaAs探元)。
zui小可測量的激光功率為10 uW，使用Si探元的系統內還內置了零畸變的衰減片并可自動調整衰減倍數。
光束的輪廓和尺寸
輥輪的每次旋轉，7個刀口分別以不同方向掃描整個光束（BM-3中采用3個刀口），得到的數據經過BeamMaster獲取并處理后作為有關光束功率，位置和形狀的信息。每次旋轉得到的信息由帶狀記錄紙記錄，發送到文件或RS-232端口。
光斑在正交方向上的強度分布可以顯示出來，光束的寬度也數字顯示出來。高斯擬合的光斑能夠被任何以選的測量光斑包括，擬合和相關參數也顯示出來。
為了盡可能多地獲取光束的詳細信息，系統自動識別光斑中心，約放大3倍后顯示，同時光斑強度數據自動換檔方便顯示。
更多的信息可以通過特別高分辨模式得到。這對于分析光斑遠離高斯分布或小于100um的光束是非常有用的。
光束質心位置和橢圓度及主次軸角度
可以顯示光束的質心位置相對于傳感面積中心位置，光斑的相狀，橢圓度（主次軸）和主次軸角度。還具有放大功能，用戶可以選擇帶狀記錄紙的監測短期或長期的穩定性或漂移隨時間的變化關系。
功率測量 
光束功率可以數字或者模擬指針形式顯示。單位可以選擇μW, mW 或者dBm, 用戶可以歸零和對功率范圍內的任何部分進行放大。有衰減器（濾波片）和測試范圍可供選擇，在監視器上進行顯示，還有可選的聲音報警。
數據采集和自動判別 
光斑尺寸，質心位置，相對功率連續地顯示在模擬，數字和帶狀記錄紙的計算機屏幕上，也可以實時生成數據文件日志，方便以后的處理或測試報告的生成。通過/錯誤測試
用RS-232連接，文件可以傳送到其他電腦，或者數據實時傳送。另外，屏幕上的所有圖像圖像都能被捕獲并以BMP或JPG文件保存或傳送到Windows打印機進行打印。

ModeMasterPC型掃描主要標準組件，根據客戶需要可以選擇波長或發散角

ModeMaster PC型掃描頭包括透鏡組和探測器，可以對波長或發散角進行快速變化，滿足你的測量需要。
不管是紅外低發散角或高發散角系統，IR ModeMaster PC系統只能與紅外探測器配合使用。但是UV-VIS-NIR ModeMaster PC系統可以在紫外，可見或近紅外光譜區使用，并用適當的探測器（紫外和可見區，用硅；近紅外區，用鍺）和低發散角或高發散角透鏡組。紫外透鏡可以與硅探測器一起使用，VIS-NIR透鏡可以與硅或者鍺探測器連用。

WaveMaster波長計:用于測量連續或脈沖激光波長

測量精度0.005nm
分辨率0.001nm 
內置自動校準機制 
設置簡單 
無需預熱 
波長響應范圍380-1095nm 
RS-232接口 
WaveMaster 可以測量連續或任何重復頻率脈沖激光的波長。波長的顯示可以采用不同的單位：GHz、波數、或者nm。內置校準機制，通過自動參考內部氖泡的波長進行運算校準，保證測量和讀數準確度。
WaveMaster 的波長響應范圍是380-1095 nm，可用于測量和顯示線寬<2nm的激光波長。在長波范圍，線寬大于2nm的也可以測量。
WaveMaster使用簡單，不需要特別的準直，只需要將激光對準在采樣探頭上即可讀數（10度范圍內即可），采樣探頭通過光纖與主機相連。
一般情況下，系統根據入射光強弱自行調整衰減倍數，只在入射光過強或過弱時才需要操作者些許調整前面板衰減片。不需要特殊的觸發模式和設置。
WaveMaster可以交流供電或者電池供電。大顯示界面具有背光燈設置，方便讀取，還可調整顯示的對比度。
WaveMaster的設置具有記憶性，方便啟動時讀出。可通過RS-232接口與外部設備通訊。
用戶友好
WaveMaster前面板的超大顯示區具有對比度調節和背景光，方便數據的讀取。設置的參數均顯示在面板上，包括信號強度和脈沖接收指示燈。
當工作在連續模式下，顯示以3Hz頻率刷新，方便讀數。當工作在脈沖模式下時，刷新頻率也是3Hz，當讀數信號輸入后，顯示的數據保持5秒。
校準機制監測WaveMaster的響應，通過自動參考內部氖泡的波長進行運算校準
測量脈沖或連續激光
工作模式可以分為連續，平均連續和脈沖。在連續模式下，顯示屏的刷新頻率為3Hz，顯示的是zui后一次的讀數。在平均連續模式下，顯示屏的刷新頻率也是3Hz，但是顯示的是zui后10次讀數的平均值。
當WaveMaster接收到有效的脈沖信號時，此脈沖的讀數顯示15秒，或者直到另一有效脈沖或錯誤被探測到。
無需預熱
儀器安裝好之后，按電源開關，進入自我檢測循環。5秒之后，進入自校準模式。一旦自校準信息在顯示屏上消失， WaveMaster就可以進行測量工作了。
大又亮的顯示區
顯示區可以具有背景光，而且可根據視覺條件調整對比度。
精確
WaveMaster通過自動參考內部氖泡的波長對分光計進行運算校準，保證精確度。
設置簡單
WaveMaster回饋的信息簡單易懂。一旦探針到信號，儀器就采樣，設置簡單。在連續模式下， WaveMaster通過自動轉換調整積分時間，使其與輸入信號相匹配。這提供了快速設置和多功能性。

WaveMate波長計:測量450nm~1000nm波段的連續激光和脈沖激光的波長

快速顯示、低成本的波長測量裝置 適合測量連續或脈沖激光 高靈敏度: 20 uW/連續、10 uJ/脈沖 測量半導體激光器波長的* Wavemate是低成本的連續或脈沖激光波長測量裝置，響應波長范圍450 nm - 1,000 nm
Wavemate不需要特殊的光學接口，可以快速方便地進行安裝，非常適合追蹤可調諧激光器的波長和激光二極管的穩定性。
WaveMate的測量精度為0.1nm（HIRES時，為0.01nm），從連續光（±0.5 nm精度）到單脈沖（±1.0 nm 精度）
測量結果以8位數字顯示，同時顯示輸出光強，模擬條線圖，確保傳感器zui合適的信號水平。
WaveMate微處理器控制單元具有可選功能菜單，包括測量平均值，單脈沖檢測與保持，波長微分顯示模式，信號積分及背景的零點校正。所有的功能方便全自動工作，zui大化方便用戶使用和提高精度。
WaveMate*的探測頭設計包括溫度穩定模塊，具有內置可調衰減器和雙波長響應傳感元件，AutoBlock背景參考快門、背景消除，對齊不敏感的4mm光束輸入端口。
WaveMate經過13個波長點的校準，保證了對波長響應的精度。
非脈沖測量應用中，可以使用低成本的CW-only型。CW-only型號引入固定衰減器設計。兩個固定衰減器，一個衰減比約為1：10，另一個為1：100。下面列舉了有關WaveMate 表頭的所有的圖紙和文獻，可以看出在WaveMate-P（連續或者脈沖）可以采用可調衰減器配置。
WaveMate帶有RS-232串口，電纜和接口軟件包，還提供標準的1/4-20，6mm的螺孔。